- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 70/02 - Supports de sondes
Détention brevets de la classe G01Q 70/02
Brevets de cette classe: 67
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2378 |
16 |
| Shimadzu Corporation | 6179 |
3 |
| Anton Paar GmbH | 185 |
3 |
| Bruker Nano, Inc. | 340 |
3 |
| Infinitesima Limited | 68 |
3 |
| Park Systems Corp. | 34 |
3 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2999 |
2 |
| Eth Zurich | 1282 |
2 |
| Vmicro | 10 |
2 |
| Nearfield Instruments B.V. | 51 |
2 |
| Schlumberger Technology Corporation | 10780 |
1 |
| International Business Machines Corporation | 61305 |
1 |
| Tsinghua University | 5940 |
1 |
| Boe Technology Group Co., Ltd. | 41291 |
1 |
| Beijing BOE Optoelectronics Technology Co., Ltd. | 3888 |
1 |
| CAMECA Instruments, Inc. | 19 |
1 |
| Cytosurge AG | 19 |
1 |
| Edan Instruments, Inc. | 168 |
1 |
| Hysitron, Inc. | 35 |
1 |
| Japan Advanced Institute of Science and Technology | 127 |
1 |
| Autres propriétaires | 18 |