STMicroelectronics, Inc.

États‑Unis d’Amérique

Retour au propriétaire

1-100 de 300 pour STMicroelectronics, Inc. Trier par
Recheche Texte
Affiner par
Juridiction
        États-Unis 287
        International 13
Date
Nouveautés (dernières 4 semaines) 2
2025 juin (MACJ) 2
2025 mai 2
2025 avril 1
2025 (AACJ) 5
Voir plus
Classe IPC
H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs 65
H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée 54
H01L 21/8238 - Transistors à effet de champ complémentaires, p.ex. CMOS 47
H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide 35
H01L 23/495 - Cadres conducteurs 34
Voir plus
Statut
En Instance 32
Enregistré / En vigueur 268
Résultats pour  brevets
  1     2     3     4        Prochaine page

1.

LEAD STABILIZATION IN SEMICONDUCTOR PACKAGES

      
Numéro d'application 19000420
Statut En instance
Date de dépôt 2024-12-23
Date de la première publication 2025-06-05
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Cadag, Ela Mia
  • Gomez, Frederick Ray
  • Cadag, Aaron

Abrégé

Generally described, one or more embodiments are directed to semiconductor packages comprising a plurality of leads and methods of forming same. The plurality of leads include active leads that are electrically coupled to bond pads of a semiconductor die and thereby coupled to active components of the semiconductor die, and inactive leads that are not electrically coupled to bond pads of the semiconductor die. The active leads have surfaces that are exposed at a lower surface of the semiconductor package and forms lands, while the inactive leads are not exposed at the lower surface of the package.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

2.

LEAD STABILIZATION IN SEMICONDUCTOR PACKAGES

      
Numéro d'application 19000426
Statut En instance
Date de dépôt 2024-12-23
Date de la première publication 2025-06-05
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Cadag, Ela Mia
  • Gomez, Frederick Ray
  • Cadag, Aaron

Abrégé

Generally described, one or more embodiments are directed to semiconductor packages comprising a plurality of leads and methods of forming same. The plurality of leads include active leads that are electrically coupled to bond pads of a semiconductor die and thereby coupled to active components of the semiconductor die, and inactive leads that are not electrically coupled to bond pads of the semiconductor die. The active leads have surfaces that are exposed at a lower surface of the semiconductor package and forms lands, while the inactive leads are not exposed at the lower surface of the package.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

3.

HIGH DOSE IMPLANTATION FOR ULTRATHIN SEMICONDUCTOR-ON-INSULATOR SUBSTRATES

      
Numéro d'application 19030171
Statut En instance
Date de dépôt 2025-01-17
Date de la première publication 2025-05-22
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Gimbert, Jocelyne

Abrégé

Methods and structures for forming highly-doped, ultrathin layers for transistors formed in semiconductor-on-insulator substrates are described. High dopant concentrations may be achieved in ultrathin semiconductor layers to improve device characteristics. Ion implantation at elevated temperatures may mitigate defect formation for stoichiometric dopant concentrations up to about 30%. In-plane stressors may be formed adjacent to channels of transistors formed in ultrathin semiconductor layers.

Classes IPC  ?

  • H10D 30/69 - Transistors IGFET ayant des isolateurs de grille à piégeage de charges, p. ex. transistors MNOS
  • H01L 21/265 - Bombardement par des radiations ondulatoires ou corpusculaires par des radiations d'énergie élevée produisant une implantation d'ions
  • H01L 21/324 - Traitement thermique pour modifier les propriétés des corps semi-conducteurs, p. ex. recuit, frittage
  • H01L 21/70 - Fabrication ou traitement de dispositifs consistant en une pluralité de composants à l'état solide ou de circuits intégrés formés dans ou sur un substrat commun, ou de parties constitutives spécifiques de ceux-ciFabrication de dispositifs à circuit intégré ou de parties constitutives spécifiques de ceux-ci
  • H10D 30/01 - Fabrication ou traitement
  • H10D 62/822 - Hétérojonctions comprenant uniquement des hétérojonctions de matériaux du groupe IV, p. ex. des hétérojonctions Si/Ge
  • H10D 62/832 - Corps semi-conducteurs, ou régions de ceux-ci, de dispositifs ayant des barrières de potentiel caractérisés par les matériaux étant des matériaux du groupe IV, p. ex. Si dopé B ou Ge non dopé étant des matériaux du groupe IV comprenant deux éléments ou plus, p. ex. SiGe
  • H10D 84/01 - Fabrication ou traitement
  • H10D 84/03 - Fabrication ou traitement caractérisés par l'utilisation de technologies basées sur les matériaux utilisant une technologie du groupe IV, p. ex. technologie au silicium ou au carbure de silicium [SiC]
  • H10D 86/00 - Dispositifs intégrés formés dans ou sur des substrats isolants ou conducteurs, p. ex. formés dans des substrats de silicium sur isolant [SOI] ou sur des substrats en acier inoxydable ou en verre
  • H10D 86/01 - Fabrication ou traitement

4.

INTEGRATED CIRCUIT DEVICES AND FABRICATION TECHNIQUES

      
Numéro d'application 18983040
Statut En instance
Date de dépôt 2024-12-16
Date de la première publication 2025-05-08
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s) Zhang, John H.

Abrégé

Single gate and dual gate FinFET devices suitable for use in an SRAM memory array have respective fins, source regions, and drain regions that are formed from portions of a single, contiguous layer on the semiconductor substrate, so that STI is unnecessary. Pairs of FinFETs can be configured as dependent-gate devices wherein adjacent channels are controlled by a common gate, or as independent-gate devices wherein one channel is controlled by two gates. Metal interconnects coupling a plurality of the FinFET devices are made of a same material as the gate electrodes. Such structural and material commonalities help to reduce costs of manufacturing high-density memory arrays.

Classes IPC  ?

  • H10D 86/00 - Dispositifs intégrés formés dans ou sur des substrats isolants ou conducteurs, p. ex. formés dans des substrats de silicium sur isolant [SOI] ou sur des substrats en acier inoxydable ou en verre
  • H01L 21/266 - Bombardement par des radiations ondulatoires ou corpusculaires par des radiations d'énergie élevée produisant une implantation d'ions en utilisant des masques
  • H01L 23/528 - Configuration de la structure d'interconnexion
  • H10B 10/00 - Mémoires statiques à accès aléatoire [SRAM]
  • H10B 20/00 - Dispositifs de mémoire morte [ROM]
  • H10D 30/01 - Fabrication ou traitement
  • H10D 30/60 - Transistors à effet de champ à grille isolée [IGFET]
  • H10D 30/63 - Transistors IGFET verticaux
  • H10D 30/69 - Transistors IGFET ayant des isolateurs de grille à piégeage de charges, p. ex. transistors MNOS
  • H10D 62/10 - Formes, dimensions relatives ou dispositions des régions des corps semi-conducteursFormes des corps semi-conducteurs
  • H10D 62/832 - Corps semi-conducteurs, ou régions de ceux-ci, de dispositifs ayant des barrières de potentiel caractérisés par les matériaux étant des matériaux du groupe IV, p. ex. Si dopé B ou Ge non dopé étant des matériaux du groupe IV comprenant deux éléments ou plus, p. ex. SiGe
  • H10D 84/01 - Fabrication ou traitement
  • H10D 84/03 - Fabrication ou traitement caractérisés par l'utilisation de technologies basées sur les matériaux utilisant une technologie du groupe IV, p. ex. technologie au silicium ou au carbure de silicium [SiC]
  • H10D 84/85 - Transistors IGFET complémentaires, p. ex. CMOS
  • H10D 86/01 - Fabrication ou traitement

5.

STRAINED-CHANNEL FIN FETS

      
Numéro d'application 19000478
Statut En instance
Date de dépôt 2024-12-23
Date de la première publication 2025-04-17
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Loubet, Nicolas
  • Morin, Pierre

Abrégé

Methods and structures for forming strained-channel finFETs are described. Fin structures for finFETs may be formed in two epitaxial layers that are grown over a bulk substrate. A first thin epitaxial layer may be cut and used to impart strain to an adjacent channel region of the finFET via elastic relaxation. The structures exhibit a preferred design range for increasing induced strain and uniformity of the strain over the fin height.

Classes IPC  ?

  • H10D 30/69 - Transistors IGFET ayant des isolateurs de grille à piégeage de charges, p. ex. transistors MNOS
  • H10D 30/01 - Fabrication ou traitement
  • H10D 30/62 - Transistors à effet de champ à ailettes [FinFET]
  • H10D 62/815 - Corps semi-conducteurs, ou régions de ceux-ci, de dispositifs ayant des barrières de potentiel caractérisés par les matériaux de structures présentant des effets de confinement quantique, p. ex. des puits quantiques uniquesCorps semi-conducteurs, ou régions de ceux-ci, de dispositifs ayant des barrières de potentiel caractérisés par les matériaux de structures présentant une variation de potentiel périodique ou quasi-périodique de structures présentant une variation périodique ou quasi-périodique de potentiel, p. ex. super-réseaux ou puits quantiques multiples [MQW]
  • H10D 62/822 - Hétérojonctions comprenant uniquement des hétérojonctions de matériaux du groupe IV, p. ex. des hétérojonctions Si/Ge
  • H10D 62/83 - Corps semi-conducteurs, ou régions de ceux-ci, de dispositifs ayant des barrières de potentiel caractérisés par les matériaux étant des matériaux du groupe IV, p. ex. Si dopé B ou Ge non dopé
  • H10D 62/832 - Corps semi-conducteurs, ou régions de ceux-ci, de dispositifs ayant des barrières de potentiel caractérisés par les matériaux étant des matériaux du groupe IV, p. ex. Si dopé B ou Ge non dopé étant des matériaux du groupe IV comprenant deux éléments ou plus, p. ex. SiGe

6.

MULTIPLE THRESHOLD CHECKERS FOR SPECIFIC APPLICATIONS AND FFT BASED BREATHING DETECTION FOR PRESENCE

      
Numéro d'application 18638354
Statut En instance
Date de dépôt 2024-04-17
Date de la première publication 2024-10-17
Propriétaire
  • STMicroelectronics (Grenoble 2) SAS (France)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Lemarchand, Olivier
  • Felter, Pierre-Loic
  • Winterton, Darin K.
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar

Abrégé

In accordance with embodiments, methods and systems for utilizing multiple threshold checkers are provided. A range sensor collects measurement data. The range sensor examines the measurement data based on multiple threshold checkers to determine satisfaction of a trigger condition. In response to the satisfaction of the trigger condition, the range sensor provides the measurement data to a host computing device of the range sensor.

Classes IPC  ?

  • G06F 1/3231 - Surveillance de la présence, de l’absence ou du mouvement des utilisateurs
  • G01S 7/41 - Détails des systèmes correspondant aux groupes , , de systèmes selon le groupe utilisant l'analyse du signal d'écho pour la caractérisation de la cibleSignature de cibleSurface équivalente de cible
  • G01S 13/56 - Discrimination entre objets fixes et mobiles ou entre objets se déplaçant à différentes vitesses pour la détection de présence

7.

DEVICE, SYSTEM AND METHOD FOR SYNCHRONIZING OF DATA FROM MULTIPLE SENSORS

      
Numéro d'application 18617533
Statut En instance
Date de dépôt 2024-03-26
Date de la première publication 2024-07-18
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Sayed, Karimuddin
  • Pabla, Chandandeep Singh
  • Bracco, Lorenzo
  • Rizzardini, Federico

Abrégé

In an embodiment, a device comprises a memory, which, in operation, stores data samples associated with a plurality of data sensors, and circuitry, coupled to the memory, wherein the circuitry, in operation, generates synchronized output data sets associated with the plurality of data sensors. Generating a synchronized output data set includes: determining a reference sample associated with a sensor of the plurality of sensors; verifying a timing validity of a data sample associated with another sensor of the plurality of sensors; identifying a closest-in-time data sample associated with the another sensor of the plurality of sensors with respect to the reference sample; and generating the synchronized output data set based on interpolation.

Classes IPC  ?

  • H04W 4/38 - Services spécialement adaptés à des environnements, à des situations ou à des fins spécifiques pour la collecte d’informations de capteurs
  • G01D 5/244 - Moyens mécaniques pour le transfert de la grandeur de sortie d'un organe sensibleMoyens pour convertir la grandeur de sortie d'un organe sensible en une autre variable, lorsque la forme ou la nature de l'organe sensible n'imposent pas un moyen de conversion déterminéTransducteurs non spécialement adaptés à une variable particulière utilisant des moyens électriques ou magnétiques influençant les caractéristiques d'impulsionsMoyens mécaniques pour le transfert de la grandeur de sortie d'un organe sensibleMoyens pour convertir la grandeur de sortie d'un organe sensible en une autre variable, lorsque la forme ou la nature de l'organe sensible n'imposent pas un moyen de conversion déterminéTransducteurs non spécialement adaptés à une variable particulière utilisant des moyens électriques ou magnétiques produisant des impulsions ou des trains d'impulsions
  • G01D 9/00 - Enregistrement de valeurs mesurées
  • H04W 4/70 - Services pour la communication de machine à machine ou la communication de type machine

8.

CUFFLESS BLOOD PRESSURE MONITOR WITH MULTIPLE INERTIAL MEASUREMENT UNITS

      
Numéro d'application 18063021
Statut En instance
Date de dépôt 2022-12-07
Date de la première publication 2024-06-13
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMicroelectronics International N.V. (Suisse)
Inventeur(s)
  • Chowdhary, Mahesh
  • Kumar, Vijay
  • Paul, Kolin

Abrégé

A blood pressure monitoring device includes a patch including two inertial measurement units placed adjacent to the skin of a user. The blood pressure monitoring device includes a control unit coupled to the patch and configured to receive sensor data from the inertial measurement units. The control unit includes an analysis model trained with multiple machine learning processes to generate blood pressure estimations based on the sensor data. A first general machine learning process trains the analysis model with a training set gathered from plurality of other individuals. The second general machine learning process retrains a portion of the analysis model with a second machine learning process utilizing individualized training set gathered from the user.

Classes IPC  ?

  • A61B 5/021 - Mesure de la pression dans le cœur ou dans les vaisseaux sanguins
  • A61B 5/00 - Mesure servant à établir un diagnostic Identification des individus
  • A61B 5/026 - Mesure du débit sanguin
  • A61B 5/11 - Mesure du mouvement du corps entier ou de parties de celui-ci, p. ex. tremblement de la tête ou des mains ou mobilité d'un membre

9.

Sensor unit with on-device unsupervised learning and classification

      
Numéro d'application 18063584
Numéro de brevet 12242663
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-12-08
Date de la première publication 2024-06-13
Date d'octroi 2025-03-04
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Saha, Swapnil Sayan
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

An electronic device includes a sensor unit. The sensor unit includes a sensor and low power, low area sensor processing unit. The sensor processing unit performs an unsupervised machine learning processes to learn to recognize an activity or motion of the user or device. The user can request to learn the new activity. The sensor processing unit can request that the user remain stationary for a selected period of time before performing the activity. The sensor processing unit records sensor data while the user performs the activity and generates an activity template from the sensor data. The sensor processing can then infer when the user is performing the activity by comparing sensor signals to the activity template.

Classes IPC  ?

  • G06F 3/01 - Dispositions d'entrée ou dispositions d'entrée et de sortie combinées pour l'interaction entre l'utilisateur et le calculateur
  • G06F 1/16 - Détails ou dispositions de structure
  • G06F 3/0346 - Dispositifs de pointage déplacés ou positionnés par l'utilisateurLeurs accessoires avec détection de l’orientation ou du mouvement libre du dispositif dans un espace en trois dimensions [3D], p. ex. souris 3D, dispositifs de pointage à six degrés de liberté [6-DOF] utilisant des capteurs gyroscopiques, accéléromètres ou d’inclinaison

10.

Method for manufacturing leadless semiconductor package with wettable flanks

      
Numéro d'application 18435915
Numéro de brevet 12255076
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-02-07
Date de la première publication 2024-05-30
Date d'octroi 2025-03-18
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Arellano, Ian Harvey
  • Cadag, Aaron
  • Cadag, Ela Mia

Abrégé

The present disclosure is directed to leadless semiconductor packages with improved wettable flanks that encourage the formation of solder fillets when the leadless semiconductor package is mounted to a substrate. The solder fillets are consistently formed and are easily detectable by inspection systems, such as automated optical inspection (AOI) systems.

Classes IPC  ?

  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements

11.

Semiconductor device having cavities at an interface of an encapsulant and a die pad or leads

      
Numéro d'application 18531561
Numéro de brevet 12224251
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-12-06
Date de la première publication 2024-05-16
Date d'octroi 2025-02-11
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Arellano, Ian Harvey

Abrégé

In various embodiments, the present disclosure provides semiconductor devices, packages, and methods. In one embodiment, a device includes a die pad, a lead that is spaced apart from the die pad, and an encapsulant on the die pad and the lead. A plurality of cavities extends into at least one of the die pad or the lead to a depth from a surface of the at least one of the die pad or the lead. The depth is within a range from 0.5 μm to 5 μm. The encapsulant extends into the plurality of cavities. The cavities facilitate improved adhesion between the die pad or lead and the encapsulant, as the cavities increase a surface area of contact with the encapsulant, and further increase a mechanical interlock with the encapsulant, as the cavities may have a rounded or semi-spherical shape.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

12.

Integrated circuit devices and fabrication techniques

      
Numéro d'application 18326841
Numéro de brevet 12211853
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-05-31
Date de la première publication 2024-05-02
Date d'octroi 2025-01-28
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Zhang, John H.

Abrégé

Single gate and dual gate FinFET devices suitable for use in an SRAM memory array have respective fins, source regions, and drain regions that are formed from portions of a single, contiguous layer on the semiconductor substrate, so that STI is unnecessary. Pairs of FinFETs can be configured as dependent-gate devices wherein adjacent channels are controlled by a common gate, or as independent-gate devices wherein one channel is controlled by two gates. Metal interconnects coupling a plurality of the FinFET devices are made of a same material as the gate electrodes. Such structural and material commonalities help to reduce costs of manufacturing high-density memory arrays.

Classes IPC  ?

  • H01L 27/12 - Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun comprenant des éléments de circuit passif intégrés avec au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface le substrat étant autre qu'un corps semi-conducteur, p.ex. un corps isolant
  • H01L 21/266 - Bombardement par des radiations ondulatoires ou corpusculaires par des radiations d'énergie élevée produisant une implantation d'ions en utilisant des masques
  • H01L 21/8238 - Transistors à effet de champ complémentaires, p.ex. CMOS
  • H01L 21/84 - Fabrication ou traitement de dispositifs consistant en une pluralité de composants à l'état solide ou de circuits intégrés formés dans ou sur un substrat commun avec une division ultérieure du substrat en plusieurs dispositifs individuels pour produire des dispositifs, p.ex. des circuits intégrés, consistant chacun en une pluralité de composants le substrat étant autre chose qu'un corps semi-conducteur, p.ex. étant un corps isolant
  • H01L 23/528 - Configuration de la structure d'interconnexion
  • H01L 27/092 - Transistors à effet de champ métal-isolant-semi-conducteur complémentaires
  • H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
  • H01L 29/161 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en
  • H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
  • H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
  • H10B 10/00 - Mémoires statiques à accès aléatoire [SRAM]
  • H10B 20/00 - Dispositifs de mémoire morte [ROM]

13.

CAPLESS SEMICONDUCTOR PACKAGE WITH A MICRO-ELECTROMECHANICAL SYSTEM (MEMS)

      
Numéro d'application 18397930
Statut En instance
Date de dépôt 2023-12-27
Date de la première publication 2024-04-18
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

A semiconductor package that contains an application-specific integrated circuit (ASIC) die and a micro-electromechanical system (MEMS) die. The MEMS die and the ASIC die are coupled to a substrate that includes an opening that extends through the substrate and is in fluid communication with an air cavity positioned between and separating the MEMS die from the substrate. The opening exposes the air cavity to an external environment and, following this, the air cavity exposes a MEMS element of the MEMS die to the external environment. The air cavity separating the MEMS die from the substrate is formed with a method of manufacturing that utilizes a thermally decomposable die attach material.

Classes IPC  ?

  • B81C 1/00 - Fabrication ou traitement de dispositifs ou de systèmes dans ou sur un substrat
  • B81B 7/00 - Systèmes à microstructure

14.

POWER LEADFRAME PACKAGE WITH REDUCED SOLDER VOIDS

      
Numéro d'application 18233092
Statut En instance
Date de dépôt 2023-08-11
Date de la première publication 2024-04-04
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

An electronic device includes an integrated circuit (IC) with its second face bonded to a first surface of a first support. A conductive clip has a first portion that is elongate and extends across the IC, having its second surface bonded to a first face of the IC by a solder layer. A second portion of the clip extends from the first portion away from the IC toward a second support with the second surface bonded to a first surface of the second support. A first surface of the clip has a pattern formed therein including a depressed floor with fins extending upwardly therefrom. Through-holes extend through the depressed floor to the second surface of the clip. An encapsulating layer covers portions of the first and second supports, IC, and clip while leaving the first surface of the first portion exposed to permit heat to radiate away therefrom.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/367 - Refroidissement facilité par la forme du dispositif
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs

15.

METHODS AND DEVICES FOR FAST FOURIER TRANSFORMS

      
Numéro d'application 18505770
Statut En instance
Date de dépôt 2023-11-09
Date de la première publication 2024-03-07
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s) Vitali, Andrea Lorenzo

Abrégé

A method of operating a microcontroller to perform a Fast Fourier Transform, the method including receiving, by the microcontroller, N samples from a signal; and performing, by the microcontroller, a first butterfly operation of the Fast Fourier Transform before all of the N samples have been received from the signal, based on the performing of the first butterfly operation, the microcontroller performs the Fast Fourier Transform at a higher performance to power efficiency than a Fast Fourier Transform operation that begins after all of the N samples are received.

Classes IPC  ?

  • G06F 17/14 - Transformations de Fourier, de Walsh ou transformations d'espace analogues

16.

METHOD FOR MOTION ESTIMATION IN A VEHICLE, CORRESPONDING DEVICE AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT

      
Numéro d'application 18496124
Statut En instance
Date de dépôt 2023-10-27
Date de la première publication 2024-02-29
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMicroelectronics (Grand Ouest) SAS (France)
Inventeur(s)
  • Palella, Nicola Matteo
  • Colombo, Leonardo
  • Donadel, Andrea
  • Mura, Roberto
  • Jain, Mahaveer
  • Philippe, Joelle

Abrégé

A system includes inertial sensors and a GPS. The system generates a first estimated vehicle velocity based on motion data and positioning data, generates a second estimated vehicle velocity based on the processed motion data and the first estimated vehicle velocity, and generates fused datasets indicative of position, velocity and attitude of a vehicle based on the processed motion data, the positioning data and the second estimated vehicle velocity. The generating the second estimated vehicle velocity includes: filtering the motion data, transforming the filtered motion data in a frequency domain based on the first estimated vehicle velocity, generating spectral power density signals, generating an estimated wheel angular frequency and an estimated wheel size based on the spectral power density signals, and generating the second estimated vehicle velocity as a function of the estimated wheel angular frequency and the estimated wheel size.

Classes IPC  ?

  • B60W 40/101 - Angle de dérapage latéral du pneu
  • B60W 40/11 - Mouvement de tangage
  • B60W 40/112 - Mouvement de roulis
  • B60W 40/114 - Mouvement de lacet
  • G01S 19/47 - Détermination de position en combinant les mesures des signaux provenant du système de positionnement satellitaire à radiophares avec une mesure supplémentaire la mesure supplémentaire étant une mesure inertielle, p. ex. en hybridation serrée

17.

SYSTEM AND METHOD FOR FAST MAGNETOMETER CALIBRATION USING GYROSCOPE

      
Numéro d'application 18488750
Statut En instance
Date de dépôt 2023-10-17
Date de la première publication 2024-02-08
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

An electronic device includes a magnetometer that outputs magnetometer sensor signals and a gyroscope that outputs gyroscope sensor signals. The electronic device includes a magnetometer calibration module that calibrates the magnetometer utilizing the gyroscope sensor signals. The electronic device generates a first magnetometer calibration parameter based on a Kalman filter process. The electronic device generates a second magnetometer calibration parameter based on a least squares estimation process.

Classes IPC  ?

  • G01R 33/00 - Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
  • G01C 25/00 - Fabrication, étalonnage, nettoyage ou réparation des instruments ou des dispositifs mentionnés dans les autres groupes de la présente sous-classe

18.

TIME OF FLIGHT SENSING

      
Numéro d'application 17876341
Statut En instance
Date de dépôt 2022-07-28
Date de la première publication 2024-02-01
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Varillon, Paul
  • Kandappan Singaravadivelu, Sivakumar

Abrégé

An embodiment method for operating a device includes determining, based on data collected by a first sensor, first information between the first sensor and an object; determining, based on data collected by a second sensor, second information between the second sensor and the object; and determining a distance between the device and the object based on comparing the first information and the second information.

Classes IPC  ?

  • G01S 17/894 - Imagerie 3D avec mesure simultanée du temps de vol sur une matrice 2D de pixels récepteurs, p. ex. caméras à temps de vol ou lidar flash
  • G01S 17/46 - Détermination indirecte des données relatives à la position
  • G01S 17/10 - Systèmes déterminant les données relatives à la position d'une cible pour mesurer la distance uniquement utilisant la transmission d'ondes à modulation d'impulsion interrompues
  • G01S 7/4865 - Mesure du temps de retard, p. ex. mesure du temps de vol ou de l'heure d'arrivée ou détermination de la position exacte d'un pic

19.

Methods and devices to identify focal objects

      
Numéro d'application 18470702
Numéro de brevet 12143719
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-09-20
Date de la première publication 2024-01-11
Date d'octroi 2024-11-12
Propriétaire
  • STMicroelectronics France (France)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
  • STMicroelectronics (Research & Development) Limited (Royaume‑Uni)
Inventeur(s)
  • Winterton, Darin K.
  • Baxter, Donald
  • Hodgson, Andrew
  • Lunn, Gordon
  • Pothier, Olivier
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar

Abrégé

A method includes dividing a field of view into a plurality of zones and sampling the field of view to generate a photon count for each zone of the plurality of zones, identifying a focal sector of the field of view and analyzing each zone to select a final focal object from a first prospective focal object and a second prospective focal object.

Classes IPC  ?

  • H04N 23/67 - Commande de la mise au point basée sur les signaux électroniques du capteur d'image
  • H04N 23/61 - Commande des caméras ou des modules de caméras en fonction des objets reconnus

20.

LEADFRAME WITH PAD ANCHORING MEMBERS AND METHOD OF FORMING THE SAME

      
Numéro d'application 18339615
Statut En instance
Date de dépôt 2023-06-22
Date de la première publication 2023-12-28
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

A leadframe having extensions around an outer edge of a die pad are disclosed. More specifically, leadframes are created with a flange formed at the outer edge of the die pad and extending away from the die pad. The flange is bent, such that it is positioned at an angle with respect to the die pad. Leadframes are also created with anchoring posts formed adjacent the outer edge of the die pad and extending away from the die pad. The anchoring posts have a central thickness that is less than a thickness of first and second portions opposite the central portion. When the leadframe is incorporated into a package, molding compound completely surrounds each flange or anchoring post, which increases the bond strength between the leadframe and the molding compound due to increased contact area. The net result is a reduced possibility of delamination at edges of the die pad.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou

21.

THIN SUBSTRATE PACKAGE AND LEAD FRAME

      
Numéro d'application 18330284
Statut En instance
Date de dépôt 2023-06-06
Date de la première publication 2023-12-21
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

The present disclosure is directed to a thin substrate package and a lead frame method of fabricating the semiconductor package. The semiconductor package includes a first lead frame portion and a second lead frame portion. A substrate is positioned in a center opening between the first lead frame portion and the second lead frame portion, the substrate having a thickness less than or equal to 0.10-millimeters (mm). A first die having a plurality of wires is positioned on the substrate by an adhesive. A molding compound covers the first and second lead frame portions, the substrate, and the first die.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

22.

Motion based device wake up

      
Numéro d'application 17806813
Numéro de brevet 12066881
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-06-14
Date de la première publication 2023-12-14
Date d'octroi 2024-08-20
Propriétaire
  • STMICROELETRONICS (BEIJING) R&D CO., LTD. (Chine)
  • STMicroelectronics (Grenoble 2) SAS (France)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Deleule, Arnaud
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar
  • Winterton, Darin K
  • Chen, Jihong
  • Lemarchand, Olivier

Abrégé

A method for operating an electronic device includes while a display is in low power mode, detecting based on data collected by a time of flight (ToF) sensor, a movable object within a field of view of the electronic device; in response to the detecting initiating a period of detection having a plurality of frames, the period of detection being a time period over which a distance value indicative of a distance between the movable object and the display is detected; for each of the plurality of frames, changing the distance value to reflect whether the movable object is moving near or further from the electronic device; detecting that the distance value after the period of detection is less than a threshold distance value indicative of the movable object approaching the display; if the distance value is less than the threshold distance value, waking up the display.

Classes IPC  ?

  • G06F 1/32 - Moyens destinés à économiser de l'énergie
  • G01S 13/08 - Systèmes pour mesurer la distance uniquement
  • G06F 1/3231 - Surveillance de la présence, de l’absence ou du mouvement des utilisateurs
  • G06F 1/3234 - Économie d’énergie caractérisée par l'action entreprise

23.

INERTIAL NAVIGATION SYSTEM CAPABLE OF DEAD RECKONING IN VEHICLES

      
Numéro d'application 18352969
Statut En instance
Date de dépôt 2023-07-14
Date de la première publication 2023-11-09
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh
  • Mura, Roberto
  • Palella, Nicola Matteo
  • Colombo, Leonardo

Abrégé

A device including microelectromechanical systems (MEMS) sensors are used in dead reckoning in conditions where Global Positioning System (GPS) signals or Global Navigation Satellite System (GNSS) signals are lost. The device is capable of tracking the location of the device after the GPS/GNSS signals are lost by using MEMS sensors such as accelerometers and gyroscopes. By calculating a misalignment angle between a forward axis of a sensor frame of the device and a forward axis of a vehicle frame using the data received from the MEMS sensors, the device can accurately calculate the location of a user or the vehicle of the device even without the GPS/GNSS signals. Accordingly, a device capable of tracking the location of the user riding in the vehicle in GPS/GNSS signals absent environment can be provided.

Classes IPC  ?

  • G01C 21/16 - NavigationInstruments de navigation non prévus dans les groupes en utilisant des mesures de la vitesse ou de l'accélération exécutées à bord de l'objet navigantNavigation à l'estime en intégrant l'accélération ou la vitesse, c.-à-d. navigation par inertie
  • G01C 21/20 - Instruments pour effectuer des calculs de navigation
  • G01S 19/49 - Détermination de position en combinant ou en commutant entre les solutions de position dérivées du système de positionnement par satellite à radiophares et les solutions de position dérivées d'un autre système l'autre système étant un système de position inertielle, p. ex. en hybridation lâche

24.

Strained-channel fin FETs

      
Numéro d'application 18146962
Numéro de brevet 12211936
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-12-27
Date de la première publication 2023-11-02
Date d'octroi 2025-01-28
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Loubet, Nicolas
  • Morin, Pierre

Abrégé

Methods and structures for forming strained-channel finFETs are described. Fin structures for finFETs may be formed in two epitaxial layers that are grown over a bulk substrate. A first thin epitaxial layer may be cut and used to impart strain to an adjacent channel region of the finFET via elastic relaxation. The structures exhibit a preferred design range for increasing induced strain and uniformity of the strain over the fin height.

Classes IPC  ?

  • H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
  • H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
  • H01L 29/15 - Structures avec une variation de potentiel périodique ou quasi périodique, p.ex. puits quantiques multiples, superréseaux
  • H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
  • H01L 29/161 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en
  • H01L 29/165 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en dans différentes régions semi-conductrices
  • H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs

25.

Method, device, and system of measuring eye convergence angle

      
Numéro d'application 18339912
Numéro de brevet 12118146
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-06-22
Date de la première publication 2023-10-19
Date d'octroi 2024-10-15
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Barbier, Dominique Paul

Abrégé

An electronic device capable of determining an eye convergence angle using a magnetometer sensor is provided. The magnetometer sensor is capable of reporting angle readings in three dimensions that is aligned with an eye gaze direction of each eye of a user. The magnetometer which is incorporated into the device can fit into a human eye like a contact lens and determine the angle of the gaze direction of both eyes with respect to an object within a field of view. By obtaining this eye convergence angle for an object, it is possible to accurately detect depth information. The electronic device also functions as a digital contact lens that can automatically adjust the focal point of the object to provide the user with a clear vision. The electronic device also includes a display that provides the user with additional information about the object.

Classes IPC  ?

  • G06F 3/01 - Dispositions d'entrée ou dispositions d'entrée et de sortie combinées pour l'interaction entre l'utilisateur et le calculateur
  • G01C 3/06 - Utilisation de moyens électriques pour obtenir une indication finale
  • G01C 3/14 - Mesure des distances dans la ligne de viséeTélémètres optiques en utilisant un triangle parallactique ayant des angles variables et une base de longueur fixe, dans la station d'observation, p. ex. dans l'instrument avec observation binoculaire en un simple point, p. ex. du type stéréoscopique
  • G01C 3/22 - Mesure des distances dans la ligne de viséeTélémètres optiques en utilisant un triangle parallactique ayant des angles variables et une base de longueur fixe, se trouvant sur l'objet, au voisinage de celui-ci, ou constitué par l'objet lui-même
  • G02C 7/04 - Lentilles de contact pour les yeux

26.

SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING HUMAN PRESENCE BASED ON DEPTH SENSING AND INERTIAL MEASUREMENT

      
Numéro d'application 18335046
Statut En instance
Date de dépôt 2023-06-14
Date de la première publication 2023-10-12
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Yang, Xiaoyong
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar

Abrégé

An electronic device includes a depth sensor and an inertial measurement unit. The electronic device detects a presence of the user of the electronic device by analyzing a combination of inertial sensor signals from the inertial measurement unit and depth sensor signals from the depth sensor.

Classes IPC  ?

  • G06V 40/16 - Visages humains, p. ex. parties du visage, croquis ou expressions
  • G01B 7/30 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques électriques ou magnétiques pour mesurer des angles ou des cônesDispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques électriques ou magnétiques pour tester l'alignement des axes
  • G01C 19/00 - GyroscopesDispositifs sensibles à la rotation utilisant des masses vibrantesDispositifs sensibles à la rotation sans masse en mouvementMesure de la vitesse angulaire en utilisant les effets gyroscopiques
  • G01S 17/08 - Systèmes déterminant les données relatives à la position d'une cible pour mesurer la distance uniquement
  • G01S 17/894 - Imagerie 3D avec mesure simultanée du temps de vol sur une matrice 2D de pixels récepteurs, p. ex. caméras à temps de vol ou lidar flash
  • G01B 11/22 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la profondeur
  • G01P 15/18 - Mesure de l'accélérationMesure de la décélérationMesure des chocs, c.-à-d. d'une variation brusque de l'accélération dans plusieurs dimensions
  • G06F 18/25 - Techniques de fusion
  • G06F 18/214 - Génération de motifs d'entraînementProcédés de Bootstrapping, p. ex. ”bagging” ou ”boosting”

27.

Motion event detection

      
Numéro d'application 17717855
Numéro de brevet 12134361
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-04-11
Date de la première publication 2023-10-12
Date d'octroi 2024-11-05
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

The present disclosure is directed to a device and method for detection of motion events including towing of the vehicle, jacking of the vehicle, and the vehicle being hit by another object. Processing is split between an MCU and a sensor unit. After the vehicle is turned off and before the MCU enters a sleep mode, the MCU calculates a gravity vector of the vehicle using accelerometer data, calculates threshold values based on the gravity vector, and saves the threshold values. After the MCU enters the sleep mode, the sensor unit subsequently monitors and detects motion events with the saved threshold values.

Classes IPC  ?

  • B60W 40/10 - Calcul ou estimation des paramètres de fonctionnement pour les systèmes d'aide à la conduite de véhicules routiers qui ne sont pas liés à la commande d'un sous-ensemble particulier liés au mouvement du véhicule
  • B60R 16/023 - Circuits électriques ou circuits de fluides spécialement adaptés aux véhicules et non prévus ailleursAgencement des éléments des circuits électriques ou des circuits de fluides spécialement adapté aux véhicules et non prévu ailleurs électriques pour la transmission de signaux entre des parties ou des sous-systèmes du véhicule
  • B60R 16/03 - Circuits électriques ou circuits de fluides spécialement adaptés aux véhicules et non prévus ailleursAgencement des éléments des circuits électriques ou des circuits de fluides spécialement adapté aux véhicules et non prévu ailleurs électriques pour l'alimentation des sous-systèmes du véhicule en énergie électrique

28.

MEMS gyroscope start-up process and circuit

      
Numéro d'application 17712718
Numéro de brevet 12313408
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-04-04
Date de la première publication 2023-10-05
Date d'octroi 2025-05-27
Propriétaire
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
  • STMicroelectronics S.r.l. (Italie)
Inventeur(s)
  • Hu, Yamu
  • Sahoo, Naren K
  • Nallamothu, Pavan
  • Fang, Deyou
  • Mcclure, David
  • Garbarino, Marco

Abrégé

At start-up of a microelectromechanical system (MEMS) gyroscope, the drive signal is inhibited, and the phase, frequency and amplitude of any residual mechanical oscillation is sensed and processed to determine a process path for start-up. In the event that the sensed frequency of the residual mechanical oscillation is a spurious mode frequency and a quality factor of the residual mechanical oscillation is sufficient, an anti-phase signal is applied as the MEMS gyroscope drive signal in order to implement an active dampening of the residual mechanical oscillation. A kicking phase can then be performed to initiate oscillation. Also, in the event that the sensed frequency of the residual mechanical oscillation is a resonant mode frequency with sufficient drive energy, a quadrature phase signal with phase lock loop frequency control and amplitude controlled by the drive energy is applied as the MEMS gyroscope drive signal in order to induce controlled oscillation.

Classes IPC  ?

  • G01C 19/5726 - Traitement du signal
  • G01C 19/5762 - Details de structure ou topologie les dispositifs ayant une seule masse de détection la masse de détection étant reliée à une masse d'entraînement, p. ex. cadres d'entraînement

29.

System and method for disk drive fly height measurement

      
Numéro d'application 17742202
Numéro de brevet 11756582
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-05-11
Date de la première publication 2023-09-12
Date d'octroi 2023-09-12
Propriétaire
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
  • STMicroelectronics S.r.l. (Italie)
Inventeur(s)
  • Pulici, Paolo
  • Hogg, Dennis
  • Bartolini, Michele
  • Sentieri, Enrico
  • Mammei, Enrico

Abrégé

A system for determining a fly height includes a first head of a disk drive, a second head of the disk drive, a capacitive sensor circuit coupled to the first head and the second head, and a logic device coupled to the capacitive sensor circuit. The capacitive sensor circuit is configured to measure a first capacitance between the first head and the first disk, remove noise from the first capacitance using a second capacitance between the second head and the second disk, and based thereon determine a corrected first capacitance. The logic device is configured to determine the fly height between the first head and the first disk using the corrected first capacitance.

Classes IPC  ?

  • G11B 5/60 - Maintien dynamique de l'écartement entre têtes et supports d'enregistrement à l'aide d'un fluide
  • G11B 21/10 - Recherche de la piste ou alignement par déplacement de la tête

30.

MEMS gyroscope control circuit

      
Numéro d'application 18136088
Numéro de brevet 12111158
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-04-18
Date de la première publication 2023-08-31
Date d'octroi 2024-10-08
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Fang, Deyou
  • Tsai, Chao-Ming
  • Alwardi, Milad
  • Hu, Yamu
  • Mcclure, David

Abrégé

A microelectromechanical system (MEMS) gyroscope includes a driving mass and a driving circuit that operates to drive the driving mass in a mechanical oscillation at a resonant drive frequency. An oscillator generates a system clock that is independent of and asynchronous to the resonant drive frequency. A clock generator circuit outputs a first clock and a second clock that are derived from the system clock. The drive loop of the driving circuit including an analog-to-digital converter (ADC) circuit that is clocked by the first clock and a digital signal processing (DSP) circuit that is clocked by the second clock.

Classes IPC  ?

  • G01C 19/5726 - Traitement du signal
  • G01C 19/5733 - Details de structure ou topologie
  • G01C 25/00 - Fabrication, étalonnage, nettoyage ou réparation des instruments ou des dispositifs mentionnés dans les autres groupes de la présente sous-classe

31.

SEMICONDUCTOR PACKAGE WITH OVERLAPPING LEADS AND DIE PAD

      
Numéro d'application 18169146
Statut En instance
Date de dépôt 2023-02-14
Date de la première publication 2023-08-31
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson

Abrégé

The present disclosure is directed to a package having a die on a die pad that has a first portion and a second portion, the second portion being larger than the first portion in a first direction. The package includes a plurality of leads, where at least a first lead has a first surface coplanar with a first, lower surface of the first portion of the die pad. The first lead having a second surface that is transverse to the first surface of the first lead. The second surface being an external surface of the lead and package. The second portion of the die pad being an extension that is overlapping the first lead.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements

32.

MULTISPECTRAL IMAGER

      
Numéro d'application 18108110
Statut En instance
Date de dépôt 2023-02-10
Date de la première publication 2023-08-17
Propriétaire
  • STMicroelectronics (Grenoble 2) SAS (France)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Steckel, Jonathan
  • Pattantyus-Abraham, Andras G.

Abrégé

An imaging device includes a first layer made of quantum dots and a second layer including at least two filter regions extending over the first layer. The at least two filter regions are configured to transmit distinct wavelengths. The quantum dots of the first layer are configured to generate charges upon reception of light in the distinct wavelengths.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/28 - Étude du spectre
  • H01L 31/0352 - Dispositifs à semi-conducteurs sensibles aux rayons infrarouges, à la lumière, au rayonnement électromagnétique d'ondes plus courtes, ou au rayonnement corpusculaire, et spécialement adaptés, soit comme convertisseurs de l'énergie dudit rayonnement e; Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de ces dispositifs ou de leurs parties constitutives; Leurs détails caractérisés par leurs corps semi-conducteurs caractérisés par leur forme ou par les formes, les dimensions relatives ou la disposition des régions semi-conductrices

33.

Lead frame for improving adhesive fillets on semiconductor die corners

      
Numéro d'application 18303471
Numéro de brevet 12170240
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-04-19
Date de la première publication 2023-08-10
Date d'octroi 2024-12-17
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Rodriguez, Rennier
  • Maming, Maiden Grace
  • Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

The present disclosure is directed to a lead frame including a die pad with cavities, and methods for attaching a semiconductor die to the lead frame. The cavities allow for additional adhesive to be formed on the die pad at the corners of the semiconductor die, and prevent the additional adhesive from overflowing on to active areas of the semiconductor die.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/49 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p. ex. fils de connexion ou bornes formées de structures soudées du type fils de connexion
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs

34.

Door unlock mechanism

      
Numéro d'application 18178201
Numéro de brevet 11808063
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-03-03
Date de la première publication 2023-06-29
Date d'octroi 2023-11-07
Propriétaire
  • STMicroelectronics S.r.l. (Italie)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Sy, Williamson
  • Piccinelli, Emiliano Mario
  • Walters, Keith

Abrégé

A method and device for unlatching a door from a frame, using a keyless door latch system, is provided. In one embodiment, a secondary unlocking component receives a signal and derives power from the signal to provide a power source for the keyless door latch system. A microcontroller generates a control signal and an actuator, in response to receiving the control signal, actuates the secondary unlocking component, which allows an energy source, from an exterior of the door, to be transferred to the keyless door latch system for the unlatching of the door.

Classes IPC  ?

  • E05B 81/90 - Actionnement manuel de secours en cas de panne d’alimentation en énergie
  • E05B 77/54 - Verrouillage ou déverrouillage automatique de pênes provoqué par certains paramètres du véhicule, p. ex. par le dépassement d’un seuil de vitesse
  • E05B 81/46 - Embrayages
  • E05B 81/56 - Commande d'actionneurs
  • E05B 81/80 - Circuits électriques caractérisés par l’alimentation électriqueAlimentation de secours
  • B60R 25/24 - Moyens pour enclencher ou arrêter le système antivol par des éléments d’identification électroniques comportant un code non mémorisé par l’utilisateur
  • E05B 77/02 - Serrures de véhicule caractérisées par des fonctions ou des fins particulières pour des situations d’accident

35.

Die embedded in substrate with stress buffer

      
Numéro d'application 18168319
Numéro de brevet 12080657
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-02-13
Date de la première publication 2023-06-15
Date d'octroi 2024-09-03
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

The present disclosure is directed to a package, such as a wafer level chip scale package (WLCSP) or a package containing a semiconductor die, with a die embedded within a substrate that is surrounded by an elastomer. The package includes nonconductive layers on surfaces of the substrate and the elastomer as well as conductive layers and conductive vias that extend through these layers to form electrical connections in the package. The package includes surfaces of the conductive material, which may be referred to as contacts. These surfaces of the conductive material are exposed on both sides of the package and allow the package to be mounted within an electronic device and have other electronic components coupled to the package, or allow the package to be included in a stacked configuration of semiconductor dice or packages.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/538 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre la structure d'interconnexion entre une pluralité de puces semi-conductrices se trouvant au-dessus ou à l'intérieur de substrats isolants
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/683 - Appareils spécialement adaptés pour la manipulation des dispositifs à semi-conducteurs ou des dispositifs électriques à l'état solide pendant leur fabrication ou leur traitementAppareils spécialement adaptés pour la manipulation des plaquettes pendant la fabrication ou le traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou des dispositifs électriques à l'état solide ou de leurs composants pour le maintien ou la préhension
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

36.

METHOD, SYSTEM, AND CIRCUITS FOR RF LOW-LATENCY, MULTIPLE PRIORITY COMMUNICATION

      
Numéro d'application 17542272
Statut En instance
Date de dépôt 2021-12-03
Date de la première publication 2023-06-08
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Gentili, Maurizio

Abrégé

System, method, and circuitry for utilizing a transmit token to create a floating transmission window for multiple priority data in half-duplex communication systems. A first computing device selects audio data and control data to transmit to a second computing device based on a first low priority for audio data relative to a second high priority for control data and on buffer statuses. In response to the first computing device determining that the first computing device possesses a transmit token, the first computing device transmits the selected audio data and the selected control data to the second computing device. The first computing device then transmits the transmit token to the second computing device. The first computing device then waits for the transmit token to be returned before transmitting more data to the second computing device.

Classes IPC  ?

  • H04L 47/62 - Ordonnancement des files d’attente caractérisé par des critères d’ordonnancement

37.

Device and method for decoding data from wireless signals

      
Numéro d'application 17538803
Numéro de brevet 12009954
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-11-30
Date de la première publication 2023-06-08
Date d'octroi 2024-06-11
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Vitali, Andrea Lorenzo

Abrégé

An electronic device receives wireless signals encoded with data in an amplitude-shift keying format. The electronic device passes the wireless signals through a low-pass filter. The low-pass filter has a cutoff frequency between a first frequency associated with data values of a first type and a second frequency associated with data values of a second type. The low-pass filter has the effect of changing the wireless signal from the amplitude-shift keying format to an on-off keying format without losing the data. The electronic device decodes the data from the wireless signal in the on-off keying format.

Classes IPC  ?

  • H04L 27/06 - Circuits de démodulationCircuits récepteurs

38.

Automatic skew calibration circuit for pattern-dependent dynamic wave shaping for HDD preamplifier write

      
Numéro d'application 17710608
Numéro de brevet 11657846
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-03-31
Date de la première publication 2023-05-23
Date d'octroi 2023-05-23
Propriétaire
  • STMicroelectronics S.r.l. (Italie)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Mammei, Enrico
  • Sanna, Paolo
  • Hogg, Dennis
  • Contini, Edoardo

Abrégé

A method to determine a relative delay between a current-overshoot signal and a write data signal for a hard disk drive preamplifier, the method including using a memory element to strobe a test current-overshoot signal with a test data signal; counting a number of strobed transitions of the test current-overshoot signal; adjusting the delay based on the number of strobed transitions; setting a phase difference between the current-overshoot signal and the write data signal according to the delay; and using the memory element to strobe the current-overshoot signal with the write data signal.

Classes IPC  ?

  • G11B 20/10 - Enregistrement ou reproduction numériques

39.

System and method to increase display area utilizing a plurality of discrete displays

      
Numéro d'application 18063028
Numéro de brevet 12223218
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-12-07
Date de la première publication 2023-04-06
Date d'octroi 2025-02-11
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V. (Pays‑Bas)
Inventeur(s)
  • Vigna, Benedetto
  • Chowdhary, Mahesh
  • Dameno, Matteo

Abrégé

A method includes receiving, at a master agent, announcements from candidate consumer agents indicating the presence of the candidate consumer agents. Each announcement includes display parameters for a display of the corresponding candidate consumer agent. The method further includes receiving at the master agent content parameters from a producer agent, the content parameters defining characteristics of content to be provided by the consumer agent. A mosaic screen is configured based on the received announcements and the content parameters. This configuring of the mosaic screen includes selecting ones of the consumer agents for which an announcement was received and generating content distribution parameters based on the content parameters and the display parameters of the selected ones of the consumer agents. The generated content distribution parameters are provided to the consumer agent.

Classes IPC  ?

  • G06F 3/14 - Sortie numérique vers un dispositif de visualisation
  • G01P 1/07 - Dispositifs indicateurs, p. ex. pour l'indication à distance
  • G06F 3/12 - Sortie numérique vers une unité d'impression

40.

DEVICE WITH TIME STAMP SYNCHRONIZING AND RELATED METHOD

      
Numéro d'application 17953848
Statut En instance
Date de dépôt 2022-09-27
Date de la première publication 2023-03-30
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Ciocca, Denis

Abrégé

A device includes processing circuitry and sensor communication interface circuitry. The processing circuitry, in operation, generates one or more parameters of a regression model based on a plurality of data sets. Each data set includes an application time stamp and a sensor time stamp. Based on the one or more parameters, the processing circuitry estimates application time stamps associated with received sensor data samples. The received sensor data samples have associated sensor time stamps. The sensor communication interface circuitry is coupled to the processing circuitry. The sensor communication interface circuitry, in operation, communicatively couples the processing circuitry to a sensor. Data samples of the sensor are received by the processor via the sensor communication interface circuitry.

Classes IPC  ?

  • H04L 67/12 - Protocoles spécialement adaptés aux environnements propriétaires ou de mise en réseau pour un usage spécial, p. ex. les réseaux médicaux, les réseaux de capteurs, les réseaux dans les véhicules ou les réseaux de mesure à distance
  • H04L 67/1095 - Réplication ou mise en miroir des données, p. ex. l’ordonnancement ou le transport pour la synchronisation des données entre les nœuds du réseau

41.

Methods and devices to identify focal objects

      
Numéro d'application 17987280
Numéro de brevet 11800224
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-11-15
Date de la première publication 2023-03-16
Date d'octroi 2023-10-24
Propriétaire
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
  • STMicroelectronics (Research & Development) Limited (Royaume‑Uni)
Inventeur(s)
  • Winterton, Darin K.
  • Baxter, Donald
  • Hodgson, Andrew
  • Lunn, Gordon
  • Pothier, Olivier
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar

Abrégé

A method includes dividing a field of view into a plurality of zones and sampling the field of view to generate a photon count for each zone of the plurality of zones, identifying a focal sector of the field of view and analyzing each zone to select a final focal object from a first prospective focal object and a second prospective focal object.

Classes IPC  ?

  • H04N 23/67 - Commande de la mise au point basée sur les signaux électroniques du capteur d'image
  • H04N 23/61 - Commande des caméras ou des modules de caméras en fonction des objets reconnus

42.

LEADFRAME WITH VARYING THICKNESSES AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR PACKAGES

      
Numéro d'application 17889251
Statut En instance
Date de dépôt 2022-08-16
Date de la première publication 2023-03-02
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

The present disclosure is directed to semiconductor packages manufactured utilizing a leadframe with varying thicknesses. The leadframe with varying thicknesses has a reduced likelihood of deformation while being handled during the manufacturing of the semiconductor packages as well as when being handled during a shipping process. The method of manufacturing is not required to utilize a leadframe tape based on the leadframe with varying thicknesses. This reduces the overall manufacturing costs of the semiconductor packages due to the reduced materials and steps in manufacturing the semiconductor packages as compared to a method that utilizes a leadframe tape to support a leadframe. The semiconductor packages may include leads of varying thicknesses formed by utilizing the leadframe of varying thicknesses to manufacture the semiconductor packages.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements

43.

Robotic device with time-of-flight proximity sensing system

      
Numéro d'application 17884492
Numéro de brevet 12226909
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-08-09
Date de la première publication 2023-02-02
Date d'octroi 2025-02-18
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Peng, Cheng
  • Yang, Xiaoyong

Abrégé

A robotic device including one or more proximity sensing systems coupled to various portions of a robot body. The proximity sensing systems detect a distance of an object about the robot body and the robotic device reacts based on the detected distance. The proximity sensing systems obtain a three-dimensional (3D) profile of the object to determine a category of the object. The distance of the object is detected multiple times in a sequence to determine a movement path of the object.

Classes IPC  ?

44.

LEADLESS SEMICONDUCTOR PACKAGE WITH DE-METALLIZED POROUS STRUCTURES AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

      
Numéro d'application 17811804
Statut En instance
Date de dépôt 2022-07-11
Date de la première publication 2023-02-02
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s) Arellano, Ian Harvey Juralbal

Abrégé

A semiconductor package device having a porous copper adhesion promoter layer is provided. The porous copper adhesion promoter layer developed via de-metallization of the intermetallic compound layer grown after the thermal treatment of a thin metal layer plated on the copper base material. The highly selective de-metallization of the intermetallic compound layer ensures that the plated surfaces are not affected and does not create wire-bondability issues. The porous copper layer solves the delamination between the carrier and the epoxy molding compound by providing mechanical interlock features. Further, increasing the surface area of contact between the carrier and the epoxy molding compound improves the mechanical interlock features.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

45.

Method and apparatus for cryptographically aligning and binding a secure element with a host device

      
Numéro d'application 17939385
Numéro de brevet 11991276
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-09-07
Date de la première publication 2023-01-05
Date d'octroi 2024-05-21
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Pilozzi, Giuseppe

Abrégé

A secure element device that is configured to be cryptographically bound to a host device includes a secure element host key slot configured to store host key information that allows only the host device to control the secure element, a secure memory storing binding information, and limited functionality allowing the binding information to be read from the secure memory by the host device during a binding process. The binding information is cryptographically correlated with the host key information. The host key information is generated by the host device using the binding information read from the secure element and a secret key. The secure element device further includes general functionality only accessible to the host device using the host key information that is generated by the host device. The secure memory includes prevention measures impeding unauthorized entities from obtaining information from the secure memory.

Classes IPC  ?

  • H04L 9/08 - Répartition de clés
  • G06F 8/61 - Installation
  • G06F 11/14 - Détection ou correction d'erreur dans les données par redondance dans les opérations, p. ex. en utilisant différentes séquences d'opérations aboutissant au même résultat
  • H04L 9/14 - Dispositions pour les communications secrètes ou protégéesProtocoles réseaux de sécurité utilisant plusieurs clés ou algorithmes
  • H04L 9/30 - Clé publique, c.-à-d. l'algorithme de chiffrement étant impossible à inverser par ordinateur et les clés de chiffrement des utilisateurs n'exigeant pas le secret
  • H04L 9/32 - Dispositions pour les communications secrètes ou protégéesProtocoles réseaux de sécurité comprenant des moyens pour vérifier l'identité ou l'autorisation d'un utilisateur du système

46.

Dynamic memory protection device system and method

      
Numéro d'application 17307893
Numéro de brevet 11921655
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-05-04
Date de la première publication 2022-11-10
Date d'octroi 2024-03-05
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Panzica, Massimo
  • Gentili, Maurizio

Abrégé

A microcontroller includes a memory, direct memory access (DMA) controllers and a microprocessor. The microprocessor maintains one or more memory protection (MP) configurations to control access to protected memory areas of the microcontroller. In response to a secure service call of an unsecure user-application, the microprocessor executes a state machine which disables interrupt requests, determining whether DMA controller configurations and MP configurations satisfy secure-service criteria. When the secure-service criteria are satisfied, at least one secure operation associated with the secure service call is performed, and memory areas accessed during the execution of the at least one secure operation are cleaned. The interrupt requests are re-enabled and a response to the secure service call is generated.

Classes IPC  ?

  • G06F 13/28 - Gestion de demandes d'interconnexion ou de transfert pour l'accès au bus d'entrée/sortie utilisant le transfert par rafale, p. ex. acces direct à la mémoire, vol de cycle
  • G06F 13/24 - Gestion de demandes d'interconnexion ou de transfert pour l'accès au bus d'entrée/sortie utilisant l'interruption
  • H04L 9/32 - Dispositions pour les communications secrètes ou protégéesProtocoles réseaux de sécurité comprenant des moyens pour vérifier l'identité ou l'autorisation d'un utilisateur du système

47.

POWER AND SECURITY ADJUSTMENT FOR FACE IDENTIFICATION WITH REFLECTIVITY DETECTION BY A RANGING SENSOR

      
Numéro d'application 17856586
Statut En instance
Date de dépôt 2022-07-01
Date de la première publication 2022-10-20
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Deleule, Arnaud
  • Kvam, John E.
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar

Abrégé

The present disclosure is directed to a system and method of controlling a facial recognition process by validating preconditions with a ranging sensor. The ranging sensor transmits a ranging signal that is reflected off of a user's face and received back at the ranging sensor. The received ranging signal can be used to determine distance between the user's face and the mobile device or to determine the reflectivity of the user's face. Comparing the distance to a range of distances corresponding to normal operation of the device or normal reflectivities associated with human skin tones can reduce the number of false positive activations of the facial recognition process. Furthermore, a multiple zone ranging sensor can produce a face depth map that can be compared to a stored face depth map or can produce a reflectivity map that can be compared to a stored face reflectivity map to further increase power efficiency and device security.

Classes IPC  ?

  • G01B 11/02 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
  • G01C 3/02 - Mesure des distances dans la ligne de viséeTélémètres optiques Détails
  • H04N 5/232 - Dispositifs pour la commande des caméras de télévision, p.ex. commande à distance
  • G06T 7/521 - Récupération de la profondeur ou de la forme à partir de la télémétrie laser, p. ex. par interférométrieRécupération de la profondeur ou de la forme à partir de la projection de lumière structurée
  • G01S 17/00 - Systèmes utilisant la réflexion ou la reradiation d'ondes électromagnétiques autres que les ondes radio, p. ex. systèmes lidar
  • G01S 17/89 - Systèmes lidar, spécialement adaptés pour des applications spécifiques pour la cartographie ou l'imagerie
  • G06V 40/16 - Visages humains, p. ex. parties du visage, croquis ou expressions

48.

Semiconductor device having cavities at an interface of an encapsulant and a die pad or leads

      
Numéro d'application 17845867
Numéro de brevet 11862579
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-06-21
Date de la première publication 2022-10-06
Date d'octroi 2024-01-02
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s) Arellano, Ian Harvey

Abrégé

In various embodiments, the present disclosure provides semiconductor devices, packages, and methods. In one embodiment, a device includes a die pad, a lead that is spaced apart from the die pad, and an encapsulant on the die pad and the lead. A plurality of cavities extends into at least one of the die pad or the lead to a depth from a surface of the at least one of the die pad or the lead. The depth is within a range from 0.5 μm to 5 μm. The encapsulant extends into the plurality of cavities. The cavities facilitate improved adhesion between the die pad or lead and the encapsulant, as the cavities increase a surface area of contact with the encapsulant, and further increase a mechanical interlock with the encapsulant, as the cavities may have a rounded or semi-spherical shape.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou

49.

Method of manufacturing semiconductor devices and corresponding semiconductor device

      
Numéro d'application 17688013
Numéro de brevet 12211772
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-03-07
Date de la première publication 2022-09-15
Date d'octroi 2025-01-28
Propriétaire
  • STMicroelectronics S.r.l. (Italie)
  • STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Fontana, Fulvio Vittorio
  • Benelli, Davide Maria
  • Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

A semiconductor device, such as a Quad-Flat No-lead (QFN) package, includes a semiconductor chip arranged on a die pad of a leadframe. The leadframe has an array of electrically-conductive leads around the die pad. The leads in the array have distal ends facing away from the die pad as well as recessed portions at an upper surface of the leads. Resilient material, such as low elasticity modulus material, is present at the upper surface of the leads and filling the recessed portions. An insulating encapsulation is molded onto the semiconductor chip. The resilient material is sandwiched between the insulating encapsulation and the distal ends of the leads. This resilient material facilitates flexibility of the leads, making them suited for reliable soldering to an insulated metal substrate.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 23/16 - Matériaux de remplissage ou pièces auxiliaires dans le conteneur, p. ex. anneaux de centrage
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

50.

BOTTOM PACKAGE EXPOSED DIE MEMS PRESSURE SENSOR INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE DESIGN

      
Numéro d'application 17752567
Statut En instance
Date de dépôt 2022-05-24
Date de la première publication 2022-09-08
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Cadag, Aaron
  • Arellano, Frederick
  • Antilano, Jr., Ernesto

Abrégé

A MEMS pressure sensor packaged with a molding compound. The MEMS pressure sensor features a lead frame, a MEMS semiconductor die, a second semiconductor die, multiple pluralities of bonding wires, and a molding compound. The MEMS semiconductor die has an internal chamber, a sensing component, and apertures. The MEMS semiconductor die and the apertures are exposed to an ambient atmosphere. A method is desired to form a MEMS pressure sensor package that reduces defects caused by mold flashing and die cracking. Fabrication of the MEMS pressure sensor package comprises placing a lead frame on a lead frame tape; placing a MEMS semiconductor die adjacent to the lead frame and on the lead frame tape with the apertures facing the tape and being sealed thereby; attaching a second semiconductor die to the MEMS semiconductor die; attaching pluralities of bonding wires to form electrical connections between the MEMS semiconductor die, the second semiconductor die, and the lead frame; and forming a molding compound.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • B81B 7/00 - Systèmes à microstructure
  • B81C 1/00 - Fabrication ou traitement de dispositifs ou de systèmes dans ou sur un substrat

51.

System and method for fast magnetometer calibration using gyroscope

      
Numéro d'application 17135628
Numéro de brevet 11815568
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-28
Date de la première publication 2022-06-30
Date d'octroi 2023-11-14
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

An electronic device includes a magnetometer that outputs magnetometer sensor signals and a gyroscope that outputs gyroscope sensor signals. The electronic device includes a magnetometer calibration module that calibrates the magnetometer utilizing the gyroscope sensor signals. The electronic device generates a first magnetometer calibration parameter based on a Kalman filter process. The electronic device generates a second magnetometer calibration parameter based on a least squares estimation process.

Classes IPC  ?

  • G01R 33/00 - Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
  • G01C 25/00 - Fabrication, étalonnage, nettoyage ou réparation des instruments ou des dispositifs mentionnés dans les autres groupes de la présente sous-classe

52.

Threshold adjustment for quantum dot array devices with metal source and drain

      
Numéro d'application 17574329
Numéro de brevet 12107144
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-01-12
Date de la première publication 2022-05-05
Date d'octroi 2024-10-01
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Zhang, John H.

Abrégé

t. Use of a mass spectrometer during film deposition can assist in varying the composition of the quantum dot film. The metallic quantum dots can be incorporated into ion-doped source and drain regions. Alternatively, the metallic quantum dots can be incorporated into epitaxially doped source and drain regions.

Classes IPC  ?

  • H01L 29/45 - Electrodes à contact ohmique
  • H01L 21/265 - Bombardement par des radiations ondulatoires ou corpusculaires par des radiations d'énergie élevée produisant une implantation d'ions
  • H01L 21/66 - Test ou mesure durant la fabrication ou le traitement
  • H01L 21/8238 - Transistors à effet de champ complémentaires, p.ex. CMOS
  • H01L 29/41 - Electrodes caractérisées par leur forme, leurs dimensions relatives ou leur disposition relative
  • H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
  • H01L 29/775 - Transistors à effet de champ avec un canal à gaz de porteurs de charge à une dimension, p.ex. FET à fil quantique
  • H01L 29/778 - Transistors à effet de champ avec un canal à gaz de porteurs de charge à deux dimensions, p.ex. transistors à effet de champ à haute mobilité électronique HEMT
  • H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
  • H01L 29/165 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en dans différentes régions semi-conductrices
  • H01L 29/417 - Electrodes caractérisées par leur forme, leurs dimensions relatives ou leur disposition relative transportant le courant à redresser, à amplifier ou à commuter
  • H01L 29/423 - Electrodes caractérisées par leur forme, leurs dimensions relatives ou leur disposition relative ne transportant pas le courant à redresser, à amplifier ou à commuter
  • H01L 29/49 - Electrodes du type métal-isolant-semi-conducteur

53.

AUTOMATIC FILTER SELECTION IN DECISION TREE FOR MACHINE LEARNING CORE

      
Numéro d'application 17085593
Statut En instance
Date de dépôt 2020-10-30
Date de la première publication 2022-05-05
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

Technological advancements are disclosed that utilize inertial sensor data for multiple classes to select a combination of filters to extract information though features to train a machine learning core decision tree. A determination is made whether the data for a class includes a frequency peak or dominating frequency that contains significant information about the class. In response to the data for the class including a frequency peak, a peak-based frequency range is determined. An entropy value is calculated for multiple frequency ranges in the data for the class. An entropy-based frequency range is selected from the multiple frequency ranges having a minimum entropy value. A frequency of interest is selected from the peak-based frequency range and the entropy-based frequency range for the class. A combination of filters is selected for each frequency of interest for each class and a decision tree is trained based on selected filter combination.

Classes IPC  ?

  • G06N 5/00 - Agencements informatiques utilisant des modèles fondés sur la connaissance
  • G06N 20/00 - Apprentissage automatique

54.

SEMICONDUCTOR PACKAGE WITH ELECTROMAGNETIC SHIELD

      
Numéro d'application 17509758
Statut En instance
Date de dépôt 2021-10-25
Date de la première publication 2022-05-05
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Manalo, Endalicio
  • Rodriguez, Rennier

Abrégé

The present disclosure is directed to a semiconductor package that include a non-conductive encapsulation layer encapsulation an integrated circuit chip, and a conductive encapsulation layer over the non-conductive encapsulation layer. A lead is exposed from the non-conductive encapsulation layer and contacts the conductive encapsulation layer. The conductive encapsulation layer and the lead provide EMI shielding for the integrated circuit chip.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/552 - Protection contre les radiations, p. ex. la lumière
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/29 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par le matériau
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

55.

DEAD RECKONING BY DETERMINING MISALIGNMENT ANGLE BETWEEN MOVEMENT DIRECTION AND SENSOR HEADING DIRECTION

      
Numéro d'application 17532792
Statut En instance
Date de dépôt 2021-11-22
Date de la première publication 2022-03-17
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

A device including microelectromechanical systems (MEMS) sensors is used in dead reckoning in conditions where Global Positioning System (GPS) signals or Global Navigation Satellite System (GNSS) signals are lost. The device is capable of tracking the location of the device after the GPS/GNSS signals are lost by using MEMS sensors such as accelerometers and gyroscopes. By calculating a misalignment angle between a sensor frame of the device with either the movement direction of the vehicle or the walking direction of a pedestrian using the MEMS sensors, the device can accurately calculate the location of a user of the device even without the GPS/GNSS signals. Accordingly, a device capable of tracking the location of a pedestrian and a user riding in a vehicle without utilizing GPS/GNSS signals can be provided.

Classes IPC  ?

  • G01C 21/16 - NavigationInstruments de navigation non prévus dans les groupes en utilisant des mesures de la vitesse ou de l'accélération exécutées à bord de l'objet navigantNavigation à l'estime en intégrant l'accélération ou la vitesse, c.-à-d. navigation par inertie
  • G01C 21/20 - Instruments pour effectuer des calculs de navigation
  • G01C 21/28 - NavigationInstruments de navigation non prévus dans les groupes spécialement adaptés pour la navigation dans un réseau routier avec corrélation de données de plusieurs instruments de navigation
  • G01S 19/47 - Détermination de position en combinant les mesures des signaux provenant du système de positionnement satellitaire à radiophares avec une mesure supplémentaire la mesure supplémentaire étant une mesure inertielle, p. ex. en hybridation serrée

56.

Method for motion estimation in a vehicle, corresponding device and computer program product

      
Numéro d'application 17470962
Numéro de brevet 11834054
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-09-09
Date de la première publication 2022-03-17
Date d'octroi 2023-12-05
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMicroelectronics (Grand Ouest) SAS (France)
Inventeur(s)
  • Palella, Nicola Matteo
  • Colombo, Leonardo
  • Donadel, Andrea
  • Mura, Roberto
  • Jain, Mahaveer
  • Philippe, Joëlle

Abrégé

A system includes inertial sensors and a GPS. The system generates a first estimated vehicle velocity based on motion data and positioning data, generates a second estimated vehicle velocity based on the processed motion data and the first estimated vehicle velocity, and generates fused datasets indicative of position, velocity and attitude of a vehicle based on the processed motion data, the positioning data and the second estimated vehicle velocity. The generating the second estimated vehicle velocity includes: filtering the motion data, transforming the filtered motion data in a frequency domain based on the first estimated vehicle velocity, generating spectral power density signals, generating an estimated wheel angular frequency and an estimated wheel size based on the spectral power density signals, and generating the second estimated vehicle velocity as a function of the estimated wheel angular frequency and the estimated wheel size.

Classes IPC  ?

  • B60W 40/11 - Mouvement de tangage
  • B60W 40/101 - Angle de dérapage latéral du pneu
  • B60W 40/112 - Mouvement de roulis
  • B60W 40/114 - Mouvement de lacet
  • G01S 19/47 - Détermination de position en combinant les mesures des signaux provenant du système de positionnement satellitaire à radiophares avec une mesure supplémentaire la mesure supplémentaire étant une mesure inertielle, p. ex. en hybridation serrée

57.

System and method for detecting human presence based on depth sensing and inertial measurement

      
Numéro d'application 17006594
Numéro de brevet 11727719
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-08-28
Date de la première publication 2022-03-03
Date d'octroi 2023-08-15
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Yang, Xiaoyong
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar

Abrégé

An electronic device includes a depth sensor and an inertial measurement unit. The electronic device detects a presence of the user of the electronic device by analyzing a combination of inertial sensor signals from the inertial measurement unit and depth sensor signals from the depth sensor.

Classes IPC  ?

  • G06V 40/16 - Visages humains, p. ex. parties du visage, croquis ou expressions
  • G06F 18/25 - Techniques de fusion
  • G06F 18/214 - Génération de motifs d'entraînementProcédés de Bootstrapping, p. ex. ”bagging” ou ”boosting”
  • G01B 7/30 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques électriques ou magnétiques pour mesurer des angles ou des cônesDispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques électriques ou magnétiques pour tester l'alignement des axes
  • G01C 19/00 - GyroscopesDispositifs sensibles à la rotation utilisant des masses vibrantesDispositifs sensibles à la rotation sans masse en mouvementMesure de la vitesse angulaire en utilisant les effets gyroscopiques
  • G01S 17/08 - Systèmes déterminant les données relatives à la position d'une cible pour mesurer la distance uniquement
  • G01S 17/894 - Imagerie 3D avec mesure simultanée du temps de vol sur une matrice 2D de pixels récepteurs, p. ex. caméras à temps de vol ou lidar flash
  • G01B 11/22 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la profondeur
  • G01P 15/18 - Mesure de l'accélérationMesure de la décélérationMesure des chocs, c.-à-d. d'une variation brusque de l'accélération dans plusieurs dimensions

58.

MEMS gyroscope control circuit

      
Numéro d'application 17504994
Numéro de brevet 11662205
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-10-19
Date de la première publication 2022-02-03
Date d'octroi 2023-05-30
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Fang, Deyou
  • Tsai, Chao-Ming
  • Alwardi, Milad
  • Hu, Yamu
  • Mcclure, David

Abrégé

A microelectromechanical system (MEMS) gyroscope includes a driving mass and a driving circuit that operates to drive the driving mass in a mechanical oscillation at a resonant drive frequency. An oscillator generates a system clock that is independent of and asynchronous to the resonant drive frequency. A clock generator circuit outputs a first clock and a second clock that are derived from the system clock. The drive loop of the driving circuit including an analog-to-digital converter (ADC) circuit that is clocked by the first clock and a digital signal processing (DSP) circuit that is clocked by the second clock.

Classes IPC  ?

  • G01C 19/5726 - Traitement du signal
  • G01C 25/00 - Fabrication, étalonnage, nettoyage ou réparation des instruments ou des dispositifs mentionnés dans les autres groupes de la présente sous-classe
  • G01C 19/5733 - Details de structure ou topologie

59.

Tapeless leadframe package with exposed integrated circuit die

      
Numéro d'application 17342765
Numéro de brevet 11916090
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-06-09
Date de la première publication 2022-01-06
Date d'octroi 2024-02-27
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Cadag, Aaron
  • Serapio, Rohn Kenneth
  • Cadag, Ela Mia

Abrégé

A first side of a tapeless leadframe package is etched to form a ring shaped protrusion and a lead protrusion extending from a base layer. An integrated circuit die is mounted to tapeless leadframe package in flip chip orientation with a front side facing the first side. An electrical and mechanical attachment is made between a bonding pad of the integrated circuit die and the lead protrusion. A mechanical attachment is made between the front side of the integrated circuit die and the ring shaped protrusion. The integrated circuit die and the protrusions from the tapeless leadframe package are encapsulated within an encapsulating block. The second side of the tapeless leadframe package is then etched to remove portions of the base layer and define a lead for a leadframe from the lead protrusion and further define a die support for the leadframe from the ring shaped protrusion.

Classes IPC  ?

  • H01L 31/0203 - Conteneurs; Encapsulations
  • H01L 27/146 - Structures de capteurs d'images
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

60.

Device, system and method for synchronizing of data from multiple sensors

      
Numéro d'application 17356180
Numéro de brevet 11968602
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-06-23
Date de la première publication 2021-12-30
Date d'octroi 2024-04-23
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Sayed, Karimuddin
  • Pabla, Chandandeep Singh
  • Bracco, Lorenzo
  • Rizzardini, Federico

Abrégé

In an embodiment, a device comprises a memory, which, in operation, stores data samples associated with a plurality of data sensors, and circuitry, coupled to the memory, wherein the circuitry, in operation, generates synchronized output data sets associated with the plurality of data sensors. Generating a synchronized output data set includes: determining a reference sample associated with a sensor of the plurality of sensors; verifying a timing validity of a data sample associated with another sensor of the plurality of sensors; identifying a closest-in-time data sample associated with the another sensor of the plurality of sensors with respect to the reference sample; and generating the synchronized output data set based on interpolation.

Classes IPC  ?

  • H04W 4/38 - Services spécialement adaptés à des environnements, à des situations ou à des fins spécifiques pour la collecte d’informations de capteurs
  • G01D 5/244 - Moyens mécaniques pour le transfert de la grandeur de sortie d'un organe sensibleMoyens pour convertir la grandeur de sortie d'un organe sensible en une autre variable, lorsque la forme ou la nature de l'organe sensible n'imposent pas un moyen de conversion déterminéTransducteurs non spécialement adaptés à une variable particulière utilisant des moyens électriques ou magnétiques influençant les caractéristiques d'impulsionsMoyens mécaniques pour le transfert de la grandeur de sortie d'un organe sensibleMoyens pour convertir la grandeur de sortie d'un organe sensible en une autre variable, lorsque la forme ou la nature de l'organe sensible n'imposent pas un moyen de conversion déterminéTransducteurs non spécialement adaptés à une variable particulière utilisant des moyens électriques ou magnétiques produisant des impulsions ou des trains d'impulsions
  • G01D 9/00 - Enregistrement de valeurs mesurées
  • H04W 4/70 - Services pour la communication de machine à machine ou la communication de type machine

61.

SEMICONDUCTOR DEVICE PACKAGES HAVING CAP WITH INTEGRATED ELECTRICAL LEADS

      
Numéro d'application 17346766
Statut En instance
Date de dépôt 2021-06-14
Date de la première publication 2021-12-16
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Rodriguez, Rennier
  • Soriano, John Alexander
  • Cadag, Aaron

Abrégé

One or more embodiments are directed to semiconductor device packages having a cap with integrated metal interconnects or conductive leads. One embodiment is directed to a semiconductor device package that includes a cap having a cover extending along a first direction and sidewalls extending from the cover along a second direction that is transverse to the first direction. A plurality of electrical leads are disposed on inner surfaces of the sidewalls and extend over lower surfaces of the sidewalls. A semiconductor die is attached to an inner surface of the cover of the cap, and the semiconductor die is electrically coupled to the plurality of electrical leads.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/043 - ConteneursScellements caractérisés par la forme le conteneur étant une structure creuse ayant une base conductrice qui sert de support et en même temps de connexion électrique pour le corps semi-conducteur
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/52 - Montage des corps semi-conducteurs dans les conteneurs
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs

62.

Integrated circuit devices and fabrication techniques

      
Numéro d'application 17159013
Numéro de brevet 11705458
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-01-26
Date de la première publication 2021-12-16
Date d'octroi 2023-07-18
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Zhang, John H.

Abrégé

Single gate and dual gate FinFET devices suitable for use in an SRAM memory array have respective fins, source regions, and drain regions that are formed from portions of a single, contiguous layer on the semiconductor substrate, so that STI is unnecessary. Pairs of FinFETs can be configured as dependent-gate devices wherein adjacent channels are controlled by a common gate, or as independent-gate devices wherein one channel is controlled by two gates. Metal interconnects coupling a plurality of the FinFET devices are made of a same material as the gate electrodes. Such structural and material commonalities help to reduce costs of manufacturing high-density memory arrays.

Classes IPC  ?

  • H01L 27/12 - Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun comprenant des éléments de circuit passif intégrés avec au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface le substrat étant autre qu'un corps semi-conducteur, p.ex. un corps isolant
  • H01L 21/266 - Bombardement par des radiations ondulatoires ou corpusculaires par des radiations d'énergie élevée produisant une implantation d'ions en utilisant des masques
  • H01L 21/8238 - Transistors à effet de champ complémentaires, p.ex. CMOS
  • H01L 21/84 - Fabrication ou traitement de dispositifs consistant en une pluralité de composants à l'état solide ou de circuits intégrés formés dans ou sur un substrat commun avec une division ultérieure du substrat en plusieurs dispositifs individuels pour produire des dispositifs, p.ex. des circuits intégrés, consistant chacun en une pluralité de composants le substrat étant autre chose qu'un corps semi-conducteur, p.ex. étant un corps isolant
  • H01L 23/528 - Configuration de la structure d'interconnexion
  • H01L 27/092 - Transistors à effet de champ métal-isolant-semi-conducteur complémentaires
  • H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
  • H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
  • H01L 29/161 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en
  • H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
  • H10B 10/00 - Mémoires statiques à accès aléatoire [SRAM]
  • H10B 20/00 - Dispositifs de mémoire morte [ROM]

63.

System and method to increase display area utilizing a plurality of discrete displays

      
Numéro d'application 17380754
Numéro de brevet 11550531
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-07-20
Date de la première publication 2021-11-11
Date d'octroi 2023-01-10
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V. (Pays‑Bas)
Inventeur(s)
  • Vigna, Benedetto
  • Chowdhary, Mahesh
  • Dameno, Matteo

Abrégé

A method includes receiving, at a master agent, announcements from candidate consumer agents indicating the presence of the candidate consumer agents. Each announcement includes display parameters for a display of the corresponding candidate consumer agent. The method further includes receiving at the master agent content parameters from a producer agent, the content parameters defining characteristics of content to be provided by the consumer agent. A mosaic screen is configured based on the received announcements and the content parameters. This configuring of the mosaic screen includes selecting ones of the consumer agents for which an announcement was received and generating content distribution parameters based on the content parameters and the display parameters of the selected ones of the consumer agents. The generated content distribution parameters are provided to the consumer agent.

Classes IPC  ?

  • G06F 3/14 - Sortie numérique vers un dispositif de visualisation
  • G01P 1/07 - Dispositifs indicateurs, p. ex. pour l'indication à distance

64.

Die embedded in substrate with stress buffer

      
Numéro d'application 17221374
Numéro de brevet 11610851
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-04-02
Date de la première publication 2021-11-04
Date d'octroi 2023-03-21
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

The present disclosure is directed to a package, such as a wafer level chip scale package (WLCSP) or a package containing a semiconductor die, with a die embedded within a substrate that is surrounded by an elastomer. The package includes nonconductive layers on surfaces of the substrate and the elastomer as well as conductive layers and conductive vias that extend through these layers to form electrical connections in the package. The package includes surfaces of the conductive material, which may be referred to as contacts. These surfaces of the conductive material are exposed on both sides of the package and allow the package to be mounted within an electronic device and have other electronic components coupled to the package, or allow the package to be included in a stacked configuration of semiconductor dice or packages.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/538 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre la structure d'interconnexion entre une pluralité de puces semi-conductrices se trouvant au-dessus ou à l'intérieur de substrats isolants
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/683 - Appareils spécialement adaptés pour la manipulation des dispositifs à semi-conducteurs ou des dispositifs électriques à l'état solide pendant leur fabrication ou leur traitementAppareils spécialement adaptés pour la manipulation des plaquettes pendant la fabrication ou le traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou des dispositifs électriques à l'état solide ou de leurs composants pour le maintien ou la préhension

65.

Method for manufacturing leadless semiconductor package with wettable flanks

      
Numéro d'application 17353684
Numéro de brevet 11929259
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-06-21
Date de la première publication 2021-10-07
Date d'octroi 2024-03-12
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Arellano, Ian Harvey
  • Cadag, Aaron
  • Cadag, Ela Mia

Abrégé

The present disclosure is directed to leadless semiconductor packages with improved wettable flanks that encourage the formation of solder fillets when the leadless semiconductor package is mounted to a substrate. The solder fillets are consistently formed and are easily detectable by inspection systems, such as automated optical inspection (AOI) systems.

Classes IPC  ?

  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements

66.

Multiple threshold checkers for specific applications and FFT based breathing detection for presence

      
Numéro d'application 16832515
Numéro de brevet 12016670
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-03-27
Date de la première publication 2021-09-30
Date d'octroi 2024-06-25
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS (France)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar
  • Winterton, Darin K
  • Felter, Pierre-Loic
  • Lemarchand, Olivier

Abrégé

In accordance with embodiments, methods and systems for utilizing multiple threshold checkers are provided. A range sensor collects measurement data. The range sensor examines the measurement data based on multiple threshold checkers to determine satisfaction of a trigger condition. In response to the satisfaction of the trigger condition, the range sensor provides the measurement data to a host computing device of the range sensor.

Classes IPC  ?

  • A61B 5/08 - Dispositifs de mesure pour examiner les organes respiratoires
  • G06F 17/14 - Transformations de Fourier, de Walsh ou transformations d'espace analogues

67.

Multiple threshold checkers for specific applications and FFT based breathing detection for presence

      
Numéro d'application 17081319
Numéro de brevet 12001259
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-10-27
Date de la première publication 2021-09-30
Date d'octroi 2024-06-04
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS (France)
Inventeur(s)
  • Lemarchand, Olivier
  • Felter, Pierre-Loic
  • Winterton, Darin K
  • Vadlamudi-Reddy, Kalyan-Kumar

Abrégé

In accordance with embodiments, methods and systems for utilizing multiple threshold checkers are provided. A range sensor collects measurement data. The range sensor examines the measurement data based on multiple threshold checkers to determine satisfaction of a trigger condition. In response to the satisfaction of the trigger condition, the range sensor provides the measurement data to a host computing device of the range sensor.

Classes IPC  ?

  • G06F 1/3231 - Surveillance de la présence, de l’absence ou du mouvement des utilisateurs
  • G01S 7/41 - Détails des systèmes correspondant aux groupes , , de systèmes selon le groupe utilisant l'analyse du signal d'écho pour la caractérisation de la cibleSignature de cibleSurface équivalente de cible
  • G01S 13/56 - Discrimination entre objets fixes et mobiles ou entre objets se déplaçant à différentes vitesses pour la détection de présence

68.

METHOD AND SYSTEM FOR UPDATING MACHINE LEARNING BASED CLASSIFIERS FOR RECONFIGURABLE SENSORS

      
Numéro d'application 17321251
Statut En instance
Date de dépôt 2021-05-14
Date de la première publication 2021-09-02
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Chowdhary, Mahesh
  • Jain, Mahaveer

Abrégé

A sensor management system includes a cloud-based sensor configuration system and an electronic device. The electronic device includes a sensor unit. The sensor unit includes configuration data that controls operation of the sensor unit. The configuration data includes a classifier that classifies feature sets generated from sensor signals of the sensor unit. The electronic device sends sensor data to the cloud-based sensor configuration system. The cloud-based sensor configuration system analyzes the sensor data and generates a new classifier customized for the sensor unit based on the sensor data. The cloud-based sensor configuration system sends the new classifier to the electronic device. The electronic device replaces the classifier in the sensor unit with the new classifier.

Classes IPC  ?

  • G06N 20/20 - Techniques d’ensemble en apprentissage automatique
  • G06N 5/00 - Agencements informatiques utilisant des modèles fondés sur la connaissance

69.

Lead frame for improving adhesive fillets on semiconductor die corners

      
Numéro d'application 17317818
Numéro de brevet 11664239
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-05-11
Date de la première publication 2021-08-26
Date d'octroi 2023-05-30
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Rodriguez, Rennier
  • Maming, Maiden Grace
  • Talledo, Jefferson

Abrégé

The present disclosure is directed to a lead frame including a die pad with cavities, and methods for attaching a semiconductor die to the lead frame. The cavities allow for additional adhesive to be formed on the die pad at the corners of the semiconductor die, and prevent the additional adhesive from overflowing on to active areas of the semiconductor die.

Classes IPC  ?

  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

70.

Leadframe with pad anchoring members and method of forming the same

      
Numéro d'application 17306363
Numéro de brevet 11699667
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-05-03
Date de la première publication 2021-08-19
Date d'octroi 2023-07-11
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson

Abrégé

A leadframe having extensions around an outer edge of a die pad are disclosed. More specifically, leadframes are created with a flange formed at the outer edge of the die pad and extending away from the die pad. The flange is bent, such that it is positioned at an angle with respect to the die pad. Leadframes are also created with anchoring posts formed adjacent the outer edge of the die pad and extending away from the die pad. The anchoring posts have a central thickness that is less than a thickness of first and second portions opposite the central portion. When the leadframe is incorporated into a package, molding compound completely surrounds each flange or anchoring post, which increases the bond strength between the leadframe and the molding compound due to increased contact area. The net result is a reduced possibility of delamination at edges of the die pad.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou

71.

Device and method for monitoring HVAC air filter

      
Numéro d'application 17137204
Numéro de brevet 12044423
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-29
Date de la première publication 2021-07-08
Date d'octroi 2024-07-23
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Dameno, Matteo
  • Tesi, Mario
  • Bianco, Marco
  • Chowdhary, Mahesh
  • Ferraina, Michele

Abrégé

The present disclosure is directed to an air filter sensor system that can monitor a status of a filter and provide information to a remote system regarding the filter's status. The system can receive, by a computing server via one or more computer networks and from each of a plurality of sensor assemblies coupled to a corresponding plurality of air filters, information indicative of filter contamination levels respectively associated with each corresponding air filter of the plurality of air filters. Each of the respective filter contamination levels being provided by one sensor assembly of the plurality of sensor assemblies based at least in part on a difference in detected air pressure between first and second sides of the corresponding air filter. The system tracks the respective filter contamination levels over a first period of time and determines, by the computing server and based at least in part on the tracking of the respective filter contamination levels, a schedule for one or more maintenance events associated with a first air filter of the plurality of air filters.

Classes IPC  ?

72.

Context awareness of a smart device through sensing transient and continuous events

      
Numéro d'application 17207294
Numéro de brevet 11467180
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-03-19
Date de la première publication 2021-07-08
Date d'octroi 2022-10-11
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V. (Pays‑Bas)
Inventeur(s)
  • Chowdhary, Mahesh
  • Kumar, Arun
  • Singh, Ghanapriya
  • Bahl, Rajendar

Abrégé

A distributed computing system for artificial intelligence in autonomously appreciating a circumstance context of a smart device. Raw context data is detected by sensors associated with the smart device. The raw context data is pre-processed by the smart device and then provided to a cloud based server for further processing. At the cloud based server, various sets of feature data are obtained from the pre-processed context data. The various sets of feature data are compared with corresponding classification parameters to determine a classification of a continuous event and/or a classification of transient event, if any, which occur in the context. The determined classification of the continuous event and the transient event will be used to autonomously configure the smart device or another related smart device to fit the context.

Classes IPC  ?

  • G06F 1/16 - Détails ou dispositions de structure
  • H04W 4/029 - Services de gestion ou de suivi basés sur la localisation
  • G06N 20/10 - Apprentissage automatique utilisant des méthodes à noyaux, p. ex. séparateurs à vaste marge [SVM]
  • G10L 21/10 - Transformation en information visible
  • G06K 9/62 - Méthodes ou dispositions pour la reconnaissance utilisant des moyens électroniques
  • G01P 15/00 - Mesure de l'accélérationMesure de la décélérationMesure des chocs, c.-à-d. d'une variation brusque de l'accélération
  • G01P 15/18 - Mesure de l'accélérationMesure de la décélérationMesure des chocs, c.-à-d. d'une variation brusque de l'accélération dans plusieurs dimensions
  • H04W 4/50 - Fourniture de services ou reconfiguration de services
  • G06F 3/0346 - Dispositifs de pointage déplacés ou positionnés par l'utilisateurLeurs accessoires avec détection de l’orientation ou du mouvement libre du dispositif dans un espace en trois dimensions [3D], p. ex. souris 3D, dispositifs de pointage à six degrés de liberté [6-DOF] utilisant des capteurs gyroscopiques, accéléromètres ou d’inclinaison
  • G10L 25/51 - Techniques d'analyse de la parole ou de la voix qui ne se limitent pas à un seul des groupes spécialement adaptées pour un usage particulier pour comparaison ou différentiation
  • G06F 3/01 - Dispositions d'entrée ou dispositions d'entrée et de sortie combinées pour l'interaction entre l'utilisateur et le calculateur
  • H04M 1/72454 - Interfaces utilisateur spécialement adaptées aux téléphones sans fil ou mobiles avec des moyens permettant d’adapter la fonctionnalité du dispositif dans des circonstances spécifiques en tenant compte des contraintes imposées par le contexte ou par l’environnement
  • G10L 25/78 - Détection de la présence ou de l’absence de signaux de voix
  • H04W 4/38 - Services spécialement adaptés à des environnements, à des situations ou à des fins spécifiques pour la collecte d’informations de capteurs
  • H04L 67/12 - Protocoles spécialement adaptés aux environnements propriétaires ou de mise en réseau pour un usage spécial, p. ex. les réseaux médicaux, les réseaux de capteurs, les réseaux dans les véhicules ou les réseaux de mesure à distance

73.

METHOD AND SYSTEM FOR GENERATING MACHINE LEARNING BASED CLASSIFIERS FOR RECONFIGURABLE SENSOR

      
Numéro d'application 16728822
Statut En instance
Date de dépôt 2019-12-27
Date de la première publication 2021-07-01
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Chowdhary, Mahesh
  • Jain, Mahaveer

Abrégé

A sensor management system includes a cloud-based sensor configuration system and an electronic device. The electronic device includes a sensor unit. The sensor unit includes configuration data that controls operation of the sensor unit. The configuration data includes a classifier that classifies feature sets generated from sensor signals of the sensor unit. The electronic device sends sensor data to the cloud-based sensor configuration system. The cloud-based sensor configuration system analyzes the sensor data and generates a new classifier customized for the sensor unit based on the sensor data. The cloud-based sensor configuration system sends the new classifier to the electronic device. The electronic device replaces the classifier in the sensor unit with the new classifier.

Classes IPC  ?

  • G06N 20/00 - Apprentissage automatique
  • G06N 5/00 - Agencements informatiques utilisant des modèles fondés sur la connaissance

74.

Method, device, and system of measuring eye convergence angle

      
Numéro d'application 16727795
Numéro de brevet 11720170
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-12-26
Date de la première publication 2021-07-01
Date d'octroi 2023-08-08
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s) Barbier, Dominique Paul

Abrégé

An electronic device capable of determining an eye convergence angle using a magnetometer sensor is provided. The magnetometer sensor is capable of reporting angle readings in three dimensions that is aligned with an eye gaze direction of each eye of a user. The magnetometer which is incorporated into the device can fit into a human eye like a contact lens and determine the angle of the gaze direction of both eyes with respect to an object within a field of view. By obtaining this eye convergence angle for an object, it is possible to accurately detect depth information. The electronic device also functions as a digital contact lens that can automatically adjust the focal point of the object to provide the user with a clear vision. The electronic device also includes a display that provides the user with additional information about the object.

Classes IPC  ?

  • G06F 3/01 - Dispositions d'entrée ou dispositions d'entrée et de sortie combinées pour l'interaction entre l'utilisateur et le calculateur
  • G01C 3/06 - Utilisation de moyens électriques pour obtenir une indication finale
  • G01C 3/14 - Mesure des distances dans la ligne de viséeTélémètres optiques en utilisant un triangle parallactique ayant des angles variables et une base de longueur fixe, dans la station d'observation, p. ex. dans l'instrument avec observation binoculaire en un simple point, p. ex. du type stéréoscopique
  • G02C 7/04 - Lentilles de contact pour les yeux
  • G01C 3/22 - Mesure des distances dans la ligne de viséeTélémètres optiques en utilisant un triangle parallactique ayant des angles variables et une base de longueur fixe, se trouvant sur l'objet, au voisinage de celui-ci, ou constitué par l'objet lui-même

75.

Overvoltage protection

      
Numéro d'application 17118028
Numéro de brevet 11394195
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-10
Date de la première publication 2021-06-17
Date d'octroi 2022-07-19
Propriétaire
  • STMicroelectronics (Tours) SAS (France)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Rouviere, Mathieu
  • Blauser, Jr., Jeffrey
  • Grange, Karl
  • Saadna, Mohamed

Abrégé

A power supply interface includes a first switch that couples an input terminal to an output terminal. A voltage dividing bridge is coupled to receive a supply potential. A comparator has a first input connected to a first node of the bridge and a second input configured to receive a constant potential. A digital-to-analog converter generates a control voltage that is selectively coupled by a second switch to a second node of the bridge. A circuit control controls actuation of the second switch based on operating mode and generates a digital value input to the converter based on a negotiated set point of the supply potential applied to the input terminal.

Classes IPC  ?

  • H02H 3/20 - Circuits de protection de sécurité pour déconnexion automatique due directement à un changement indésirable des conditions électriques normales de travail avec ou sans reconnexion sensibles à un excès de tension
  • G06F 1/26 - Alimentation en énergie électrique, p. ex. régulation à cet effet
  • G06F 11/30 - Surveillance du fonctionnement
  • G06F 1/28 - Surveillance, p. ex. détection des pannes d'alimentation par franchissement de seuils
  • G06F 1/30 - Moyens pour agir en cas de panne ou d'interruption d'alimentation
  • H02J 7/34 - Fonctionnement en parallèle, dans des réseaux, de batteries avec d'autres sources à courant continu, p. ex. batterie tampon
  • G06F 1/3234 - Économie d’énergie caractérisée par l'action entreprise
  • G06F 13/42 - Protocole de transfert pour bus, p. ex. liaisonSynchronisation

76.

Capless semiconductor package with a micro-electromechanical system (MEMS)

      
Numéro d'application 17103796
Numéro de brevet 11897763
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-11-24
Date de la première publication 2021-06-17
Date d'octroi 2024-02-13
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson Sismundo

Abrégé

A semiconductor package that contains an application-specific integrated circuit (ASIC) die and a micro-electromechanical system (MEMS) die. The MEMS die and the ASIC die are coupled to a substrate that includes an opening that extends through the substrate and is in fluid communication with an air cavity positioned between and separating the MEMS die from the substrate. The opening exposes the air cavity to an external environment and, following this, the air cavity exposes a MEMS element of the MEMS die to the external environment. The air cavity separating the MEMS die from the substrate is formed with a method of manufacturing that utilizes a thermally decomposable die attach material.

Classes IPC  ?

  • B81C 1/00 - Fabrication ou traitement de dispositifs ou de systèmes dans ou sur un substrat
  • B81B 7/00 - Systèmes à microstructure

77.

Smart push button device utilizing MEMS sensors

      
Numéro d'application 16696772
Numéro de brevet 11407098
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-11-26
Date de la première publication 2021-05-27
Date d'octroi 2022-08-09
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.R.L. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Bianco, Marco
  • Bracco, Lorenzo
  • Chowdhary, Mahesh
  • Mura, Roberto
  • Rivolta, Stefano Paolo
  • Rizzardini, Federico

Abrégé

A device for generating a control signal based on the linear movement of a linear member is provided. The device includes a linear member, a rotatable member, a first inertial measurement unit (IMU) coupled to the rotatable member and a second IMU having a fixed position. The device also includes a processing circuit which uses sensing signals from the IMUS to determine an attitude of the first IMU referenced to the second IMU and generate a control signal based on the attitude.

Classes IPC  ?

  • B25F 5/00 - Détails ou parties constitutives d'outils portatifs à moteur sans relation spécifique avec les opérations exécutées et non prévus ailleurs
  • B23B 45/00 - Perceuses tenues à la main ou perceuses analogues portatives, p. ex. en forme de pistoletÉquipement à cet effet
  • G01C 19/00 - GyroscopesDispositifs sensibles à la rotation utilisant des masses vibrantesDispositifs sensibles à la rotation sans masse en mouvementMesure de la vitesse angulaire en utilisant les effets gyroscopiques

78.

Flat no-lead package with surface mounted structure

      
Numéro d'application 17139669
Numéro de brevet 12159820
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-31
Date de la première publication 2021-05-20
Date d'octroi 2024-12-03
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Rodriguez, Rennier
  • Agudon, Aiza Marie
  • Maming, Maiden Grace

Abrégé

The present disclosure is directed to a flat no-lead semiconductor package with a surfaced mounted structure. An end portion of the surface mounted structure includes a recessed member so that the surface mounted structure is coupled to leads of the flat no-lead semiconductor package through, among others, the sidewalls of the recessed members.

Classes IPC  ?

79.

Package with interlocking leads and manufacturing the same

      
Numéro d'application 17137262
Numéro de brevet 11557548
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-29
Date de la première publication 2021-04-22
Date d'octroi 2023-01-17
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Cadag, Aaron
  • Belalo, Lester Joseph
  • Cadag, Ela Mia

Abrégé

A semiconductor package formed utilizing multiple etching steps includes a lead frame, a die, and a molding compound. The lead frame includes leads and a die pad. The leads and the die pad are formed from a first conductive material by the multiple etching steps. More specifically, the leads and the die pad of the lead frame are formed by at least three etching steps. The at least three etching steps including a first etching step, a second undercut etching step, and a third backside etching step. The second undercut etching step forming interlocking portions at an end of each lead. The end of the lead is encased in the molding compound. This encasement of the end of the lead with the interlocking portion allows the interlocking portion to mechanically interlock with the molding compound to avoid lead pull out. In addition, by utilizing at least three etching steps the leads can be formed to have a height that is greater than the die pad of the lead frame. This differential in height reduces the span of wires used to form electrical connections within the semiconductor package. These reductions in the span of the wires reduces the chances of wire to wire and wire to die short circuiting because the wire sweep of the wires is reduced when the molding compound is placed.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 21/78 - Fabrication ou traitement de dispositifs consistant en une pluralité de composants à l'état solide ou de circuits intégrés formés dans ou sur un substrat commun avec une division ultérieure du substrat en plusieurs dispositifs individuels

80.

Flat no-lead package with surface mounted structure

      
Numéro d'application 17131222
Numéro de brevet 12074100
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-22
Date de la première publication 2021-04-15
Date d'octroi 2024-08-27
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Rodriguez, Rennier
  • Agudon, Aiza Marie
  • Maming, Maiden Grace

Abrégé

The present disclosure is directed to a flat no-lead semiconductor package with a surfaced mounted structure. An end portion of the surface mounted structure includes a recessed member so that the surface mounted structure is coupled to leads of the flat no-lead semiconductor package through, among others, the sidewalls of the recessed members.

Classes IPC  ?

81.

Double-tap event detection device, system and method

      
Numéro d'application 17122999
Numéro de brevet 11579710
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-15
Date de la première publication 2021-04-08
Date d'octroi 2023-02-14
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Rivolta, Stefano Paolo
  • Jain, Mahaveer
  • Bhargava, Ashish

Abrégé

Digital signal processing circuitry, in operation, determines, based on accelerometer data, a carry-position of a device. Double-tap detection parameters are set using the determined carry-position. Double-taps are detected using the set double-tap detection parameters. In response to detection of a double-tap, control signals, such as a flag or an interrupt signal, are generated and used to control operation of the device. For example, a device may enter a wake mode of operation in response to detection of a double-tap.

Classes IPC  ?

  • G06F 3/0346 - Dispositifs de pointage déplacés ou positionnés par l'utilisateurLeurs accessoires avec détection de l’orientation ou du mouvement libre du dispositif dans un espace en trois dimensions [3D], p. ex. souris 3D, dispositifs de pointage à six degrés de liberté [6-DOF] utilisant des capteurs gyroscopiques, accéléromètres ou d’inclinaison
  • G06F 3/0487 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] utilisant des caractéristiques spécifiques fournies par le périphérique d’entrée, p. ex. des fonctions commandées par la rotation d’une souris à deux capteurs, ou par la nature du périphérique d’entrée, p. ex. des gestes en fonction de la pression exercée enregistrée par une tablette numérique

82.

Power supply package with built-in radio frequency identification tag

      
Numéro d'application 17108646
Numéro de brevet 11250224
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-12-01
Date de la première publication 2021-03-25
Date d'octroi 2022-02-15
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s) Tran, John N.

Abrégé

A method includes providing a power supply package (PSP) that includes a power supply, an RFID tag, and a power switch, where a control terminal of the power switch is coupled to an output terminal of the RFID tag, and load path terminals of the power switch are coupled between an output terminal of the PSP and a first terminal of the power supply, where a control register of the RFID tag is pre-programmed with a first value such that the RFID tag is configured to generate a first control signal that turns off the power switch; receiving, by the RFID tag, a second value for the control register of the RFID tag; and writing, by the RFID tag, the second value to the control register of the RFID tag such that the RFID tag is configured to generate a second control signal that turns on the power switch.

Classes IPC  ?

  • G06K 7/10 - Méthodes ou dispositions pour la lecture de supports d'enregistrement par radiation électromagnétique, p. ex. lecture optiqueMéthodes ou dispositions pour la lecture de supports d'enregistrement par radiation corpusculaire
  • G06K 19/07 - Supports d'enregistrement avec des marques conductrices, des circuits imprimés ou des éléments de circuit à semi-conducteurs, p. ex. cartes d'identité ou cartes de crédit avec des puces à circuit intégré

83.

Semiconductor device having cavities at an interface of an encapsulant and a die pad or leads

      
Numéro d'application 16996712
Numéro de brevet 11393774
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-08-18
Date de la première publication 2021-02-25
Date d'octroi 2022-07-19
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Arellano, Ian Harvey

Abrégé

In various embodiments, the present disclosure provides semiconductor devices, packages, and methods. In one embodiment, a device includes a die pad, a lead that is spaced apart from the die pad, and an encapsulant on the die pad and the lead. A plurality of cavities extends into at least one of the die pad or the lead to a depth from a surface of the at least one of the die pad or the lead. The depth is within a range from 0.5 μm to 5 μm. The encapsulant extends into the plurality of cavities. The cavities facilitate improved adhesion between the die pad or lead and the encapsulant, as the cavities increase a surface area of contact with the encapsulant, and further increase a mechanical interlock with the encapsulant, as the cavities may have a rounded or semi-spherical shape.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou

84.

Adaptive laser power and ranging limit for time of flight sensor

      
Numéro d'application 17064398
Numéro de brevet 12313789
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-10-06
Date de la première publication 2021-02-04
Date d'octroi 2025-05-27
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Yang, Xiaoyong
  • Xiao, Rui
  • Deleule, Arnaud

Abrégé

A time of flight range detection device includes a laser configured to transmit an optical pulse into an image scene, a return single-photon avalanche diode (SPAD) array, a reference SPAD array, a range detection circuit coupled to the return SPAD array and the reference SPAD array, and a laser driver circuit. The range detection circuit in operation determines a distance to an object based on signals from the return SPAD array and the reference SPAD array. The laser driver circuit in operation varies an output power level of the laser in response to the determined distance to the object.

Classes IPC  ?

  • G01S 7/484 - Émetteurs
  • G01S 7/486 - Récepteurs
  • G01S 17/10 - Systèmes déterminant les données relatives à la position d'une cible pour mesurer la distance uniquement utilisant la transmission d'ondes à modulation d'impulsion interrompues

85.

Method to induce strain in 3-D microfabricated structures

      
Numéro d'application 17074121
Numéro de brevet 11569384
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-10-19
Date de la première publication 2021-02-04
Date d'octroi 2023-01-31
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Loubet, Nicolas
  • Morin, Pierre

Abrégé

Methods and structures for forming strained-channel finFETs are described. Fin structures for finFETs may be formed in two epitaxial layers that are grown over a bulk substrate. A first thin epitaxial layer may be cut and used to impart strain to an adjacent channel region of the finFET via elastic relaxation. The structures exhibit a preferred design range for increasing induced strain and uniformity of the strain over the fin height.

Classes IPC  ?

  • H01L 27/088 - Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun comprenant des éléments de circuit passif intégrés avec au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface le substrat étant un corps semi-conducteur comprenant uniquement des composants semi-conducteurs d'un seul type comprenant uniquement des composants à effet de champ les composants étant des transistors à effet de champ à porte isolée
  • H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
  • H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
  • H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
  • H01L 29/165 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en dans différentes régions semi-conductrices
  • H01L 29/15 - Structures avec une variation de potentiel périodique ou quasi périodique, p.ex. puits quantiques multiples, superréseaux
  • H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
  • H01L 29/161 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en

86.

Semiconductor package with flexible interconnect

      
Numéro d'application 16934981
Numéro de brevet 11542152
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-07-21
Date de la première publication 2021-02-04
Date d'octroi 2023-01-03
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson

Abrégé

A cavity type semiconductor package with a substrate and a cap is disclosed. The semiconductor package includes a first semiconductor die coupled to the substrate and a layer of flexible material on a surface of the cap. A trace is on the layer of flexible material. The cap is coupled to the substrate with the layer of flexible material and the trace between the cap and the substrate. A second semiconductor die is coupled to the layer of flexible material and the trace on the cap. The cap further includes an aperture to expose the second semiconductor die to the ambient environment. The layer of flexible material absorbs stress during operation cycles of the package induced by the different coefficient of thermal expansions of the cap and the substrate to reduce the likelihood of separation of the cap from the substrate.

Classes IPC  ?

  • B81B 7/00 - Systèmes à microstructure
  • B81C 1/00 - Fabrication ou traitement de dispositifs ou de systèmes dans ou sur un substrat

87.

MEMS gyroscope control circuit

      
Numéro d'application 16452850
Numéro de brevet 11175138
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-06-26
Date de la première publication 2020-12-31
Date d'octroi 2021-11-16
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Fang, Deyou
  • Tsai, Chao-Ming
  • Alwardi, Milad
  • Hu, Yamu
  • Mcclure, David

Abrégé

A microelectromechanical system (MEMS) gyroscope includes a driving mass and a driving circuit that operates to drive the driving mass in a mechanical oscillation at a resonant drive frequency. An oscillator generates a system clock that is independent of and asynchronous to the resonant drive frequency. A clock generator circuit outputs a first clock and a second clock that are derived from the system clock. The drive loop of the driving circuit including an analog-to-digital converter (ADC) circuit that is clocked by the first clock and a digital signal processing (DSP) circuit that is clocked by the second clock.

Classes IPC  ?

  • G01C 19/5726 - Traitement du signal
  • G01C 25/00 - Fabrication, étalonnage, nettoyage ou réparation des instruments ou des dispositifs mentionnés dans les autres groupes de la présente sous-classe
  • G01C 19/5733 - Details de structure ou topologie

88.

MEMS accelerometer self-test using an active mobile mass deflection technique

      
Numéro d'application 16452904
Numéro de brevet 11320452
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-06-26
Date de la première publication 2020-12-31
Date d'octroi 2022-05-03
Propriétaire
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
  • STMicroelectronics S.r.l. (Italie)
Inventeur(s)
  • Hu, Yamu
  • Mcclure, David
  • Tocchio, Alessandro
  • Sahoo, Naren K.
  • Casillan, Anthony Junior

Abrégé

A microelectromechanical system (MEMS) accelerometer sensor has a mobile mass and a sensing capacitor. To self-test the sensor, a test signal is applied to the sensing capacitor during a reset phase of a sensing circuit coupled to the sensing capacitor. The test signal is configured to cause an electrostatic force which produces a physical displacement of the mobile mass corresponding to a desired acceleration value. Then, during a read phase of the sensing circuit, a variation in capacitance of sensing capacitor due to the physical displacement of the mobile mass is sensed. This sensed variation in capacitance is converted to a sensed acceleration value. A comparison of the sensed acceleration value to the desired acceleration value provides an indication of an error in operation of the MEMS accelerometer sensor if the sensed acceleration value and desired acceleration value are not substantially equal.

Classes IPC  ?

  • G01P 21/00 - Essai ou étalonnage d'appareils ou de dispositifs couverts par les autres groupes de la présente sous-classe
  • G01P 15/08 - Mesure de l'accélérationMesure de la décélérationMesure des chocs, c.-à-d. d'une variation brusque de l'accélération en ayant recours aux forces d'inertie avec conversion en valeurs électriques ou magnétiques

89.

Semiconductor package with a cavity in a die pad for reducing voids in the solder

      
Numéro d'application 16910824
Numéro de brevet 11133241
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-06-24
Date de la première publication 2020-12-31
Date d'octroi 2021-09-28
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (Philippines)
Inventeur(s) Talledo, Jefferson

Abrégé

A semiconductor package having an aperture in a die pad and solder in the aperture coplanar with a surface of the package is disclosed. The package includes a die pad, a plurality of leads, and a semiconductor die coupled to the die pad with a die attach material. A cavity or aperture is formed through the die pad to expose a portion of the die attach material. Multiple solder reflows are performed to reduce the presence of voids in the die attach material. In a first solder reflow, the voids of trapped gas that form when attaching the die to the die pad are released. Then, in a second solder reflow, solder is added to the aperture coplanar with a surface of the die pad. The additional solder can be the same material as the die attach material or a different material.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/44 - Dispositions pour le refroidissement, le chauffage, la ventilation ou la compensation de la température le dispositif complet étant totalement immergé dans un fluide autre que l'air
  • H01L 23/48 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p. ex. fils de connexion ou bornes
  • H01L 21/00 - Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
  • H01R 9/00 - Association structurelle de plusieurs éléments de connexion électrique isolés les uns des autres, p. ex. barrettes de raccordement ou blocs de connexionBornes ou plots de raccordement montés sur un socle ou dans un coffretLeurs socles
  • H05K 5/02 - Enveloppes, coffrets ou tiroirs pour appareils électriques Détails
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

90.

Power supply package with built-in radio frequency identification tag

      
Numéro d'application 16581019
Numéro de brevet 10878207
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-09-24
Date de la première publication 2020-12-29
Date d'octroi 2020-12-29
Propriétaire STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s) Tran, John N.

Abrégé

A method includes providing a power supply package (PSP) that includes a power supply, an RFID tag, and a power switch, where a control terminal of the power switch is coupled to an output terminal of the RFID tag, and load path terminals of the power switch are coupled between an output terminal of the PSP and a first terminal of the power supply, where a control register of the RFID tag is pre-programmed with a first value such that the RFID tag is configured to generate a first control signal that turns off the power switch; receiving, by the RFID tag, a second value for the control register of the RFID tag; and writing, by the RFID tag, the second value to the control register of the RFID tag such that the RFID tag is configured to generate a second control signal that turns on the power switch.

Classes IPC  ?

  • G06K 19/00 - Supports d'enregistrement pour utilisation avec des machines et avec au moins une partie prévue pour supporter des marques numériques
  • G06K 7/10 - Méthodes ou dispositions pour la lecture de supports d'enregistrement par radiation électromagnétique, p. ex. lecture optiqueMéthodes ou dispositions pour la lecture de supports d'enregistrement par radiation corpusculaire
  • G06K 19/07 - Supports d'enregistrement avec des marques conductrices, des circuits imprimés ou des éléments de circuit à semi-conducteurs, p. ex. cartes d'identité ou cartes de crédit avec des puces à circuit intégré

91.

Method and apparatus for cryptographically aligning and binding a secure element with a host device

      
Numéro d'application 16425118
Numéro de brevet 11444759
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-05-29
Date de la première publication 2020-12-03
Date d'octroi 2022-09-13
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s) Pilozzi, Giuseppe

Abrégé

A method of cryptographically binding a secure element to a host device includes storing host key information in a host key information slot of the secure element and storing binding information in secure memory of the secure element. The binding information is correlated with the host key information. The method includes storing a second secret key within system operational code of the host device. The second secret key is cryptographically correlated with the host key information. The method includes, after storing the binding information and after storing the second secret key, operationally coupling the secure element to the host device, reading, by the host device, the binding information from the secure element, generating, by the host device, the host key information using the binding information and the second secret key, and storing, by the host device, the host key information in a host key information slot of the host device.

Classes IPC  ?

  • H04L 9/08 - Répartition de clés
  • G06F 8/61 - Installation
  • G06F 11/14 - Détection ou correction d'erreur dans les données par redondance dans les opérations, p. ex. en utilisant différentes séquences d'opérations aboutissant au même résultat
  • H04L 9/14 - Dispositions pour les communications secrètes ou protégéesProtocoles réseaux de sécurité utilisant plusieurs clés ou algorithmes
  • H04L 9/30 - Clé publique, c.-à-d. l'algorithme de chiffrement étant impossible à inverser par ordinateur et les clés de chiffrement des utilisateurs n'exigeant pas le secret
  • H04L 9/32 - Dispositions pour les communications secrètes ou protégéesProtocoles réseaux de sécurité comprenant des moyens pour vérifier l'identité ou l'autorisation d'un utilisateur du système

92.

Package with lead frame with improved lead design for discrete electrical components and manufacturing the same

      
Numéro d'application 16945641
Numéro de brevet 11404355
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-07-31
Date de la première publication 2020-11-19
Date d'octroi 2022-08-02
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS PTE LTD (Singapour)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Rodriguez, Rennier
  • Bacquian, Bryan Christian
  • Maming, Maiden Grace
  • Gani, David

Abrégé

A semiconductor package includes a lead frame, a die, a discrete electrical component, and electrical connections. The lead frame includes leads and a die pad. Some of the leads include engraved regions that have recesses therein and the die pad may include an engraved region or multiple engraved regions. Each engraved region is formed to contain and confine a conductive adhesive from flowing over the edges of the engraved leads or the die pad. The boundary confines the conductive adhesive to the appropriate location on the engraved lead or the engraved die pad when being placed on the engraved regions. By utilizing a lead frame with engraved regions, the flow of the conductive adhesive or the wettability of the conductive adhesive can be contained and confined to the appropriate areas of the engraved lead or engraved die pad such that a conductive adhesive does not cause cross-talk between electrical components within a semiconductor package or short circuiting within a semiconductor package.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/495 - Cadres conducteurs
  • H01L 23/31 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 21/56 - Encapsulations, p. ex. couches d’encapsulation, revêtements
  • H01L 21/78 - Fabrication ou traitement de dispositifs consistant en une pluralité de composants à l'état solide ou de circuits intégrés formés dans ou sur un substrat commun avec une division ultérieure du substrat en plusieurs dispositifs individuels
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
  • H01L 21/683 - Appareils spécialement adaptés pour la manipulation des dispositifs à semi-conducteurs ou des dispositifs électriques à l'état solide pendant leur fabrication ou leur traitementAppareils spécialement adaptés pour la manipulation des plaquettes pendant la fabrication ou le traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou des dispositifs électriques à l'état solide ou de leurs composants pour le maintien ou la préhension

93.

Mobile device transportation mode management device, system and method

      
Numéro d'application 16892161
Numéro de brevet 10868906
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-06-03
Date de la première publication 2020-11-12
Date d'octroi 2020-12-15
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

A portable device includes one or more memories and travel mode control circuitry coupled to the one or more memories. The travel mode control circuitry, in operation, monitors motion data and detects a first travel state of the device based on the monitored motion data and an acceleration profile. When the first travel state of the device is detected, motion data and pressure data are monitored to detect a transition from the first travel state to a second travel state of the device. When the transition to the second travel state of the device is detected, one or more control signals are generated to cause the device to enter a first travel mode of operation.

Classes IPC  ?

  • H04M 1/00 - Équipement de sous-station, p. ex. pour utilisation par l'abonné
  • H04M 1/725 - Téléphones sans fil

94.

Inertial navigation system capable of dead reckoning in vehicles

      
Numéro d'application 16399842
Numéro de brevet 11747142
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-04-30
Date de la première publication 2020-11-05
Date d'octroi 2023-09-05
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh
  • Mura, Roberto
  • Palella, Nicola Matteo
  • Colombo, Leonardo

Abrégé

A device including microelectromechanical systems (MEMS) sensors are used in dead reckoning in conditions where Global Positioning System (GPS) signals or Global Navigation Satellite System (GNSS) signals are lost. The device is capable of tracking the location of the device after the GPS/GNSS signals are lost by using MEMS sensors such as accelerometers and gyroscopes. By calculating a misalignment angle between a forward axis of a sensor frame of the device and a forward axis of a vehicle frame using the data received from the MEMS sensors, the device can accurately calculate the location of a user or the vehicle of the device even without the GPS/GNSS signals. Accordingly, a device capable of tracking the location of the user riding in the vehicle in GPS/GNSS signals absent environment can be provided.

Classes IPC  ?

  • G01C 21/16 - NavigationInstruments de navigation non prévus dans les groupes en utilisant des mesures de la vitesse ou de l'accélération exécutées à bord de l'objet navigantNavigation à l'estime en intégrant l'accélération ou la vitesse, c.-à-d. navigation par inertie
  • G01C 21/20 - Instruments pour effectuer des calculs de navigation
  • G01S 19/49 - Détermination de position en combinant ou en commutant entre les solutions de position dérivées du système de positionnement par satellite à radiophares et les solutions de position dérivées d'un autre système l'autre système étant un système de position inertielle, p. ex. en hybridation lâche

95.

Dead reckoning by determining misalignment angle between movement direction and sensor heading direction

      
Numéro d'application 16399829
Numéro de brevet 11199410
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-04-30
Date de la première publication 2020-11-05
Date d'octroi 2021-12-14
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

A device including microelectromechanical systems (MEMS) sensors is used in dead reckoning in conditions where Global Positioning System (GPS) signals or Global Navigation Satellite System (GNSS) signals are lost. The device is capable of tracking the location of the device after the GPS/GNSS signals are lost by using MEMS sensors such as accelerometers and gyroscopes. By calculating a misalignment angle between a sensor frame of the device with either the movement direction of the vehicle or the walking direction of a pedestrian using the MEMS sensors, the device can accurately calculate the location of a user of the device even without the GPS/GNSS signals. Accordingly, a device capable of tracking the location of a pedestrian and a user riding in a vehicle without utilizing GPS/GNSS signals can be provided.

Classes IPC  ?

  • G01C 21/16 - NavigationInstruments de navigation non prévus dans les groupes en utilisant des mesures de la vitesse ou de l'accélération exécutées à bord de l'objet navigantNavigation à l'estime en intégrant l'accélération ou la vitesse, c.-à-d. navigation par inertie
  • G01C 21/20 - Instruments pour effectuer des calculs de navigation
  • G01C 21/28 - NavigationInstruments de navigation non prévus dans les groupes spécialement adaptés pour la navigation dans un réseau routier avec corrélation de données de plusieurs instruments de navigation
  • G01S 19/47 - Détermination de position en combinant les mesures des signaux provenant du système de positionnement satellitaire à radiophares avec une mesure supplémentaire la mesure supplémentaire étant une mesure inertielle, p. ex. en hybridation serrée

96.

Lead stabilization in semiconductor packages

      
Numéro d'application 16848635
Numéro de brevet 12211774
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-04-14
Date de la première publication 2020-10-29
Date d'octroi 2025-01-28
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (Philippines)
Inventeur(s)
  • Cadag, Ela Mia
  • Gomez, Frederick Ray
  • Cadag, Aaron

Abrégé

Generally described, one or more embodiments are directed to semiconductor packages comprising a plurality of leads and methods of forming same. The plurality of leads include active leads that are electrically coupled to bond pads of a semiconductor die and thereby coupled to active components of the semiconductor die, and inactive leads that are not electrically coupled to bond pads of the semiconductor die. The active leads have surfaces that are exposed at a lower surface of the semiconductor package and forms lands, while the inactive leads are not exposed at the lower surface of the package.

Classes IPC  ?

  • H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
  • H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p. ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes ou
  • H01L 23/00 - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

97.

Door unlock mechanism

      
Numéro d'application 16375577
Numéro de brevet 11613918
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-04-04
Date de la première publication 2020-10-08
Date d'octroi 2023-03-28
Propriétaire
  • STMicroelectronics S.r.l. (Italie)
  • STMicroelectronics, Inc. (USA)
Inventeur(s)
  • Sy, Williamson
  • Piccinelli, Emiliano Mario
  • Walters, Keith

Abrégé

A method and device for unlatching a door from a frame, using a keyless door latch system, is provided. In one embodiment, a secondary unlocking component receives a signal and derives power from the signal to provide a power source for the keyless door latch system. A microcontroller generates a control signal and an actuator, in response to receiving the control signal, actuates the secondary unlocking component, which allows an energy source, from an exterior of the door, to be transferred to the keyless door latch system for the unlatching of the door.

Classes IPC  ?

  • E05B 81/90 - Actionnement manuel de secours en cas de panne d’alimentation en énergie
  • E05B 77/54 - Verrouillage ou déverrouillage automatique de pênes provoqué par certains paramètres du véhicule, p. ex. par le dépassement d’un seuil de vitesse
  • E05B 81/46 - Embrayages
  • E05B 81/56 - Commande d'actionneurs
  • E05B 81/80 - Circuits électriques caractérisés par l’alimentation électriqueAlimentation de secours
  • B60R 25/24 - Moyens pour enclencher ou arrêter le système antivol par des éléments d’identification électroniques comportant un code non mémorisé par l’utilisateur
  • E05B 77/02 - Serrures de véhicule caractérisées par des fonctions ou des fins particulières pour des situations d’accident

98.

Mobile device transportation mode management device, system and method

      
Numéro d'application 16703692
Numéro de brevet 10708413
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-12-04
Date de la première publication 2020-07-07
Date d'octroi 2020-07-07
Propriétaire STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Jain, Mahaveer
  • Chowdhary, Mahesh

Abrégé

A portable device includes one or more memories and travel mode control circuitry coupled to the one or more memories. The travel mode control circuitry, in operation, monitors motion data and temperature data to detect a first travel state of the device. When the first travel state of the device is detected, motion data and pressure data are monitored to detect a transition from the first travel state to a second travel state of the device. When the transition to the second travel state of the device is detected, one or more control signals are generated to cause the device to enter a first travel mode of operation.

Classes IPC  ?

  • H04M 1/00 - Équipement de sous-station, p. ex. pour utilisation par l'abonné
  • H04M 1/725 - Téléphones sans fil

99.

Forming replacement low-k spacer in tight pitch fin field effect transistors

      
Numéro d'application 16743293
Numéro de brevet 11374111
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-01-15
Date de la première publication 2020-05-14
Date d'octroi 2022-06-28
Propriétaire
  • INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION (USA)
  • GLOBALFOUNDRIES INC. (Îles Caïmanes)
  • STMICROELECTRONICS, INC. (USA)
Inventeur(s)
  • Cai, Xiuyu
  • Yeh, Chun-Chen
  • Liu, Qing
  • Xie, Ruilong

Abrégé

A semiconductor device that a fin structure, and a gate structure present on a channel region of the fin structure. A composite spacer is present on a sidewall of the gate structure including an upper portion having a first dielectric constant, a lower portion having a second dielectric constant that is less than the first dielectric constant, and an etch barrier layer between sidewalls of the first and second portion of the composite spacer and the gate structure. The etch barrier layer may include an alloy including at least one of silicon, boron and carbon.

Classes IPC  ?

  • H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
  • H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
  • H01L 29/417 - Electrodes caractérisées par leur forme, leurs dimensions relatives ou leur disposition relative transportant le courant à redresser, à amplifier ou à commuter
  • H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
  • H01L 21/768 - Fixation d'interconnexions servant à conduire le courant entre des composants distincts à l'intérieur du dispositif
  • H01L 29/08 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode transportant le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
  • H01L 29/161 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en
  • H01L 29/165 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée comprenant plusieurs des éléments prévus en dans différentes régions semi-conductrices

100.

Control circuit for power switch

      
Numéro d'application 16719053
Numéro de brevet 10917087
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-12-18
Date de la première publication 2020-04-23
Date d'octroi 2021-02-09
Propriétaire
  • STMICROELECTRONICS S.r.l. (Italie)
  • STMICROELECTRONICS, Inc. (USA)
  • STMICROELECTRONICS (ALPS) SAS (France)
Inventeur(s)
  • Poletto, Vanni
  • Swanson, David F.
  • Torrisi, Giovanni Luca
  • Chevalier, Laurent

Abrégé

A circuit for controlling a first plurality of transistors connected in parallel and a second plurality of transistors connected in parallel, includes: a first plurality of stages, a respective one of the first plurality of stages being configured to supply a first control signal to a respective one of the first plurality of transistors; and a second plurality of stages, a respective one of the second plurality of stages being configured to supply a second control signal to a respective one of the second plurality of transistors. An output current of the respective one of the first plurality of stages is regulated based on a difference between a first value representative of a sum of output currents of each stage of the first plurality of stages and a second value representative of a sum of set points assigned to the first plurality of stages.

Classes IPC  ?

  • H03K 17/687 - Commutation ou ouverture de porte électronique, c.-à-d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts caractérisée par l'utilisation de composants spécifiés par l'utilisation, comme éléments actifs, de dispositifs à semi-conducteurs les dispositifs étant des transistors à effet de champ
  • G01R 19/165 - Indication de ce qu'un courant ou une tension est, soit supérieur ou inférieur à une valeur prédéterminée, soit à l'intérieur ou à l'extérieur d'une plage de valeurs prédéterminée
  • G05B 11/42 - Commandes automatiques électriques avec les dispositions nécessaires pour obtenir des caractéristiques particulières, p. ex. proportionnelles, intégrales, différentielles pour obtenir une caractéristique à la fois proportionnelle et dépendante du temps, p. ex. P.I., P.I.D.
  • G05F 1/618 - Régulation de la tension ou de l'intensité là où la variable effectivement régulée par le dispositif de réglage final est du type continu utilisant des dispositifs à semi-conducteurs en série et en parallèle avec la charge comme dispositifs de réglage final
  • G05F 1/56 - Régulation de la tension ou de l'intensité là où la variable effectivement régulée par le dispositif de réglage final est du type continu utilisant des dispositifs à semi-conducteurs en série avec la charge comme dispositifs de réglage final
  • H02J 7/34 - Fonctionnement en parallèle, dans des réseaux, de batteries avec d'autres sources à courant continu, p. ex. batterie tampon
  1     2     3     4        Prochaine page