- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 10/06 - Circuits ou algorithmes à cet effet
Détention brevets de la classe G01Q 10/06
Brevets de cette classe: 254
Historique des publications depuis 10 ans
|
21
|
25
|
23
|
18
|
16
|
14
|
15
|
17
|
11
|
10
|
| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Bruker Nano, Inc. | 347 |
39 |
| Infinitesima Limited | 68 |
28 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2383 |
15 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3026 |
13 |
| Shimadzu Corporation | 6193 |
11 |
| Nearfield Instruments B.V. | 52 |
8 |
| National University Corporation Kanazawa University | 243 |
5 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 31 |
4 |
| Universitat Basel | 299 |
4 |
| Ohba, Yusuke | 7 |
4 |
| Massachusetts Institute of Technology | 10115 |
3 |
| Anton Paar GmbH | 184 |
3 |
| Cornell University | 3339 |
3 |
| IMEC VZW | 1666 |
3 |
| Imperial Innovations Limited | 586 |
3 |
| JPK Instruments AG | 19 |
3 |
| SensApex Oy | 14 |
3 |
| Universite Joseph Fourier | 148 |
3 |
| UT-Battelle, LLC | 1468 |
3 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10564 |
2 |
| Autres propriétaires | 94 |