- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/153 - Dispositions électronoptiques ou ionoptiques pour la correction de défauts d'images, p. ex. stigmateurs
Détention brevets de la classe H01J 37/153
Brevets de cette classe: 495
Historique des publications depuis 10 ans
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| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5302 |
80 |
| ASML Netherlands B.V. | 7381 |
71 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 2004 |
52 |
| FEI Company | 943 |
33 |
| JEOL Ltd. | 579 |
31 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 158 |
29 |
| NuFlare Technology, Inc. | 841 |
29 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 134 |
22 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1203 |
11 |
| KLA Corporation | 1543 |
11 |
| KLA-Tencor Corporation | 2544 |
10 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 614 |
6 |
| Technische Universiteit Delft | 724 |
6 |
| Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | 1231 |
5 |
| CEOS Corrected Electron Optical Systems GmbH | 12 |
5 |
| Kioxia Corporation | 10289 |
5 |
| International Business Machines Corporation | 61210 |
4 |
| Intelligent Virus Imaging Inc. | 38 |
4 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 42636 |
3 |
| Axcelis Technologies, Inc. | 408 |
3 |
| Autres propriétaires | 75 |