- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 21/95 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
Détention brevets de la classe G01N 21/95
Brevets de cette classe: 4128
Historique des publications depuis 10 ans
|
299
|
280
|
328
|
332
|
367
|
389
|
363
|
320
|
335
|
351
|
| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| KLA-Tencor Corporation | 2539 |
412 |
| KLA Corporation | 1649 |
319 |
| ASML Netherlands B.V. | 7558 |
171 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5445 |
135 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 148765 |
133 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 45590 |
101 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 618 |
70 |
| Tokyo Electron Limited | 13083 |
61 |
| Applied Materials, Inc. | 19173 |
59 |
| Nova Ltd. | 173 |
45 |
| Onto Innovation Inc. | 374 |
39 |
| Unity Semiconductor | 64 |
36 |
| The Boeing Company | 20151 |
31 |
| Samsung Display Co., Ltd. | 36065 |
30 |
| Camtek Ltd. | 97 |
29 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4478 |
27 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3070 |
23 |
| NuFlare Technology, Inc. | 879 |
23 |
| Omni Medsci, Inc. | 37 |
23 |
| Screen Holdings Co., Ltd. | 2921 |
23 |
| Autres propriétaires | 2338 |