- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriquesmesure des variables magnétiques
- G01R 31/26 - Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
Détention brevets de la classe G01R 31/26
Brevets de cette classe: 4946
Historique des publications depuis 10 ans
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306
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349
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293
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315
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293
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303
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304
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293
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277
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111
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Advantest Corporation | 1696 |
179 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 47734 |
128 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 155224 |
123 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 47722 |
122 |
| Tokyo Electron Limited | 13617 |
118 |
| Texas Instruments Incorporated | 19636 |
112 |
| Infineon Technologies AG | 8382 |
93 |
| International Business Machines Corporation | 62325 |
68 |
| Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 425 |
64 |
| Fuji Electric Co., Ltd. | 5422 |
49 |
| Samsung Display Co., Ltd. | 38092 |
48 |
| Intel Corporation | 46737 |
43 |
| SK Hynix Inc. | 12267 |
42 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4620 |
42 |
| Robert Bosch GmbH | 43788 |
40 |
| Enplas Corporation | 882 |
40 |
| Changxin Memory Technologies, Inc. | 4926 |
38 |
| Renesas Electronics Corporation | 5862 |
37 |
| Teradyne, Inc. | 514 |
34 |
| Rohm Co., Ltd. | 6778 |
30 |
| Autres propriétaires | 3496 |