- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 70/00 - Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe
Détention brevets de la classe G01Q 70/00
Brevets de cette classe: 34
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Nearfield Instruments B.V. | 57 |
7 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3206 |
2 |
| Bruker Nano, Inc. | 358 |
2 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2411 |
2 |
| RHK Technology, Inc. | 15 |
2 |
| Hitachi, Ltd. | 15877 |
1 |
| Shimadzu Corporation | 6301 |
1 |
| Centro de Investigación Cooperativa en Biomateriales (CIC biomaGUNE) | 3 |
1 |
| Cornell University | 3380 |
1 |
| Infinitesima Limited | 69 |
1 |
| Institut National de La Recherche Agronomique (inra) | 159 |
1 |
| Lehigh University | 171 |
1 |
| NanoWorld AG | 21 |
1 |
| National University Corporation Kanazawa University | 250 |
1 |
| Quantum Design International, Inc. | 30 |
1 |
| Southwest Jiaotong University | 185 |
1 |
| Universidad de Barcelona | 102 |
1 |
| Universidade Federal de Minas Gerais - Ufmg | 195 |
1 |
| Veeco Instruments Inc. | 332 |
1 |
| Xi'an Jiaotong University | 702 |
1 |
| Autres propriétaires | 4 |