Enf Technology Co., Ltd.

République de Corée

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Type PI
        Brevet 50
        Marque 3
Juridiction
        États-Unis 33
        International 20
Date
Nouveautés (dernières 4 semaines) 1
2025 octobre (MACJ) 1
2025 août 1
2025 (AACJ) 12
2024 4
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Classe IPC
C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique 14
C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor 12
B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés 8
C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés 8
C08F 2/06 - Solvant organique 8
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Classe NICE
01 - Produits chimiques destinés à l'industrie, aux sciences ainsi qu'à l'agriculture 3
35 - Publicité; Affaires commerciales 3
36 - Services financiers, assurances et affaires immobilières 2
Statut
En Instance 13
Enregistré / En vigueur 40

1.

ETCHANT COMPOSITION FOR METAL LAYER CONTAINING SILVER AND PREPARATION METHOD THEREOF

      
Numéro d'application 19079711
Statut En instance
Date de dépôt 2025-03-14
Date de la première publication 2025-10-02
Propriétaire
  • ENF Technology Co., Ltd. (République de Corée)
  • Samsung Display Co., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Boyeon
  • Kim, Jaeyeop
  • Kim, Sehoon
  • Park, Heejin
  • Jang, Jihoon
  • Lee, Jonghwa
  • Kim, Jinhyung
  • Lee, Sok-Ho
  • Kim, Youngmin

Abrégé

The present invention relates to a composition for selectively etching metal film containing silver (Ag), and a method for producing the same, which can selectively etch the single film of silver (Ag) or a silver alloy, or a multilayer film containing the metal film and an indium oxide film, while preventing damage to an underlying film, residue, and staining.

Classes IPC  ?

  • C23F 1/30 - Compositions acides pour les autres matériaux métalliques
  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique

2.

ETCHANT COMPOSITION FOR INDIUM OXIDE FILM OR SILVER-CONTAINING METAL FILM AND METHOD FOR PREPARING THE SAME

      
Numéro d'application 19201087
Statut En instance
Date de dépôt 2025-05-07
Date de la première publication 2025-08-21
Propriétaire
  • Samsung Display Co., Ltd. (République de Corée)
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Hyoungsik
  • Park, Jonghee
  • Kim, Sehoon
  • Lee, Boyeon
  • Kim, Yangryeong
  • Jung, Seokil
  • Kim, Ikjoon
  • Park, Sangseung
  • Noh, Wonho
  • Jeong, Mingyeong

Abrégé

An etchant composition is disclosed that provides selective etching of an indium oxide film or a sliver-containing metal layer. The etchant composition includes nitric acid, an organic acid, a sulfur compound, and a tin compound. The organic acid does not include the elements of sulfur and tin. The sulfur compound does not include the element of tin. The etchant composition may minimize the damage of a lower metal film and may exhibit excellent etching characteristics in terms of etching rate, bias, residue, precipitation, and etching uniformity.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • C23F 1/16 - Compositions acides
  • C23F 1/30 - Compositions acides pour les autres matériaux métalliques

3.

ETCHING COMPOSITION FOR SILICON NITRIDE LAYER

      
Numéro d'application 18959645
Statut En instance
Date de dépôt 2024-11-26
Date de la première publication 2025-05-29
Propriétaire
  • ENF Technology Co., Ltd. (République de Corée)
  • SK hynix Inc. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Dong Hyun
  • Park, Hyeon Woo
  • Nam, Seok Hyeon
  • Kim, Nam Hee
  • Cho, Min Young
  • Oh, Tae Uk
  • Kim, Joo Hwan
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun
  • Oh, Eun Seok
  • Kang, Young Mee

Abrégé

The present disclosure relates to an etching composition for a silicon nitride layer, and the etching composition for a silicon nitride layer has a significantly excellent etching selectivity for a silicon nitride layer as compared to a silicon oxide layer, prevent abnormal growth of the silicon oxide layer, suppresses particle generation affecting characteristics of a semiconductor device, and has an excellent effect of a significantly small generation height of bubbles.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique

4.

STRIPPER COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING PATTERN USING THE SAME

      
Numéro d'application 18934215
Statut En instance
Date de dépôt 2024-10-31
Date de la première publication 2025-05-08
Propriétaire
  • Samsung Display Co., LTD. (République de Corée)
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Park, Kyu-Soon
  • Kim, Youngrok
  • Choung, Jong-Hyun
  • Cho, Woojin
  • Kim, Sehoon
  • Park, Jongmo
  • Yoon, Joonsik
  • Cho, Jangwoo

Abrégé

Provided is a stripper composition and a method for forming a pattern using the same. The stripper composition includes, in set content ranges, an amine compound, a glycol compound, an aprotic polar solvent excluding N-methyl-2-pyrrolidone and N-methylformamide, and a first corrosion inhibitor represented by Formula 1. The stripper composition according to an embodiment may be used in a process of removing a photoresist pattern formed on a lower film, and may supply characteristics of an excellent stripping power for photoresist and prevention or reduction of damage of the lower film.

Classes IPC  ?

  • G03F 7/42 - Élimination des réserves ou agents à cet effet
  • C11D 3/20 - Composés organiques contenant de l'oxygène
  • C11D 3/30 - AminesAmines substituées
  • C11D 3/32 - AmidesAmides substituées
  • G03F 7/30 - Dépouillement selon l'image utilisant des moyens liquides

5.

METHOD FOR MANUFACTURING FUNCTIONAL POLYMER BY ANIONIC POLYMERIZATION METHOD

      
Numéro d'application KR2024013162
Numéro de publication 2025/048579
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for manufacturing a functional polymer by an anionic polymerization method. The method for manufacturing a polymer according to the present invention can economically manufacture a polymer having high chemical uniformity, and enables an anionic polymerization reaction even at a relatively high temperature compared to the prior art.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/00 - Procédés de polymérisation
  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 12/22 - Oxygène
  • C08F 297/02 - Composés macromoléculaires obtenus en polymérisant successivement des systèmes différents de monomère utilisant un catalyseur de type ionique ou du type de coordination sans désactivation du polymère intermédiaire utilisant un catalyseur du type anionique
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés

6.

METHOD FOR MANUFACTURING FUNCTIONAL POLYMERS BY ANIONIC POLYMERIZATION

      
Numéro d'application KR2024013150
Numéro de publication 2025/048574
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for manufacturing functional polymers by anionic polymerization. The polymer manufacturing method according to the present invention can economically produce polymers having high chemical uniformity and enables an anionic polymerization reaction even at a relatively high temperature compared with the prior art.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 4/48 - MétauxHydrures métalliquesComposés organiques de métalLeur utilisation comme précurseurs de catalyseurs choisis parmi les métaux légers, le zinc, le cadmium, le mercure, le cuivre, l'argent, l'or, le bore, le gallium, l'indium, le thallium, les terres rares ou les actinides choisis parmi les métaux alcalins choisis parmi le lithium, le rubidium, le césium ou le francium
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 112/14 - Monomères ne contenant qu'un seul radical aliphatique non saturé contenant un cycle substitué par des hétéro-atomes ou des groupes contenant des hétéro-atomes
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone

7.

METHOD FOR MANUFACTURING FUNCTIONAL POLYMERS BY ANIONIC POLYMERIZATION

      
Numéro d'application KR2024013155
Numéro de publication 2025/048575
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for manufacturing functional polymers by anionic polymerization. The polymer manufacturing method according to the present invention can economically produce polymers having high chemical uniformity and enables an anionic polymerization reaction even at a relatively high temperature compared with the prior art.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 112/14 - Monomères ne contenant qu'un seul radical aliphatique non saturé contenant un cycle substitué par des hétéro-atomes ou des groupes contenant des hétéro-atomes
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone

8.

METHOD FOR MANUFACTURING FUNCTIONAL POLYMERS BY ANIONIC POLYMERIZATION

      
Numéro d'application KR2024013157
Numéro de publication 2025/048577
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for manufacturing functional polymers by anionic polymerization. The polymer manufacturing method according to the present invention can economically produce polymers having high chemical uniformity.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 112/14 - Monomères ne contenant qu'un seul radical aliphatique non saturé contenant un cycle substitué par des hétéro-atomes ou des groupes contenant des hétéro-atomes
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone

9.

METHOD FOR PRODUCING FUNCTIONAL POLYMER VIA ANIONIC POLYMERIZATION

      
Numéro d'application KR2024013168
Numéro de publication 2025/048581
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for producing a functional polymer via anionic polymerization. The method for producing a polymer according to the present invention can economically produce a polymer having high chemical uniformity and enables an anionic polymerization reaction even at a relatively high temperature compared to the prior art.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 4/48 - MétauxHydrures métalliquesComposés organiques de métalLeur utilisation comme précurseurs de catalyseurs choisis parmi les métaux légers, le zinc, le cadmium, le mercure, le cuivre, l'argent, l'or, le bore, le gallium, l'indium, le thallium, les terres rares ou les actinides choisis parmi les métaux alcalins choisis parmi le lithium, le rubidium, le césium ou le francium
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 112/14 - Monomères ne contenant qu'un seul radical aliphatique non saturé contenant un cycle substitué par des hétéro-atomes ou des groupes contenant des hétéro-atomes
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone

10.

METHOD FOR MANUFACTURING FUNCTIONAL POLYMER BY ANIONIC POLYMERIZATION

      
Numéro d'application KR2024013172
Numéro de publication 2025/048582
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for manufacturing a functional polymer by anionic polymerization. The method for preparing a polymer according to the present invention can economically manufacture a polymer having high chemical uniformity, and enables an anionic polymerization reaction even at a relatively high temperature compared to the prior art.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 4/48 - MétauxHydrures métalliquesComposés organiques de métalLeur utilisation comme précurseurs de catalyseurs choisis parmi les métaux légers, le zinc, le cadmium, le mercure, le cuivre, l'argent, l'or, le bore, le gallium, l'indium, le thallium, les terres rares ou les actinides choisis parmi les métaux alcalins choisis parmi le lithium, le rubidium, le césium ou le francium
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 112/14 - Monomères ne contenant qu'un seul radical aliphatique non saturé contenant un cycle substitué par des hétéro-atomes ou des groupes contenant des hétéro-atomes
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone

11.

METHOD FOR PREPARING FUNCTIONAL POLYMER BY USING ANIONIC POLYMERIZATION

      
Numéro d'application KR2024013178
Numéro de publication 2025/048584
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for preparing a functional polymer by using anionic polymerization. The method for preparing a polymer according to the present invention can economically prepare a polymer having high chemical uniformity, and enables an anionic polymerization reaction even at a relatively high temperature compared to that of a conventional method.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 4/48 - MétauxHydrures métalliquesComposés organiques de métalLeur utilisation comme précurseurs de catalyseurs choisis parmi les métaux légers, le zinc, le cadmium, le mercure, le cuivre, l'argent, l'or, le bore, le gallium, l'indium, le thallium, les terres rares ou les actinides choisis parmi les métaux alcalins choisis parmi le lithium, le rubidium, le césium ou le francium
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 112/14 - Monomères ne contenant qu'un seul radical aliphatique non saturé contenant un cycle substitué par des hétéro-atomes ou des groupes contenant des hétéro-atomes
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone

12.

METHOD FOR MANUFACTURING FUNCTIONAL POLYMERS BY ANIONIC POLYMERIZATION

      
Numéro d'application KR2024013182
Numéro de publication 2025/048586
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2024-09-02
Date de publication 2025-03-06
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • UBMATERIALS INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Jun-Ho
  • Eun, Hee-Chun
  • Kim, Jeong-Hwa
  • Wang, Ji-Yun

Abrégé

The present invention relates to a method for manufacturing functional polymers by anionic polymerization. The polymer manufacturing method according to the present invention can economically produce polymers having high chemical uniformity and enables an anionic polymerization reaction even at a relatively high temperature compared with the prior art.

Classes IPC  ?

  • C08F 2/01 - Procédés de polymérisation caractérisés par des éléments particuliers des appareils de polymérisation utilisés
  • C08F 4/48 - MétauxHydrures métalliquesComposés organiques de métalLeur utilisation comme précurseurs de catalyseurs choisis parmi les métaux légers, le zinc, le cadmium, le mercure, le cuivre, l'argent, l'or, le bore, le gallium, l'indium, le thallium, les terres rares ou les actinides choisis parmi les métaux alcalins choisis parmi le lithium, le rubidium, le césium ou le francium
  • C08F 2/06 - Solvant organique
  • C08F 112/14 - Monomères ne contenant qu'un seul radical aliphatique non saturé contenant un cycle substitué par des hétéro-atomes ou des groupes contenant des hétéro-atomes
  • B01J 19/00 - Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en généralAppareils appropriés
  • C08F 212/08 - Styrène
  • C08F 220/02 - Acides monocarboxyliques contenant moins de dix atomes de carboneLeurs dérivés
  • C08F 210/00 - Copolymères d'hydrocarbures aliphatiques non saturés contenant une seule liaison double carbone-carbone

13.

ENF

      
Numéro de série 98921239
Statut En instance
Date de dépôt 2024-12-24
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Classes de Nice  ?
  • 35 - Publicité; Affaires commerciales
  • 01 - Produits chimiques destinés à l'industrie, aux sciences ainsi qu'à l'agriculture

Produits et services

Business advisory services relating to catalysts for manufacturing industrial chemicals; Export agency services for the goods of others; Sales promotion for others for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Wholesale distributorships featuring alcohol; Business advisory services relating to surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Wholesale distributorships featuring surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Sales promotion for others for industrial chemicals and adhesives; Retail store services featuring surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Wholesale distributorships featuring chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Purchasing agents for surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Purchasing agents for dopants for use in manufacturing semiconductors; Retail store services featuring industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Wholesale distributorships featuring surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Retail store services featuring catalysts for manufacturing industrial chemicals; Purchasing agents for chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Retail store services featuring alcohol; Purchasing agents for industrial chemicals; Retail store services featuring surface coating chemicals for LCD panels; Sales promotion for others for surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Industrial chemicals sales promotion for others; Business advisory services relating to surface coating chemicals for LCD panels; Business advisory services relating to biotechnology reagents; Purchasing agents for industrial chemicals and adhesives; Wholesale distributorships featuring biotechnology reagents; Retail store services featuring industrial chemicals; Retail store services featuring chemicals for use in biotechnological manufacturing processes; Business advisory services relating to chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Wholesale distributorships featuring dopants for use in manufacturing semiconductors; Retail store services featuring dopants for use in manufacturing semiconductors; Wholesale distributorships featuring industrial chemicals; Wholesale distributorships featuring catalysts for manufacturing industrial chemicals; Business advisory and consultancy services relating to import-export agencies; Import agency services in the field of biotechnology reagents; Business advisory services relating to dopants for use in manufacturing semiconductors; Business advisory services relating to surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Purchasing agents for surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Business advisory services relating to industrial chemicals; Wholesale distributorships featuring for industrial chemicals and adhesives; Business advisory services for industrial chemicals and adhesives; Goods import-export agencies; Purchasing agents for catalysts for manufacturing industrial chemicals; Sales promotion for others for surface coating chemicals for LCD panels; Retail store services featuring chemicals for processing X-ray films; Wholesale distributorships featuring for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Business advisory services for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Alcohol purchasing agents; Import-export agencies in the field of energy; Retail store services featuring surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Wholesale distributorships featuring chemicals for use in biotechnological manufacturing processes; Sales promotion for others for surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Wholesale distributorships featuring surface coating chemicals for LCD panels; Purchasing agents for chemicals for processing X-ray films; Purchasing agents for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Retail store services featuring biotechnology reagents; Alcohol sales promotion for others; Purchasing agents for surface coating chemicals for LCD panels; Sales promotion for others in the field of catalysts for manufacturing industrial chemicals; Retail store services featuring industrial chemicals and adhesives; Retail store services featuring chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Sales promotion for others for chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Business advisory services relating to alcohol; Biotechnology reagent sales promotion for others; Sales promotion for others in the field of dopants for use in manufacturing semiconductors Hydrofluoric acid; Polymethyl methacrylate resin for manufacturing electronic parts; Synthetic resins, unprocessed; Chemicals, namely, photosensitizer for use in the manufacture of semiconductor circuit devices; Chemicals, namely, photo initiators for use in the manufacture of semiconductors, display panels and electronics parts; chemicals for use in manufacturing secondary batteries; Acrylic resins, unprocessed; Artificial resins, unprocessed; high purity chemical reagents for non-medical purposes for use in the electronic industry; Caustic soda for industrial purposes; Industrial chemicals in the form of polymerization monomer; Chemical fluorine compound; Catalyst for use in the manufacture of semiconductor circuit devices; Battery electrolytes solution for use in the manufacture of batteries; Battery electrolytes; chemicals for cathode materials for secondary batteries; Chemicals for use in life science biotechnological product development; Chemicals for use in biotechnological manufacturing processes; Unprocessed polyester resin for manufacturing electronic parts; Plastics, unprocessed; organic mineral acids; Chemicals used in industry for manufacturing electronic parts; Chemical preparations for use in industry; Etchants for use in the manufacture of semiconductors, display panels and electronic parts; Chemicals, namely, photographic sensitizers for use in the manufacture of semiconductors, display panels and electronic parts; Epoxy resins, unprocessed; Chemicals for manufacturing batteries; Industrial chemicals for use in manufacturing electronic parts; Industrial chemicals in the form of monomers for the production of plastic lenses; Biological preparations for use in biotechnology industry and science; Chemicals, namely, developers for semiconductor circuit devices; ammonia water; Industrial chemicals for pigment dispersion

14.

Etchant composition for silicon layer and etching method using the same

      
Numéro d'application 18068888
Numéro de brevet 12415955
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-12-20
Date de la première publication 2024-06-20
Date d'octroi 2025-09-16
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Oh, Jeong Sik
  • Kim, Hak Soo
  • Kim, Gi Young
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

Provided is an etchant composition for a silicon layer including: a fluoride-based compound; a nitrate-based compound; an acid mixture including a phosphoric acid-based inorganic acid and an organic acid; and a nitrosyl compound and capable of selectively etching the silicon layer with respect to a silicon oxide layer.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • H01L 21/306 - Traitement chimique ou électrique, p. ex. gravure électrolytique

15.

COMPOSITION FOR THE SELECTIVE ETCHING OF SILICON

      
Numéro d'application 18077509
Statut En instance
Date de dépôt 2022-12-08
Date de la première publication 2024-05-09
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Gi Young
  • Kim, Hak Soo
  • Oh, Jeong Sik
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

The present invention relates to a composition for selectively etching silicon on a surface on which a silicon oxide film (SiO2) and silicon (Si) are exposed. According to the present invention, it is possible to improve etch selectivity of silicon on the semiconductor surface.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor

16.

CLEANING AGENT COMPOSITION FOR SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHOD FOR CLEANING SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICES USING THE SAME

      
Numéro d'application 18487868
Statut En instance
Date de dépôt 2023-10-16
Date de la première publication 2024-05-09
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • SK hynix Inc. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Hye Ji
  • You, Jinho
  • Lee, Hag Sung
  • Lee, Myungho
  • Yim, Narae
  • Heo, Yu Jin
  • Kim, Keon Young
  • Choi, Yun Sun
  • Kang, Young Mee

Abrégé

The present disclosure relates to a cleaning agent composition for a substrate for a semiconductor device and a method for cleaning a substrate for a semiconductor device using the same. The cleaning agent composition contains a silicon-based compound represented by Formula 1 and an aprotic organic solvent with a dielectric constant of 10 or less, which can form a surface protective film capable of preventing collapse of the pattern even in a wet cleaning process of fine patterns with high aspect ratios, thereby providing a method for manufacturing a semiconductor device with an improved semiconductor manufacturing yield.

Classes IPC  ?

  • C11D 7/32 - Composés organiques contenant de l'azote
  • C11D 1/00 - Compositions détergentes formées essentiellement de composés tensio-actifsEmploi de ces composés comme détergents
  • C11D 3/16 - Composés organiques
  • C11D 7/26 - Composés organiques contenant de l'oxygène
  • C11D 7/28 - Composés organiques contenant un halogène
  • C11D 7/50 - Solvants
  • C11D 11/00 - Méthodes particulières pour la préparation de compositions contenant des mélanges de détergents
  • H01L 21/02 - Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives

17.

ETCHANT COMPOSITION OF TITANIUM LAYER AND ETCHING METHOD USING THE SAME

      
Numéro d'application 18157006
Statut En instance
Date de dépôt 2023-01-19
Date de la première publication 2023-09-28
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Park, Sang Seung
  • Kim, Yang Ryoung
  • Lee, Bo Yeon
  • Jeong, Min Gyeong
  • Kim, Se Hoon

Abrégé

Provided are an etchant composition of a titanium layer and a method using the same, which may selectively etch the titanium layer without affecting the quality of other layers during a process of manufacturing a semiconductor and a display device, and thus, may increase productivity and reliability with improved etching characteristics in a semiconductor manufacturing process.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • C09K 13/02 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un hydroxyde d'un métal alcalin
  • H01L 21/3213 - Gravure physique ou chimique des couches, p. ex. pour produire une couche avec une configuration donnée à partir d'une couche étendue déposée au préalable

18.

Etchant composition for titanium-containing metal layer and etching method using the same

      
Numéro d'application 18156969
Numéro de brevet 12385142
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-01-19
Date de la première publication 2023-09-14
Date d'octroi 2025-08-12
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Park, Sang Seung
  • Kim, Yang Ryoung
  • Lee, Bo Yeon
  • Jeong, Min Gyeong
  • Kim, Se Hoon

Abrégé

Provided are an etchant composition for a titanium-containing metal layer, and a method using the same, which may selectively etch the titanium-containing metal layer without affecting the quality of other films during a process of manufacturing semiconductor and display devices, and thus, may increase productivity and reliability with improved etching characteristics in a semiconductor manufacturing process.

Classes IPC  ?

  • C23F 1/40 - Compositions alcalines pour les autres matériaux métalliques
  • H01L 21/02 - Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives
  • H01L 21/3205 - Dépôt de couches non isolantes, p. ex. conductrices ou résistives, sur des couches isolantesPost-traitement de ces couches
  • H01L 21/3213 - Gravure physique ou chimique des couches, p. ex. pour produire une couche avec une configuration donnée à partir d'une couche étendue déposée au préalable

19.

COMPOSITION FOR THE SELECTIVE ETCHING OF SILICON

      
Numéro d'application 18077499
Statut En instance
Date de dépôt 2022-12-08
Date de la première publication 2023-07-06
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Oh, Jeong Sik
  • Kim, Tae Ho
  • Kim, Gi Young
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

The present invention relates to a composition for selectively etching silicon on a surface on which a metal film and silicon (Si) are exposed. The present invention relates to a composition for selectively etching silicon on a surface on which a metal film and silicon (Si) are exposed. According to the present invention, it is possible to improve etch selectivity of silicon on the semiconductor surface on which the metal film and silicon are exposed.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • H01L 21/311 - Gravure des couches isolantes

20.

Etchant composition for indium oxide film or silver-containing metal film and method for preparing the same

      
Numéro d'application 17994173
Numéro de brevet 12319860
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-11-25
Date de la première publication 2023-06-01
Date d'octroi 2025-06-03
Propriétaire
  • Samsung Display Co., Ltd. (République de Corée)
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Hyoungsik
  • Park, Jonghee
  • Kim, Sehoon
  • Lee, Boyeon
  • Kim, Yangryeong
  • Jung, Seokil
  • Kim, Ikjoon
  • Park, Sangseung
  • Noh, Wonho
  • Jeong, Mingyeong

Abrégé

An etchant composition is disclosed that provides selective etching of an indium oxide film or a sliver-containing metal layer. The etchant composition includes nitric acid, an organic acid, a sulfur compound, and a tin compound. The organic acid does not include the elements of sulfur and tin. The sulfur compound does not include the element of tin. The etchant composition may minimize the damage of a lower metal film and may exhibit excellent etching characteristics in terms of etching rate, bias, residue, precipitation, and etching uniformity.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • C23F 1/16 - Compositions acides
  • C23F 1/30 - Compositions acides pour les autres matériaux métalliques

21.

COMPOSITION FOR TREATING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE

      
Numéro d'application 17871094
Statut En instance
Date de dépôt 2022-07-22
Date de la première publication 2023-03-23
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Oh, Jeong Sik
  • Kim, Tae Ho
  • Kim, Gi Young
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

The present invention relates to a composition for treating a semiconductor substrate, and particularly to a composition for treating an edge portion of a wafer coated with polysilazane. The present invention relates to a composition for treating a semiconductor substrate, and particularly to a composition for treating an edge portion of a wafer coated with polysilazane. According to the composition for treating a semiconductor substrate according to the present invention, it is possible to uniformly maintain the quality of the composition in terms of management and to uniformly treat the boundary of the wafer in terms of processing. In addition, by improving the straightness of the boundary portion where polysilazane is removed, it is possible to significantly reduce the defect rate of the product and to stably improve the productivity yield.

Classes IPC  ?

  • C11D 1/00 - Compositions détergentes formées essentiellement de composés tensio-actifsEmploi de ces composés comme détergents
  • C11D 11/00 - Méthodes particulières pour la préparation de compositions contenant des mélanges de détergents
  • C11D 3/43 - Solvants
  • C11D 3/18 - Hydrocarbures

22.

COMPOSITION FOR THE SELECTIVE ETCHING OF SILICON

      
Numéro d'application 17903104
Statut En instance
Date de dépôt 2022-09-06
Date de la première publication 2023-03-23
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • SK hynix Inc. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Oh, Jeong Sik
  • Kim, Tae Ho
  • Kim, Gi Young
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun
  • Kang, Pilgu
  • Kang, Youngmee
  • Oh, Eunseok

Abrégé

The present invention relates to a composition for selectively etching silicon on a surface on which a metal film and silicon (Si) are exposed. The present invention relates to a composition for selectively etching silicon on a surface on which a metal film and silicon (Si) are exposed. According to the present invention, it is possible to improve etch selectivity of silicon on the semiconductor surface on which the metal film and silicon are exposed.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • H01L 21/306 - Traitement chimique ou électrique, p. ex. gravure électrolytique

23.

COMPOSITION FOR THE SELECTIVE ETCHING OF SILICON

      
Numéro d'application 17894516
Statut En instance
Date de dépôt 2022-08-24
Date de la première publication 2023-03-09
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Gi Young
  • Kim, Tae Ho
  • Oh, Jeong Sik
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

The present invention relates to a composition for selectively etching silicon on a surface on which a metal film and silicon (Si) are exposed. The present invention relates to a composition for selectively etching silicon on a surface on which a metal film and silicon (Si) are exposed. According to the present invention, it is possible to improve etch selectivity of silicon on the semiconductor surface on which the metal film and silicon are exposed.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor

24.

COMPOSITION FOR PHOTORESIST STRIPPER

      
Numéro d'application 17844107
Statut En instance
Date de dépôt 2022-06-20
Date de la première publication 2023-01-19
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Hye Ji
  • You, Jin Ho
  • Cho, Namgi

Abrégé

The present invention relates to a stripper composition for removing a photoresist in a process of manufacturing a semiconductor device. The present invention relates to a stripper composition for removing a photoresist in a process of manufacturing a semiconductor device. According to the present invention, it is possible to prevent corrosion of the underlying film while improving the peeling force for the photoresist, and to improve the stability of the composition over time.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/00 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage
  • C09K 15/30 - Compositions anti-oxydantesCompositions inhibant les modifications chimiques contenant des composés organiques contenant un hétérocycle avec au moins un azote comme membre du cycle
  • G03F 7/42 - Élimination des réserves ou agents à cet effet

25.

Etching composition

      
Numéro d'application 17739489
Numéro de brevet 12134724
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-05-09
Date de la première publication 2022-12-22
Date d'octroi 2024-11-05
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Oh, Jeong Sik
  • Kim, Tae Ho
  • Kim, Gi Young
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

Silicon etching compositions are described and may be used for selectively etching silicon with respect to a silicon insulating film. In particular, the silicon etching compositions can be used to improve the selective etching ratio of silicon from the surface of a semiconductor on which a silicone oxide film and silicon are exposed.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor

26.

Etching composition for metal nitride layer and etching method using the same

      
Numéro d'application 17805332
Numéro de brevet 12031077
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-06-03
Date de la première publication 2022-12-15
Date d'octroi 2024-07-09
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Park, Hyeon Woo
  • Nam, Seok Hyeon
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

The present disclosure provides an etching composition for a metal nitride layer and an etching method of a metal nitride layer using the same, and more particularly, to an etching composition for a metal nitride layer selectively etching the metal nitride layer, an etching method of a metal nitride layer using the etching composition, and a method of manufacturing a microelectronic device, the method including an etching process performed using the etching composition.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/10 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du bore
  • C09K 13/00 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage
  • C09K 13/04 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique
  • C23F 1/00 - Décapage de matériaux métalliques par des moyens chimiques
  • C23F 1/14 - Compositions aqueuses
  • C23F 1/16 - Compositions acides
  • C23F 1/44 - Compositions pour enlever des matériaux métalliques d'un substrat métallique de composition différente
  • H01L 21/306 - Traitement chimique ou électrique, p. ex. gravure électrolytique
  • H01L 21/3213 - Gravure physique ou chimique des couches, p. ex. pour produire une couche avec une configuration donnée à partir d'une couche étendue déposée au préalable

27.

Etching composition

      
Numéro d'application 17737636
Numéro de brevet 12134723
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-05-05
Date de la première publication 2022-12-01
Date d'octroi 2024-11-05
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Tae Ho
  • Oh, Jeong Sik
  • Kim, Gi Young
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

Silicon etching compositions are described and may be used for selectively etching silicon with respect to a silicon insulating film. In particular, the silicon etching compositions can be used to improve the selective etching ratio of silicon from the surface of a semiconductor on which a silicone oxide film and silicon are exposed.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • C01B 33/20 - Silicates
  • C07F 7/08 - Composés comportant une ou plusieurs liaisons C—Si
  • H01L 21/4757 - Post-traitement

28.

Etchant composition for semiconductor substrates

      
Numéro d'application 17660342
Numéro de brevet 12173216
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-04-22
Date de la première publication 2022-11-03
Date d'octroi 2024-12-24
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Oh, Jeong Sik
  • Kim, Hak Soo
  • Lee, Myung Ho

Abrégé

Provided is an etchant composition for a semiconductor substrate which may selectively etch a high-concentration doped layer of an extrinsic semiconductor, and according to the present disclosure, an etchant composition for a semiconductor substrate which, in etching an extrinsic semiconductor substrate including doped layers having different doping concentrations, may etch the high-concentration doped layer at a high selection ratio, and suppress bubble formation during an etching process to allow uniform and stable etching, an etching method using the same, and a manufacturing method of a semiconductor substrate may be provided.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • H01L 21/306 - Traitement chimique ou électrique, p. ex. gravure électrolytique

29.

Cleaning composition and cleaning method using the same

      
Numéro d'application 17447640
Numéro de brevet 11926807
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-09-14
Date de la première publication 2022-05-05
Date d'octroi 2024-03-12
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Her, Jun
  • Yim, Na Rae
  • Jung, Hyun Jin
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

A cleaning composition for removing post-etch or post-ash residues from a semiconductor substrate, and a cleaning method using the same are disclosed. The cleaning composition can comprise water; a fluorine compound; an alkanolamine compound; and a corrosion inhibitor. The corrosion inhibitor is a mixture of a first corrosion inhibitor and a second corrosion inhibitor. When using the cleaning composition, it is possible to efficiently remove the residues of various aspects existing on a surface of the substrate or the semiconductor device without damage to a substrate or a semiconductor device including various metal layers, insulating layers, etc. Accordingly, when a highly integrated and miniaturized semiconductor device is manufactured, it may be advantageously applied to the removal of residues generated on the surface of the substrate or the semiconductor device.

Classes IPC  ?

  • C11D 3/28 - Composés hétérocycliques contenant de l'azote dans le cycle
  • C11D 3/00 - Autres composés entrant dans les compositions détergentes couvertes par le groupe
  • C11D 3/04 - Composés inorganiques solubles dans l'eau
  • C11D 3/30 - AminesAmines substituées
  • C11D 3/33 - Acides aminocarboxyliques
  • C11D 3/43 - Solvants
  • C11D 7/32 - Composés organiques contenant de l'azote
  • C11D 11/00 - Méthodes particulières pour la préparation de compositions contenant des mélanges de détergents

30.

Silicon nitride film etching composition and etching method using the same

      
Numéro d'application 17446408
Numéro de brevet 11987740
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-08-30
Date de la première publication 2022-03-24
Date d'octroi 2024-05-21
Propriétaire ENF Technology Co., Ltd. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Dong Hyun
  • Park, Hyeon Woo
  • Hong, Sung Jun
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun
  • Kim, Hoon Sik
  • Ko, Jae Jung
  • Lee, Myong Euy
  • Hwang, Jun Hyeok

Abrégé

Provided are a silicon nitride film etching composition, a method of etching a silicon nitride film using the same, and a manufacturing method of a semiconductor device. Specifically, a silicon nitride film may be highly selectively etched as compared with a silicon oxide film, and when the composition is applied to an etching process at a high temperature and a semiconductor manufacturing process, not only no precipitate occurs but also anomalous growth in which the thickness of the silicon oxide film is rather increased does not occur, thereby minimizing defects and reliability reduction.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • H01L 21/311 - Gravure des couches isolantes

31.

Silicon nitride film etching composition and etching method using the same

      
Numéro d'application 17446414
Numéro de brevet 11939505
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-08-30
Date de la première publication 2022-03-24
Date d'octroi 2024-03-26
Propriétaire ENF Technology Co., Ltd. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Dong Hyun
  • Park, Hyeon Woo
  • Hong, Sung Jun
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun
  • Kim, Hoon Sik
  • Ko, Jae Jung
  • Lee, Myong Euy
  • Hwang, Jun Hyeok

Abrégé

Provided are a silicon nitride film etching composition, a method of etching a silicon nitride film using the same, and a manufacturing method of a semiconductor device. Specifically, a silicon nitride film may be stably etched with a high selection ratio relative to a silicon oxide film, and when the composition is applied to an etching process at a high temperature and a semiconductor manufacturing process, not only no precipitate occurs but also anomalous growth in which the thickness of the silicon oxide film is rather increased does not occur, thereby minimizing defects and reliability reduction.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • C23F 1/02 - Gravure locale
  • C23F 1/44 - Compositions pour enlever des matériaux métalliques d'un substrat métallique de composition différente
  • H01L 21/3213 - Gravure physique ou chimique des couches, p. ex. pour produire une couche avec une configuration donnée à partir d'une couche étendue déposée au préalable

32.

Etching composition and etching method using the same

      
Numéro d'application 16855864
Numéro de brevet 11091695
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-04-22
Date de la première publication 2020-10-29
Date d'octroi 2021-08-17
Propriétaire
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
  • SK HYNIX INC. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Hye Hee
  • Park, Hyeon Woo
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

Provided are an etching composition and an etching method using the same, and more particularly, an etching composition for selectively etching a metal nitride film, an etching method of the metal nitride film using the same, and a method of manufacturing a microelectronic device including a process performed using the same.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique

33.

Thinner composition

      
Numéro d'application 16555183
Numéro de brevet 11220659
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-08-29
Date de la première publication 2020-03-05
Date d'octroi 2022-01-11
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Du Won
  • Lee, Sang Dae
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

10 alkyl ether acetate.

Classes IPC  ?

  • C11D 7/50 - Solvants
  • G03F 7/42 - Élimination des réserves ou agents à cet effet
  • H01L 21/027 - Fabrication de masques sur des corps semi-conducteurs pour traitement photolithographique ultérieur, non prévue dans le groupe ou
  • C11D 11/00 - Méthodes particulières pour la préparation de compositions contenant des mélanges de détergents

34.

Silicon nitride layer etching composition and etching method using the same

      
Numéro d'application 16557680
Numéro de brevet 10982144
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-08-30
Date de la première publication 2020-03-05
Date d'octroi 2021-04-20
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Dong Hyun
  • Park, Hyeon Woo
  • Cho, Jang Woo
  • Kim, Tae Ho
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

Provided are a silicon nitride layer etching composition, and more specifically, a silicon nitride layer etching composition, capable of etching the silicon nitride layer at a high selectivity ratio relative to a silicon oxide layer by comprising a polysilicon compound in the etching composition, an etching method of a silicon nitride layer using the same, and a method of manufacturing a semiconductor device.

Classes IPC  ?

  • H01L 21/311 - Gravure des couches isolantes
  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • C09K 13/04 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique

35.

Silicon nitride layer etching composition

      
Numéro d'application 16416089
Numéro de brevet 11149201
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-05-17
Date de la première publication 2019-12-26
Date d'octroi 2021-10-19
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Dong Hyun
  • Park, Hyeon Woo
  • Lee, Du Won
  • Cho, Jang Woo
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun

Abrégé

Provided is a silicon nitride layer etching composition, and more specifically, a silicon nitride layer etching composition including two different silicon-based compounds in an etching composition to be capable of selectively etching a silicon nitride layer relative to a silicon oxide layer with a remarkable etch selectivity ratio and providing remarkable effects of suppressing generation of precipitates and reducing the abnormal growth of other layers existing in the vicinity, including the silicon oxide layer when the silicon nitride layer etching composition is used for an etching process and a semiconductor manufacturing process.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • H01L 21/311 - Gravure des couches isolantes
  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor

36.

Polysiloxane-based compound, silicon nitride layer etching composition including the same

      
Numéro d'application 16435315
Numéro de brevet 10920142
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-06-07
Date de la première publication 2019-12-19
Date d'octroi 2021-02-16
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Dong Hyun
  • Park, Hyeon Woo
  • Lee, Du Won
  • Cho, Jang Woo
  • Lee, Myung Ho

Abrégé

Provided are a polysiloxane-based compound, a selective etching composition with respect to a silicon nitride layer including the polysiloxane-based compound, and a method of manufacturing a semiconductor device including the etching composition. The silicon nitride layer etching composition including the polysiloxane-based compound may selectively etch the silicon nitride layer relative to a silicon oxide layer, and have a significantly excellent etch selectivity ratio, and a small change in etch rate and a small change in etch selectivity ratio with respect to the silicon nitride layer even when time for using the composition increases or the composition is repeatedly used.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • H01L 21/311 - Gravure des couches isolantes
  • C08G 77/28 - Polysiloxanes contenant du silicium lié à des groupes organiques contenant des atomes autres que le carbone, l'hydrogène et l'oxygène groupes contenant du soufre
  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • C08G 77/30 - Polysiloxanes contenant du silicium lié à des groupes organiques contenant des atomes autres que le carbone, l'hydrogène et l'oxygène groupes contenant du phosphore
  • C08G 77/04 - Polysiloxanes
  • C08G 77/26 - Polysiloxanes contenant du silicium lié à des groupes organiques contenant des atomes autres que le carbone, l'hydrogène et l'oxygène groupes contenant de l'azote

37.

Pre-treatment composition before etching SiGe and method of fabricating semiconductor device using the same

      
Numéro d'application 16139506
Numéro de brevet 10837115
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2018-09-24
Date de la première publication 2019-09-19
Date d'octroi 2020-11-17
Propriétaire
  • Samsung Electronics Co., Ltd. (République de Corée)
  • ENF Technology Co., Ltd. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Soojin
  • Lee, Hyo-Sun
  • Oh, Jung-Min
  • Lee, Hyosan
  • Kim, Donghyun
  • Kim, Haksoo
  • Oh, Jung Jae
  • Lee, Myung Ho

Abrégé

13 is independently hydrogen or (C1-C20)alkyl.

Classes IPC  ?

  • C23C 22/48 - Traitement chimique de surface de matériaux métalliques par réaction de la surface avec un milieu réactif laissant des produits de réaction du matériau de la surface dans le revêtement, p. ex. revêtement par conversion, passivation des métaux au moyen de solutions aqueuses au moyen de solutions aqueuses acides d'un pH < 6 ne contenant ni phosphates, ni composés du chrome hexavalent, ni fluorures ou fluorures complexes, molybdates, tungstates, vanadates ou oxalates
  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • H01L 21/02 - Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives
  • H01L 21/3213 - Gravure physique ou chimique des couches, p. ex. pour produire une couche avec une configuration donnée à partir d'une couche étendue déposée au préalable
  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • C09K 13/00 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage

38.

SILICON NITRIDE FILM ETCHING COMPOSITION

      
Numéro d'application KR2018003652
Numéro de publication 2018/182307
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2018-03-28
Date de publication 2018-10-04
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Dong Hyun
  • Park, Hyun Woo
  • Lee, Myung Ho
  • Song, Myung Geun
  • Jeong, Jin Bae

Abrégé

The present invention relates to a silicon nitride film etching composition, which can minimize the etching rate to a silicon oxide film, can selectively etch a silicon nitride film, leaves no particles on a substrate, and is stable at a high temperature.

Classes IPC  ?

  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique

39.

ETCHING SOLUTION COMPOSITION

      
Numéro d'application KR2017011332
Numéro de publication 2018/070837
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-10-13
Date de publication 2018-04-19
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Myung Han
  • Ahn, Ho Won
  • Kim, Se Hun

Abrégé

The present invention relates to an etching solution composition comprising: hydrogen peroxide; a cyclic or aromatic compound including in a molecule, any one or more selected from among oxygen, sulfur, and nitrogen; an amino carboxylic-based or amino phosphate-based compound; one or more compounds selected from among organic acids, inorganic acids, or salts thereof; an undercut inhibitor; and alkylamine including C4 or higher. The etching solution composition of the present invention controls over-etching at the interface between copper and molybdenum films during an etching process. Thus, the etching process is stable, and etching properties can be improved.

Classes IPC  ?

  • C23F 1/44 - Compositions pour enlever des matériaux métalliques d'un substrat métallique de composition différente
  • C09K 13/06 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique avec une substance organique
  • C09K 13/08 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du fluor
  • C09K 13/10 - Compositions pour l'attaque chimique, la gravure, le brillantage de surface ou le décapage contenant un acide inorganique contenant un composé du bore

40.

ENF

      
Numéro d'application 1397036
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2017-11-16
Date d'enregistrement 2017-11-16
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Classes de Nice  ?
  • 01 - Produits chimiques destinés à l'industrie, aux sciences ainsi qu'à l'agriculture
  • 35 - Publicité; Affaires commerciales
  • 36 - Services financiers, assurances et affaires immobilières

Produits et services

Caustic soda for industrial purposes; chemical preparations for use in industry; photoinitiators; synthetic resins, unprocessed; acrylic resins, unprocessed; epoxy resins, unprocessed; artificial resins, unprocessed; plastics, unprocessed; photosensitizer for semiconductor circuit devices; catalyst for semiconductor circuit devices; developers for semiconductor circuit devices (chemicals); fluorine compound; hydrofluoric acid; photographic sensitizers; chemicals for use in biotechnological manufacturing processes; biological preparations for use in biotechnology [other than medical]; chemicals for use in life science product development; etchant (chemical for industrial use); pigment dispersion (industrial chemicals); ammonia water; organic acids; chemicals for use in manufacturing secondary batteries; chemicals for cathode materials for secondary batteries; high purity chemical reagents for use in the electronic industry; stripper for manufacturing electronic parts (industrial chemicals); polyester resin for manufacturing electronic parts, unprocessed; thinner for manufacturing electronic parts (industrial chemicals); polymethyl methacrylate resin for manufacturing electronic parts; electrolytes for battery; electrolyte solution for battery production (chemical agent); chemicals for manufacturing batteries; industrial chemicals in the form of polymerization monomer; industrial chemicals in the form of monomers for the production of plastic lenses. Biotechnology reagent wholesaler; biotechnology reagent retail; business intermediary services relating to biotechnology reagents; biotechnology reagent sales agency; import agency services; export agency services; advisory and consultancy services relating to import-export agencies; import-export agencies in the field of energy; alcohol sales agency; alcohol purchase agency; alcohol wholesaler; alcohol retail; business intermediary services relating to alcohol; wholesaler for industrial chemicals and adhesives; business intermediary services for industrial chemicals and adhesives; business intermediary services relating to catalysts for manufacturing industrial chemicals; wholesaler for catalysts for manufacturing industrial chemicals; retail for catalysts for manufacturing industrial chemicals; sales agency for catalysts for manufacturing industrial chemicals; business intermediary services relating to industrial chemicals; industrial chemicals sales agency; wholesaler for dopants for use in manufacturing semiconductor; business intermediary services relating to dopants for use in manufacturing semiconductor; purchase agency for dopants for use in manufacturing semiconductor; retail for dopants for use in manufacturing semiconductor; sales agency for dopants for use in manufacturing semiconductor; purchase agency for surface coating chemicals for LCD; wholesaler for surface coating chemicals for LCD; retail for surface coating chemicals for LCD; business intermediary services relating to surface coating chemicals for LCD; sales agency for surface coating chemicals for LCD; retail for surface coating chemicals for OLED; sales agency for surface coating chemicals for OLED; purchase agency for surface coating chemicals for OLED; wholesaler for surface coating chemicals for OLED; business intermediary services relating to surface coating chemicals for OLED; wholesaler for surface coating chemicals for PDP; business intermediary services relating to surface coating chemicals for PDP; purchase agency for surface coating chemicals for PDP; retail for surface coating chemicals for PDP; sales agency for surface coating chemicals for PDP; purchase agency for chemicals for processing X-ray films; retail for chemicals for processing x-ray films; purchase agency for industrial chemicals and adhesives; retail for industrial chemicals and adhesives; sales agency for industrial chemicals and adhesives; purchase agency for catalysts for manufacturing industrial chemicals; industrial chemicals retail; industrial chemicals purchase agency; industrial chemicals wholesaler; purchase agency for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; business intermediary services for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; wholesaler for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; retail for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; sales agency for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; purchase agency for chemical raw material for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor device; wholesaler for chemical raw material for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor device; retail for chemical raw material for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor device; business intermediary services relating to chemical raw material for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor device; sales agency for chemical raw material for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor device; goods import-export agencies; wholesaler for chemicals for use in biotechnological manufacturing processes; retail for chemicals for use in biotechnological manufacturing processes. Real estate agency services; appraisal and evaluation of real estate; appraisal of real estate; financial investment in the field of real estate; real estate lease and brokerage; real estate leasing and leasing contract services; real estate procurement for others; real estate evaluation and management.

41.

ENF

      
Numéro de série 79230119
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2017-11-16
Date d'enregistrement 2019-01-29
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Classes de Nice  ?
  • 35 - Publicité; Affaires commerciales
  • 36 - Services financiers, assurances et affaires immobilières
  • 01 - Produits chimiques destinés à l'industrie, aux sciences ainsi qu'à l'agriculture

Produits et services

Wholesale distributorships featuring biotechnology reagents; Retail store services featuring biotechnology reagents; Business advisory services relating to biotechnology reagents; Biotechnology reagent sales promotion for others; Import agency services in the field of biotechnology reagents; Export agency services for the goods of others; Business advisory and consultancy services relating to import-export agencies; Import-export agencies in the field of energy; Alcohol sales promotion for others; Alcohol purchasing agents; Wholesale distributorships featuring alcohol; Retail store services featuring alcohol; Business advisory services relating to alcohol; Wholesale distributorships featuring for industrial chemicals and adhesives; Business advisory services for industrial chemicals and adhesives; Business advisory services relating to catalysts for manufacturing industrial chemicals; Wholesale distributorships featuring catalysts for manufacturing industrial chemicals; Retail store services featuring catalysts for manufacturing industrial chemicals; Sales promotion for others in the field of catalysts for manufacturing industrial chemicals; Business advisory services relating to industrial chemicals; Industrial chemicals sales promotion for others; Wholesale distributorships featuring dopants for use in manufacturing semiconductors; Business advisory services relating to dopants for use in manufacturing semiconductors; Purchasing agents for dopants for use in manufacturing semiconductors; Retail store services featuring dopants for use in manufacturing semiconductors; Sales promotion for others in the field of dopants for use in manufacturing semiconductors; Purchasing agents for surface coating chemicals for LCD panels; Wholesale distributorships featuring surface coating chemicals for LCD panels; Retail store services featuring surface coating chemicals for LCD panels; Business advisory services relating to surface coating chemicals for LCD panels; Sales promotion for others for surface coating chemicals for LCD panels; Retail store services featuring surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Sales promotion for others for surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Purchasing agents for surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Wholesale distributorships featuring surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Business advisory services relating to surface coating chemicals for OLED (organic light-emitting diode) display panels; Wholesale distributorships featuring surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Business advisory services relating to surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Purchasing agents for surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Retail store services featuring surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Sales promotion for others for surface coating chemicals for plasma display panel (PDP) televisions; Purchasing agents for chemicals for processing X-ray films; Retail store services featuring chemicals for processing X-ray films; Purchasing agents for industrial chemicals and adhesives; Retail store services featuring industrial chemicals and adhesives; Sales promotion for others for industrial chemicals and adhesives; Purchasing agents for catalysts for manufacturing industrial chemicals; Retail store services featuring industrial chemicals; Purchasing agents for industrial chemicals; Wholesale distributorships featuring industrial chemicals; Purchasing agents for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Business advisory services for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Wholesale distributorships featuring for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Retail store services featuring industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Sales promotion for others for industrial chemicals and artificial resins, unprocessed; Purchasing agents for chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Wholesale distributorships featuring chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Retail store services featuring chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Business advisory services relating to chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Sales promotion for others for chemical raw materials for use in semiconductor thin film deposition for manufacturing semiconductor devices; Goods import-export agencies; Wholesale distributorships featuring chemicals for use in biotechnological manufacturing processes; Retail store services featuring chemicals for use in biotechnological manufacturing processes [ Real estate agency services; Appraisal and valuation of real estate; Appraisal of real estate; Financial investment in the field of real estate; Real estate lease and brokerage; Real estate leasing; Real estate procurement for others; Real estate assessment and management ] Caustic soda for industrial purposes; Chemical preparations for use in industry; Chemicals, namely, photo initiators for use in the manufacture of semiconductors, display panels and electronics parts; Synthetic resins, unprocessed; Acrylic resins, unprocessed; Epoxy resins, unprocessed; Artificial resins, unprocessed; Plastics, unprocessed; Chemicals, namely, photosensitizer for use in the manufacture of semiconductor circuit devices; Catalyst for use in the manufacture of semiconductor circuit devices; Chemicals, namely, developers for semiconductor circuit devices; Chemical fluorine compound; Hydrofluoric acid; Chemicals, namely, photographic sensitizers for use in the manufacture of semiconductors, display panels and electronic parts; Chemicals for use in biotechnological manufacturing processes; Biological preparations for use in biotechnology industry and science; Chemicals for use in life science biotechnological product development; Etchants for use in the manufacture of semiconductors, display panels and electronic parts; Industrial chemicals for pigment dispersion; ammonia water; organic mineral acids; chemicals for use in manufacturing secondary batteries; chemicals for cathode materials for secondary batteries; high purity chemical reagents for non-medical purposes for use in the electronic industry; Industrial chemicals for use in manufacturing electronic parts; Unprocessed polyester resin for manufacturing electronic parts; Chemicals used in industry for manufacturing electronic parts; Polymethyl methacrylate resin for manufacturing electronic parts; Battery electrolytes; Battery electrolytes solution for use in the manufacture of batteries; Chemicals for manufacturing batteries; Industrial chemicals in the form of polymerization monomer; Industrial chemicals in the form of monomers for the production of plastic lenses

42.

Copper etchant composition

      
Numéro d'application 15387456
Numéro de brevet 10577696
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-12-21
Date de la première publication 2017-06-22
Date d'octroi 2020-03-03
Propriétaire ENF Technology CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kim, Seul Ki
  • Kim, Se Hoon

Abrégé

Provided is a copper etchant composition including: a first organic acid containing one or more amine groups, and one or more carboxylic acid groups; a second organic acid; an amine compound; hydrogen peroxide; and a phosphate compound, which has the increased number of processing sheets and etching uniformity, when etching copper.

Classes IPC  ?

  • C23F 1/00 - Décapage de matériaux métalliques par des moyens chimiques
  • C23F 1/02 - Gravure locale
  • C23F 1/10 - Compositions de décapage
  • C23F 1/14 - Compositions aqueuses
  • C23F 1/16 - Compositions acides
  • C23F 1/18 - Compositions acides pour le cuivre ou ses alliages
  • C23F 1/44 - Compositions pour enlever des matériaux métalliques d'un substrat métallique de composition différente
  • C23F 1/46 - Régénération des compositions de décapage
  • C23F 4/00 - Procédés pour enlever des matériaux métalliques des surfaces, non couverts par le groupe ou
  • H01L 21/04 - Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives les dispositifs ayant des barrières de potentiel, p. ex. une jonction PN, une région d'appauvrissement ou une région de concentration de porteurs de charges
  • H01L 21/306 - Traitement chimique ou électrique, p. ex. gravure électrolytique
  • H01L 21/3213 - Gravure physique ou chimique des couches, p. ex. pour produire une couche avec une configuration donnée à partir d'une couche étendue déposée au préalable
  • H01L 21/768 - Fixation d'interconnexions servant à conduire le courant entre des composants distincts à l'intérieur du dispositif

43.

Cleaner composition

      
Numéro d'application 15187913
Numéro de brevet 09828575
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-06-21
Date de la première publication 2016-12-29
Date d'octroi 2017-11-28
Propriétaire ENF Technology Co., Ltd. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Heo, Jun
  • Jeong, Hyuncheol

Abrégé

The present invention relates to a cleaner composition. Specifically, the present invention relates to a cleaner composition that can be used to remove metal oxides and metal abrasive particles arising during metal polishing, such as chemical mechanical planarization (CMP). The cleaner composition has an improved ability to complex with metal abrasive particles. In addition, the cleaner composition maintains its ability to reduce metal abrasive particles, achieving improved stability. Therefore, the cleaner composition can be used for cleaning the surface of a metal with an increased ability to prevent corrosion of the metal surface.

Classes IPC  ?

  • C11D 7/32 - Composés organiques contenant de l'azote
  • C11D 11/00 - Méthodes particulières pour la préparation de compositions contenant des mélanges de détergents
  • H01L 21/02 - Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives
  • C11D 3/28 - Composés hétérocycliques contenant de l'azote dans le cycle
  • C11D 3/32 - AmidesAmides substituées

44.

Method for manufacturing high purity glycol based compound

      
Numéro d'application 14865493
Numéro de brevet 10040741
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-09-25
Date de la première publication 2016-10-13
Date d'octroi 2018-08-07
Propriétaire
  • Samsung Display Co., Ltd. (République de Corée)
  • ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Jeong, Jae Woo
  • Park, Hong Sick
  • Kim, Bong Kyun
  • Yoon, Seung Ho
  • Lee, Sang Dai
  • Park, Young Jin
  • Park, Hyo Won
  • Yun, Sang Moon

Abrégé

Provided is a method for manufacturing a glycol based compound. The method comprises agitating a mixture of a first glycol based compound, a hydrazide based compound, and a sulfonic acid based compound, and performing fractional distillation of resultant materials of the agitating to recover a second glycol based compound having a formaldehyde content of 0 ppm.

Classes IPC  ?

  • C07C 41/42 - SéparationPurificationStabilisationEmploi d'additifs par changement de l'état physique, p. ex. par cristallisation par distillation
  • C07C 41/46 - Emploi d'additifs, p. ex. pour la stabilisation
  • B01D 3/00 - Distillation ou procédés d'échange apparentés dans lesquels des liquides sont en contact avec des milieux gazeux, p. ex. extraction

45.

CATHODE ACTIVE MATERIAL FOR LITHIUM BATTERY HAVING POROUS STRUCTURE AND PREPARATION METHOD THEREFOR

      
Numéro d'application KR2015010801
Numéro de publication 2016/060451
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-10-14
Date de publication 2016-04-21
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Kang, Dosoon
  • Lee, Aram
  • Choi, Seungun
  • Mun, Jaewoong

Abrégé

A cathode active material for a lithium battery, according to the present invention, is a particle of a porous structure in which pores are distributed over the entire inner area of a secondary particle formed as an aggregate of a primary particle, wherein the distribution shape of the pores is formed to be radial so as to have a wide specific surface area such that the migration resistance of a lithium ion is reduced since an electrolyte can easily flow into the pores, thereby enabling the manufacture of a secondary battery having high-power characteristics.

Classes IPC  ?

  • H01M 4/36 - Emploi de substances spécifiées comme matériaux actifs, masses actives, liquides actifs
  • H01M 4/525 - Emploi de substances spécifiées comme matériaux actifs, masses actives, liquides actifs d'oxydes ou d'hydroxydes inorganiques de nickel, de cobalt ou de fer d'oxydes ou d'hydroxydes mixtes contenant du fer, du cobalt ou du nickel pour insérer ou intercaler des métaux légers, p. ex. LiNiO2, LiCoO2 ou LiCoOxFy
  • H01M 4/505 - Emploi de substances spécifiées comme matériaux actifs, masses actives, liquides actifs d'oxydes ou d'hydroxydes inorganiques de manganèse d'oxydes ou d'hydroxydes mixtes contenant du manganèse pour insérer ou intercaler des métaux légers, p. ex. LiMn2O4 ou LiMn2OxFy
  • H01M 10/052 - Accumulateurs au lithium

46.

MULTIPLE LINE-LASER ANNEALING APPARATUS

      
Numéro d'application KR2013004268
Numéro de publication 2013/172635
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-05-14
Date de publication 2013-11-21
Propriétaire ENC TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Seong Weon
  • Kim, Young Hun

Abrégé

The present invention relates to a multiple line-laser annealing apparatus. The objective of the present invention is to obtain multiple line-laser light uniformly distributed all over and enable base materials having different local annealing conditions to be treated at the same time, to thus improve the productivity of an annealing process. To this end, the multiple line-laser annealing apparatus according to the present invention comprises: at least one primary light source unit; at least one secondary light source unit for convert the laser beam generated by the primary light source unit into multiple linear lasers; and a base plate for fixing an annealing base material such that the annealing base material can be annealed by the multiple lasers emitted by the secondary light source unit. Thus, the multiple line-laser annealing apparatus of the present invention is advantageous in that it can enable high optical efficiency and light of multiple lines that are uniformly distributed all over to be obtained, and base materials having different local annealing conditions to be treated at the same time, to thus improve the productivity of an annealing process.

Classes IPC  ?

  • C21D 1/34 - Méthodes de chauffage
  • H01L 21/324 - Traitement thermique pour modifier les propriétés des corps semi-conducteurs, p. ex. recuit, frittage

47.

LINE LASER MODULE

      
Numéro d'application KR2013004267
Numéro de publication 2013/172634
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-05-14
Date de publication 2013-11-21
Propriétaire ENC TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Lee, Seong Weon
  • Kim, Young Hun

Abrégé

The present invention relates to a line laser module. The main objective of the present invention is to obtain high optical efficiency and line light uniformly distributed as a whole and to allow little deviation in the uniformity of the light at the center and edge of the line laser. To this end, the line laser module according to the present invention comprises: at least one beam splitter arranged at one end of a light source so as to reflect and transmit the primary light from a primary light source unit; control mirrors symmetrically arranged so as to reflect the bifurcated light reflected and transmitted by the beam splitter; and a secondary light source unit for reflecting the light reflected by the control mirrors as amplified, uniformly-reflected light by constructive interference. Thus, the line laser module of the present invention is advantageous as it enables high optical efficiency to be obtained and line light uniformly distributed all over, and allows little deviation in the uniformity of the light at the center and edge of the line laser.

Classes IPC  ?

  • H01S 3/10 - Commande de l'intensité, de la fréquence, de la phase, de la polarisation ou de la direction du rayonnement, p. ex. commutation, ouverture de porte, modulation ou démodulation
  • G02B 5/08 - Miroirs

48.

ETCHANT COMPOSITION FOR COPPER/MOLYBDENUM ALLOY FILM

      
Numéro d'application KR2012009507
Numéro de publication 2013/077580
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2012-11-12
Date de publication 2013-05-30
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Shin, Hyoseop
  • Kim, Sehoon
  • Lee, Eunkyung
  • Jeong, Jinbae
  • Lee, Sangdai
  • Han, Dooseok

Abrégé

The present invention relates to an etchant composition for a copper/molybdenum alloy film, which comprises, with respect to the total weight of the composition, 0.01-5 wt% of peroxide, 0.01-5 wt% of a compound including nitrogen and sulfur atoms, 0.1-5 wt% of an organic acid, 0.1-5 wt% of a heterocyclic compound, 0.1-5 wt% of a chelate agent, 0.01-1 wt% of fluoride, and the balance as water to render the total weight of the composition 100% by weight. The etchant composition according to the present invention can be effectively used in the production of electrodes for TFT-LCD displays because the composition can maintain etching characteristics such as taper angle, CD loss, and etching linearity even when the amount of metal ions in the etchant becomes high due to the repetition of the etching process.

Classes IPC  ?

  • C23F 1/18 - Compositions acides pour le cuivre ou ses alliages
  • H01L 21/306 - Traitement chimique ou électrique, p. ex. gravure électrolytique
  • C23F 1/14 - Compositions aqueuses

49.

MOLYBDENUM-ALLOY-FILM AND INDIUM-OXIDE-FILM ETCHING-SOLUTION COMPOSITION

      
Numéro d'application KR2012009340
Numéro de publication 2013/073793
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2012-11-07
Date de publication 2013-05-23
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Shin, Hyoseop
  • Kim, Sehoon
  • Lee, Eunkyung
  • Ryu, Hyun Kyu

Abrégé

The present invention relates to an etching-solution composition for a molybdenum alloy film and an indium oxide film, and relates to an etching-solution composition for a molybdenum alloy film, an indium oxide film or a multilayer film of a molybdenum alloy film and an indium oxide film, wherein the composition comprises, with respect to the total weight of the composition, between 5 and 25 wt.% of hydrogen peroxide, between 0.1 and 2 wt.% of a corrosion inhibitor, between 0.1 and 2 wt.% of a fluorine-containing compound, between 0.1 and 2 wt.% of a chlorine-containing compound, between 0.1 and 5 wt.% of a hydrogen peroxide stabilizer and water to make the total weight of the entire composition up to 100 wt.%. The aim of the present invention is to provide an etching-solution composition which controls the production of precipitates when etching a molybdenum alloy film, an indium oxide film or a multilayer film of a molybdenum alloy film and an indium oxide film used in a TFT-LCD pixel electrode, such that the durability of etching equipment can be improved and the corrosion of copper used as the source and drain of a lower TFT is minimised.

Classes IPC  ?

  • C23F 1/44 - Compositions pour enlever des matériaux métalliques d'un substrat métallique de composition différente
  • C23F 1/26 - Compositions acides pour les métaux réfractaires
  • C23F 1/30 - Compositions acides pour les autres matériaux métalliques

50.

METHOD FOR ETCHING COPPER/MOLYBDENUM ALLOY FILM WITH INCREASED ETCHING CAPACITY OF ETCHANT

      
Numéro d'application KR2012006329
Numéro de publication 2013/025003
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2012-08-09
Date de publication 2013-02-21
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Shin, Hyoseop
  • Jeong, Jinbae
  • Kim, Sehoon
  • Lee, Eunkyung

Abrégé

The present invention relates to a method for increasing the etching capacity of a copper/molybdenum alloy film used in the manufacture of TFT-LCD. The method of the present invention can increase the etching capacity of an etchant by recovering the degradation of etching properties such as an etch rate, a taper profile, and etch linearity which are generated when etching is repeated using the etchant with the copper/molybdenum alloy film, thereby substantially reducing production costs for TFT-LCD, and the like.

Classes IPC  ?

51.

METHOD FOR PURIFYING ORGANIC SOLVENTS

      
Numéro d'application KR2010006100
Numéro de publication 2012/033240
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2010-09-08
Date de publication 2012-03-15
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Jeong, Hyun Cheol
  • Mun, Jae Woong
  • Jeong, Jin Bae
  • Bae, Eun Hyoung
  • Kang, Do Soon
  • Lee, Myung Ho

Abrégé

The present invention relates to a method for purifying waste organic solvents. An alkoxide-based compound is added to waste organic solvents containing propylene glycol monomethylether acetate produced in a display manufacturing process and the like and the obtained mixture is reacted, thereby recovering purified products of a high purity in a high yield through the change in the boiling points of impurities such as propionates and ketones.

Classes IPC  ?

  • C07C 67/60 - SéparationPurificationStabilisationEmploi d'additifs par traitement donnant lieu à une modification chimique
  • C07C 67/54 - SéparationPurificationStabilisationEmploi d'additifs par modification de l'état physique, p. ex. par cristallisation par distillation
  • C07C 69/708 - Éthers
  • C07B 63/00 - PurificationSéparation spécialement adaptée aux fins d'isolement des composés organiquesStabilisationEmploi d'additifs

52.

PHOTORESIST STRIPPER COMPOSITION

      
Numéro d'application KR2011003501
Numéro de publication 2011/142600
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2011-05-12
Date de publication 2011-11-17
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Park, Young Jin
  • Han, Doo Seok
  • Lee, Sang Dai
  • Shin, Hyoseop

Abrégé

A photoresist stripper composition comprising 0.5 to 5 % by weight of alkyl ammonium hydroxide; 60 to 90 % by weight of aprotic polar solvent; 0.1 to 3 % by weight of aromatic polyhydric alcohol; 0.1 to 5 % by weight of linear polyhydric alcohol; and 5 to 30 % by weight of water has an excellent capacity for stripping a positive and a negative photoresists, and dose not corrode a metal wiring under the photoresist.

Classes IPC  ?

  • G03F 7/42 - Élimination des réserves ou agents à cet effet

53.

METHOD FOR TREATING WASTE ORGANIC SOLVENTS

      
Numéro d'application KR2010002343
Numéro de publication 2010/120131
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2010-04-15
Date de publication 2010-10-21
Propriétaire ENF TECHNOLOGY CO., LTD. (République de Corée)
Inventeur(s)
  • Jeong, Jinbae
  • Mun, Jaewoong
  • Lee, Myungho
  • Jeong, Hyun Cheol
  • Kang, Do Soon

Abrégé

The present invention relates to a method for treating waste organic solvents which are generated in the process of manufacturing a display device. The method for treating waste organic solvents according to the present invention minimizes process trouble caused by the formation of a crosslinked structure by heat in the purification process of waste organic solvents, lowers the operation costs of equipment, and improves the recovery rate of organic solvents by suppressing the cross-linking polymerization of a negative photoresist component.

Classes IPC  ?

  • G03F 7/26 - Traitement des matériaux photosensiblesAppareillages à cet effet