- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/31 - Tubes à faisceau électronique ou ionique destinés aux traitements localisés d'objets pour couper ou perforer
Détention brevets de la classe H01J 37/31
Brevets de cette classe: 114
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| FEI Company | 990 |
13 |
| NuFlare Technology, Inc. | 883 |
8 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5468 |
7 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 282 |
5 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 46161 |
4 |
| ASML Netherlands B.V. | 7585 |
4 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1226 |
4 |
| Gatan, Inc. | 111 |
4 |
| JEOL Ltd. | 602 |
4 |
| Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | 1226 |
3 |
| Tel Manufacturing and Engineering of America, Inc. | 138 |
3 |
| Shanghai Huali Integrated Circuit Corporation | 202 |
3 |
| Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | 4024 |
2 |
| Applied Materials, Inc. | 19248 |
2 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 619 |
2 |
| Board of Regents, The University of Texas System | 5938 |
2 |
| Tsinghua University | 6020 |
2 |
| Axcelis Technologies, Inc. | 425 |
2 |
| E.A. Fischione Instruments, Inc. | 14 |
2 |
| NexGen Semi Holding, Inc. | 22 |
2 |
| Autres propriétaires | 36 |