- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/28 - Microscopes électroniques ou ioniquesTubes à diffraction d'électrons ou d'ions avec faisceaux de balayage
Détention brevets de la classe H01J 37/28
Brevets de cette classe: 3073
Historique des publications depuis 10 ans
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242
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165
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| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5310 |
593 |
| ASML Netherlands B.V. | 7385 |
392 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 2004 |
251 |
| FEI Company | 943 |
231 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 613 |
108 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1203 |
105 |
| JEOL Ltd. | 580 |
95 |
| KLA-Tencor Corporation | 2544 |
84 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 134 |
83 |
| KLA Corporation | 1549 |
72 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2978 |
54 |
| NuFlare Technology, Inc. | 842 |
46 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 159 |
45 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 290 |
44 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 124 |
35 |
| Hitachi, Ltd. | 15484 |
31 |
| Applied Materials, Inc. | 18621 |
29 |
| Fractilia, LLC | 27 |
24 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 146092 |
22 |
| Technische Universiteit Delft | 723 |
19 |
| Autres propriétaires | 710 |