- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/20008 - Détails de construction des appareils d’analyse, p. ex. caractérisés par la source de rayons X, le détecteur ou le système optique à rayons XLeurs accessoiresPréparation d’échantillons à cet effet
Détention brevets de la classe G01N 23/20008
Brevets de cette classe: 335
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 446 |
19 |
| Malvern PANalytical B.V. | 132 |
15 |
| The Boeing Company | 20139 |
14 |
| KLA Corporation | 1619 |
11 |
| Nottingham Trent University | 88 |
8 |
| Nuctech Company Limited | 1426 |
8 |
| Sigray, Inc. | 83 |
8 |
| Cranfield University | 92 |
7 |
| Shimadzu Corporation | 6202 |
6 |
| Canon Anelva Corporation | 683 |
6 |
| KLA-Tencor Corporation | 2543 |
6 |
| Rapiscan Systems, Inc. | 292 |
6 |
| Riken | 1690 |
6 |
| Proto Patents Ltd. | 15 |
6 |
| American Science and Engineering, Inc. | 106 |
5 |
| Arizona Board of Regents on behalf of Arizona State University | 2683 |
5 |
| Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation | 1669 |
5 |
| Tsinghua University | 5973 |
4 |
| Topcon Corporation | 1105 |
4 |
| UChicago Argonne, LLC | 926 |
4 |
| Autres propriétaires | 182 |