INOEX GmbH Innovationen und Ausruestungen fuer die Extrusionstechnik

Allemagne

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2022 1
2021 1
2020 1
Avant 2020 4
Classe IPC
G01B 11/06 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur pour mesurer l'épaisseur 5
G01N 21/3581 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge lointainCouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant un rayonnement térahertz 5
G01B 11/02 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur 2
G01B 11/24 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer des contours ou des courbes 2
G01N 21/88 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures 2
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Résultats pour  brevets

1.

THz measuring device and THz measuring method for determining defects in measuring objects

      
Numéro d'application 17276293
Numéro de brevet 11835467
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-08-28
Date de la première publication 2022-02-24
Date d'octroi 2023-12-05
Propriétaire INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK (Allemagne)
Inventeur(s) Klose, Ralph

Abrégé

b) of the measured object (2). Hereby, the THz-Receiver (14) may also transmit temporarily, in particular alternatingly. The user can adjust the measuring apparatus, whereby the position can be determined by an accelerometer (18) and temporal integration so as to obtain further measuring data.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/88 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
  • G01N 21/3581 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge lointainCouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant un rayonnement térahertz

2.

Measurement system and method for measuring a measurement object, in particular a plastic profile

      
Numéro d'application 17311134
Numéro de brevet 11874105
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-12-06
Date de la première publication 2021-12-09
Date d'octroi 2024-01-16
Propriétaire INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK (Allemagne)
Inventeur(s) Klose, Ralph

Abrégé

subsequently the control and evaluation device determines layer thicknesses between the boundary surfaces from the virtual model.

Classes IPC  ?

  • G01B 15/02 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons pour mesurer l'épaisseur
  • G01B 15/04 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons pour mesurer des contours ou des courbes
  • G01S 13/26 - Systèmes pour mesurer la distance uniquement utilisant la transmission de trains discontinus d'ondes modulées par impulsions dans lesquels les impulsions émises utilisent une onde porteuse modulée en fréquence ou en phase
  • G01S 13/90 - Radar ou systèmes analogues, spécialement adaptés pour des applications spécifiques pour la cartographie ou la représentation utilisant des techniques d'antenne synthétique
  • G01S 3/26 - Systèmes pour déterminer une direction ou une déviation par rapport à une direction prédéterminée utilisant une comparaison d'amplitude de signaux provenant successivement d'antennes ou de systèmes d'antennes réceptrices ayant des caractéristiques de directivité différemment orientées ou d'un système d'antenne ayant une caractéristique de directivité à orientation variant périodiquement provenant de différentes combinaisons de signaux venant d'antennes séparées, p. ex. en comparant la somme avec la différence les antennes séparées ayant des caractéristiques de directivité orientées différemment

3.

Terahertz measuring device and terahertz measuring method for measuring objects to be inspected

      
Numéro d'application 16628336
Numéro de brevet 11441892
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2018-07-04
Date de la première publication 2020-06-04
Date d'octroi 2022-09-13
Propriétaire INOEX GmbH Innovationen und Ausruestungen fuer die Extrusionstechnik (Allemagne)
Inventeur(s) Thiel, Marius

Abrégé

a controller and evaluation unit (3) for driving the transmitter and receiver unit (2) and evaluating measuring signals (M) of the transmitter and receiver unit (2). b) reflected on the test object (8) and puts it out to the controller and evaluation unit (3) for determining at least one layer thickness and/or one distance of the test object (8).

Classes IPC  ?

  • G01B 11/02 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
  • G01B 11/06 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur pour mesurer l'épaisseur
  • G01B 11/08 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer des diamètres
  • G01B 11/24 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer des contours ou des courbes
  • G01N 21/3581 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge lointainCouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant un rayonnement térahertz

4.

Terahertz measuring apparatus and terahertz measurement method for measuring a test object by means of a time-of-flight measurement

      
Numéro d'application 16310016
Numéro de brevet 10753866
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-06-16
Date de la première publication 2019-10-31
Date d'octroi 2020-08-25
Propriétaire INOEX GmbH Innovationen und Ausruestungen fuer die Extrusionstechnik (Allemagne)
Inventeur(s) Klose, Ralph

Abrégé

an evaluation unit (12) for determining a run-time of the terahertz radiation and at least one distance of the test object (2), b) and the synchronising signal (S1).

Classes IPC  ?

  • G01N 21/3581 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge lointainCouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant un rayonnement térahertz
  • G01B 11/06 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur pour mesurer l'épaisseur
  • G01N 21/952 - Inspection de la surface extérieure de corps cylindriques ou de fils

5.

Terahertz measurement device

      
Numéro d'application 16341485
Numéro de brevet 10753727
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-10-17
Date de la première publication 2019-10-03
Date d'octroi 2020-08-25
Propriétaire INOEX GmbH Innovationen und Ausruestungen fuer die Extrusionstechnik (Allemagne)
Inventeur(s)
  • Klose, Ralph
  • Boehm, Roland

Abrégé

a controller unit (10) for driving the transmitter and receiver unit (14) whereby it comprises, at a front end are (5), in particular, a moulded screen (5), a support contour (7) including several support points (P, P1, P2, P3, P4) for being applied to a curved surface (18) of the test object (20, 120, 220), for perpendicular positioning on the surface (18, 118, 218).

Classes IPC  ?

  • G01B 11/06 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur pour mesurer l'épaisseur
  • G01N 21/3581 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge lointainCouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant un rayonnement térahertz
  • G01S 13/88 - Radar ou systèmes analogues, spécialement adaptés pour des applications spécifiques
  • G01N 21/89 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures dans un matériau mobile, p. ex. du papier, des textiles
  • G01B 21/04 - Dispositions pour la mesure ou leurs détails, où la technique de mesure n'est pas couverte par les autres groupes de la présente sous-classe, est non spécifiée ou est non significative pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur en mesurant les coordonnées de points

6.

Terahertz measuring apparatus for measuring test object and a terahertz measurement method

      
Numéro d'application 16093186
Numéro de brevet 10514336
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-04-06
Date de la première publication 2019-04-11
Date d'octroi 2019-12-24
Propriétaire INOEX GmbH Innovationen und Ausruestungen fuer die Extrusionstechnik (Allemagne)
Inventeur(s) Thiel, Marius

Abrégé

The invention relates to a terahertz measuring device (1) for measuring a test object (7), comprising: a controller and evaluator device (12) for receiving and evaluating the signal amplitude (S). a) of the emitted terahertz radiation (3). An alternative measuring arrangement can reveal defects also by injecting the THz radiation at a right angle in that additional measuring peaks are detected which cannot be associated with the layer thickness measurement as such.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge
  • G01N 21/3581 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge lointainCouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant un rayonnement térahertz
  • G01B 11/24 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer des contours ou des courbes
  • G01N 21/88 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
  • G01B 11/06 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur pour mesurer l'épaisseur

7.

Terahertz measurement method and terahertz measuring apparatus for ascertaining a layer thickness or a distance of a measurement object

      
Numéro d'application 16062662
Numéro de brevet 10584957
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-12-12
Date de la première publication 2018-12-06
Date d'octroi 2020-03-10
Propriétaire INOEX GmbH Innovationen und Ausruestungen fuer die Extrusionstechnik (Allemagne)
Inventeur(s)
  • Thiel, Marius
  • Klose, Ralph

Abrégé

b) of the layer (3). a) is adjusted during the measurements or between the measurements and one of the multiple measurements is used for ascertaining the layer thickness (d). Preferably, the optical axis is adjusted continuously and/or periodically within an adjustment angle range (α) and in the process the multiple measurements are recorded, the measurement therefrom with maximum amplitude being used as the measurement for ascertaining the layer thickness.

Classes IPC  ?

  • G01B 11/245 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer des contours ou des courbes en utilisant plusieurs transducteurs fixes fonctionnant simultanément
  • G01B 11/02 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
  • G01B 11/06 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques optiques pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur pour mesurer l'épaisseur
  • G01N 21/3586 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge lointainCouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant un rayonnement térahertz par spectroscopie térahertz dans le domaine temporel [THz-TDS]