- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2055 - Analyse des diagrammes de diffraction
Détention brevets de la classe G01N 23/2055
Brevets de cette classe: 202
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 427 |
22 |
| The Regents of the University of California | 19812 |
7 |
| FEI Company | 937 |
4 |
| Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) | 2872 |
4 |
| Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 159 |
4 |
| KLA Corporation | 1512 |
4 |
| Bruker Technologies Ltd. | 87 |
4 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 14424 |
4 |
| ASML Netherlands B.V. | 7312 |
3 |
| California Institute of Technology | 3967 |
3 |
| Sigray, Inc. | 77 |
3 |
| Malvern PANalytical B.V. | 131 |
3 |
| Bruker AXS, LLC | 23 |
3 |
| Kioxia Corporation | 10272 |
3 |
| Nova Ltd. | 167 |
3 |
| Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 11358 |
2 |
| Sumitomo Chemical Company, Limited | 9009 |
2 |
| Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10837 |
2 |
| Tsinghua University | 5840 |
2 |
| Toray Industries, Inc. | 6891 |
2 |
| Autres propriétaires | 118 |