- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/225 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques
Détention brevets de la classe G01N 23/225
Brevets de cette classe: 689
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1995 |
124 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5508 |
57 |
| FEI Company | 1003 |
44 |
| KLA-Tencor Corporation | 2528 |
23 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 622 |
14 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 285 |
13 |
| ASML Netherlands B.V. | 7615 |
12 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1239 |
12 |
| Shimadzu Corporation | 6252 |
11 |
| Hitachi, Ltd. | 15745 |
10 |
| Applied Materials, Inc. | 19391 |
10 |
| HORIBA, Ltd. | 835 |
10 |
| Ebara Corporation | 2243 |
9 |
| JFE Steel Corporation | 7111 |
9 |
| Advantest Corporation | 1751 |
8 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 149838 |
6 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3117 |
6 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 123 |
6 |
| KLA Corporation | 1692 |
6 |
| The Regents of the University of California | 20315 |
5 |
| Autres propriétaires | 294 |