- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2251 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’électrons incidents, p. ex. la microscopie électronique à balayage [SEM]
Détention brevets de la classe G01N 23/2251
Brevets de cette classe: 729
Historique des publications depuis 10 ans
7
|
19
|
37
|
62
|
73
|
103
|
95
|
108
|
125
|
60
|
2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
---|---|---|
Hitachi High-Tech Corporation | 5351 |
95 |
ASML Netherlands B.V. | 7418 |
72 |
NuFlare Technology, Inc. | 848 |
35 |
KLA Corporation | 1591 |
33 |
Applied Materials Israel, Ltd. | 614 |
24 |
FEI Company | 949 |
21 |
Samsung Electronics Co., Ltd. | 147131 |
19 |
Applied Materials, Inc. | 18792 |
18 |
KLA-Tencor Corporation | 2544 |
17 |
Carl Zeiss SMT GmbH | 3011 |
14 |
Saudi Arabian Oil Company | 13295 |
11 |
TASMIT, Inc. | 65 |
9 |
Techinsights Inc. | 94 |
8 |
Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1209 |
7 |
JFE Steel Corporation | 6874 |
6 |
National Institute for Materials Science | 1105 |
6 |
LG Chem, Ltd. | 17636 |
5 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 43064 |
5 |
Nikon Corporation | 7200 |
5 |
Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 155 |
5 |
Autres propriétaires | 314 |