- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/00 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou
Détention brevets de la classe G01N 23/00
Brevets de cette classe: 1492
Historique des publications depuis 10 ans
|
89
|
104
|
59
|
65
|
54
|
63
|
34
|
46
|
31
|
21
|
| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5411 |
101 |
| FEI Company | 965 |
49 |
| Nuctech Company Limited | 1426 |
45 |
| Tsinghua University | 5973 |
30 |
| ASML Netherlands B.V. | 7493 |
21 |
| The Boeing Company | 20139 |
19 |
| The Regents of the University of California | 20153 |
15 |
| KLA-Tencor Corporation | 2543 |
15 |
| Troxler Electronic Laboratories, Inc. | 75 |
15 |
| GE Precision Healthcare LLC | 5512 |
15 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 124 |
14 |
| General Electric Company | 13856 |
11 |
| Toshiba Medical Systems Corporation | 2116 |
11 |
| Siemens Healthineers AG | 6775 |
11 |
| Halliburton Energy Services, Inc. | 20991 |
10 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 616 |
10 |
| JEOL Ltd. | 597 |
10 |
| Shimadzu Corporation | 6202 |
9 |
| Ebara Corporation | 2201 |
9 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1223 |
9 |
| Autres propriétaires | 1063 |