- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2204 - Supports d’échantillons à cet effetMoyens de transport des échantillons à cet effet
Détention brevets de la classe G01N 23/2204
Brevets de cette classe: 144
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Shimadzu Corporation | 6132 |
12 |
| Rigaku Corporation | 427 |
10 |
| Sigray, Inc. | 77 |
7 |
| FEI Company | 937 |
6 |
| Battelle Memorial Institute | 2471 |
5 |
| National Institute for Materials Science | 1108 |
5 |
| Institute of Microbiology, Chinese Academy of Sciences | 117 |
4 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5241 |
4 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 14424 |
4 |
| Hitachi, Ltd. | 15434 |
3 |
| Nikon Metrology, NV | 65 |
3 |
| HORIBA, Ltd. | 809 |
3 |
| JEOL Ltd. | 572 |
3 |
| SPECS Surface Nano Analysis GmbH | 55 |
3 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 601 |
2 |
| Korea Institute of Science and Technology | 2114 |
2 |
| Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation | 1643 |
2 |
| Enersoft Inc. | 41 |
2 |
| Materials Analysis Technology Inc | 30 |
2 |
| Nanjing University of Aeronautics and Astronautics | 419 |
2 |
| Autres propriétaires | 60 |