- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 70/04 - Supports de sondes à compensation des erreurs induites par la température ou les vibrations
Détention brevets de la classe G01Q 70/04
Brevets de cette classe: 30
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2411 |
5 |
| Bruker Nano, Inc. | 358 |
4 |
| Bruker Nano GmbH | 67 |
2 |
| National University Corporation Kanazawa University | 250 |
2 |
| The Penn State Research Foundation | 1585 |
2 |
| Nearfield Instruments B.V. | 57 |
2 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10853 |
1 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3206 |
1 |
| Danmarks Tekniske Universitet | 1011 |
1 |
| European Synchrotron Radiation Facility | 8 |
1 |
| Infinitesima Limited | 69 |
1 |
| Institut National Polytechnique de Grenoble | 24 |
1 |
| KLA-Tencor Corporation | 2524 |
1 |
| Oxford Instruments Asylum Research Corporation | 1 |
1 |
| Technische Universiteit Delft | 758 |
1 |
| Universite Joseph Fourier | 141 |
1 |
| Universiteit leiden | 202 |
1 |
| Unisoku Co., Ltd. | 5 |
1 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 287 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |